信息记录介质和信息记录/再现装置制造方法及图纸

一种信息记录介质１０１包括：具有第一表面Ａ和与第一表面Ａ相对的第二表面Ｂ的透明基片１０９；位于透明基片１０９的第一表面Ａ上的反射率减小装置１１０；以及，位于透明基片１０９的第二表面Ｂ上的信息记录层１２０。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种信息记录介质和一种信息记录/再现装置。图7显示了一个包括常规光盘508和向/从光盘508记录/再现信息的光头513的典型结构。光头513包括发射源501、分束器502、准直透镜503、物镜506、全息图器511和光检测器512。当再现记录在光盘508上的信息时，由发射源501发出的光束透射穿过分束器502，并由准直透镜503变成一个平行光束。该平行光束进入物镜506，并会聚在光盘508的信息记录层711上。通常，采用半导体激光器作为发射源501。当光盘508是CD时，半导体激光的发射波长处于大约780nm到大约810nm的范围内，当光盘508是DVD时，该发射波长处于大约630nm到大约670nm的范围内。光束由信息记录层711反射，并再次透射穿过物镜506和准直透镜503。然后，光束被分束器502反射，进入光检测器512。在光检测器512中，从光束检索出一个表示记录在光盘508上的信息的信息信号和一个用于跟踪的伺服信号。图8显示了入射在光盘508上的光束701。光束701包括垂直入射(即，入射角是0°)在光盘508的表面上的光708和以入射角α入射在光盘508上的光707和709。光束701会聚在信息记录层711上，以形成光点712。近年来，出于记录包括大容量动态图象数据等在内的多媒体数据的目的，需要增大记录在光盘508上的信息的密度。一种用于增大要记录在光盘508上的信息的密度的方法是减小在信息记录层711上形成的光点712的尺寸。光点712的直径φ由下面的表达式(1)表示φ＝k·λ/(NA) ....(1)其中，λ是光束701的波长(即，光707、708和709的波长)，k是一个常数，NA是物镜506(图7)的数值孔径。常数k是根据在入射光瞳处的光分布而确定的。当在入射光瞳的光分布均匀时，常数k较小，当在入射光瞳的光分布不均匀时(例如，入射光瞳周围的光比入射光瞳中间部分的光弱)，常数k较大。从表达式(1)可知，为了减小光点712的尺寸，需要(1)增大物镜的数值孔径NA；(2)使入射光瞳处的光均匀分布，以减小常数k；或(3)减小光束的波长λ。光束701的波长λ根据发射源(例如，半导体激光)501(如图7所示)的发射波长来确定。近年来，具有短发射波长的半导体激光、例如蓝色半导体激光被用来根据上述方法(3)减小光点的尺寸。然而，在常规光盘的情况下，当物镜的数值孔径NA增大时，入射在光盘表面上的光的最大可能入射角变大，反射率从而光的反射率变大，使得在入射光瞳的光分布不均匀。图9显示了入射在常规光盘508(图8)上的光的入射角与从光盘表面反射的光的反射率之间的关系。在图9中，显示了在S-偏振光(在图中由S表示)和P-偏振光(在图中由P表示)下，反射率相对于入射角度的关系曲线。值得注意的是，P-偏振光指的是具有平行于入射截面(即，包括光在其上入射的平面的法线和入射光的平面)的电矢量的偏振光，S-偏振光指的是具有垂直于入射截面的电矢量的偏振光。从图9看出，即使在S-偏振光和P-偏振光具有相同的入射角时，S-偏振光和P-偏振光各自的反射率也是彼此不同的。入射在物镜506(图7)上的光通常是圆偏振光，因此图8所示的光束701从光盘508的表面的平均反射率对应于S-偏振光和P-偏振光的反射率之间的一个中间值(在图中显示为(S+P)/2)。此后，除非特别指出，光的反射率指的是S-偏振光和P-偏振光的反射率之间的中间值((S+P)/2)。图9显示出当入射角在58°左右时P-偏振光和S-偏振光的反射率分别是大约0％和20％。请注意，最大可能入射角和物镜506的数值孔径NA彼此相关，从而使得最大可能入射角随着物镜506的数值孔径NA的增大而增大。最大可能入射角α＝58.2°对应于物镜506的数值孔径NA＝0.85。应该理解，在使用常规光盘508的情况下，当物镜506(图7)的数值孔径NA增大时(例如，当数值孔径NA增大到使入射角大于45°的程度时)，在图中显示为(S+P)/2的平均反射率会突然增大。较大的反射率意味着透射穿过光盘508并到达光点712的光较弱。因此，使用常规光盘508的情况下，当物镜506(图7)的数值孔径NA增大时，入射光瞳周围的光(例如，已经以最大可能入射角α进入光盘508并到达光点712的光)变弱。削弱入射光瞳周边的光等效于相对增大上述表达式(1)中的常数k的值。因此，增大数值孔径NA不能实现减小光点712的尺寸的效果。如上所述，采用常规光盘，光点不能足够小，因此不可能增大信息的记录密度。本专利技术在考虑到上述问题的基础上提出，其目的是提供一种能够增大信息的记录密度的信息记录介质。本专利技术的另一个目的是提供一种采用相同的信息记录介质的信息记录/再现装置。专利技术公开本专利技术的信息记录介质包括具有第一表面和与第一表面相对的第二表面的透明基片；位于透明基片的第一表面上的反射率减小装置；以及，位于透明基片第二表面上的信息记录层，其中，已经以从0°到最大可能入射角的范围内的入射角进入第一表面的光的透射穿过透明基片的部分被用于将信息记录到信息记录层或再现记录在信息记录层上的信息，并且其中反射率减小装置减小以最大可能入射角进入第一表面并由第一表面反射的光的反射率，从而达到上述目的。反射率减小装置可以包括一个透明薄膜层。薄膜层的厚度可以被设置为使以从0°到最大可能入射角的范围内的入射角进入透明基片的第一表面且被会聚、并由透明基片的第一表面反射的光的实质反射率最小。薄膜层的厚度可以被设置为使以最大可能入射角进入透明基片的第一表面并由透明基片的第一表面反射的光的反射率基本等于以0°入射角进入透明基片的第一表面并由透明基片的第一表面反射的光的反射率。薄膜层的厚度可以被设置为使以最大可能入射角进入透明基片的第一表面并由透明基片的第一表面反射的光的反射率最小。以最大可能入射角进入的光可以具有一个预定的波长λ，并且薄膜层的厚度可以被设置为基本满足t＝λ/(4·n·cosβ)，其中n是薄膜层的折射率，β是当最大可能入射角是α时满足sinα/sinβ＝n的角度。薄膜层的硬度可以大于透明基片的硬度。薄膜层的折射率可以小于透明基片的折射率。最大可能入射角可以是从大于或等于50°到小于或等于72°。以最大可能入射角进入的光可以具有一个预定的波长λ，反射率减小装置可以包括以二维方式排列在第二表面上的多个结构，多个结构中的每一个基本上是圆锥形或金字塔形的，并且其沿着第一表面的尺寸从大于或等于λ/4到小于或等于2λ以及自第一表面起的高度从大于或等于λ/2到小于或等于3λ。多个结构可以通过采用定型模转录(transcription)来形成。多个结构可以形成在一个叠压在透明基片第一表面上的由树脂材料形成的膜上。本专利技术的信息记录/再现装置包括上述信息记录介质；用于发射光的发射源；以及，光会聚装置，用于允许由发射源发射的光以一个从0°到最大可能入射角的范围内的入射角进入信息记录介质的第一表面，借以实现上述目的。最大可能入射角可以从大于或等于50°到小于或等于72°。图2是显示入射在本专利技术的光盘101(附图说明图1)上的光的入射角与从透明基片109的表面A反射的光的反射率之间的关系的示意图。图3是用于解释当薄膜层110的厚度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信息记录介质，包括：具有第一表面和与第一表面相对的第二表面的透明基片；位于透明基片的第一表面上的反射率减小装置；以及，位于透明基片的第二表面上的信息记录层，其中，已经以从０°到最大可能入射角的范围内的入射角进入第一表面并 透射穿过透明基片的部分光被用于将信息记录到信息记录层或再现记录在信息记录层上的信息，以及，其中，反射率减小装置减小以最大可能入射角进入第一表面并由第一表面反射的光的反射率。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：细美哲雄，荒井昭浩，中村徹，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]