记录装置和改善重写特性的方法制造方法及图纸

一种记录装置，它可利用一个光学拾取器将符号记录在可记录的记录介质上，该光学拾取器具有一个光源，和用于将从光源发出的光作为一个光点聚焦在记录介质的记录表面上的一个物镜；其特征为，当在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录和／或从一个记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种记录装置和方法，更具体地说，涉及一种记录装置和当在可重写的介质上记录一个符号时，改善重写特性的方法。
技术介绍
可重写的记录介质包括只可写一次的介质(例如CD-Rs，DVD-Rs)和可重写的记录介质(例如CD-RWs，DVD-RWs，DVD+RWs和DVD-RAMs)。根据在已经写上一个相位改变符号的区域上重写一个新的相位改变符号的方法，重写可以在可重写的记录介质(即相位改变记录介质)上进行。图1表示在速度因子为4和10(4x和10x)时，对于速度因子10(10x)根据在CD-RW光盘上进行重写的次数测量的跳动特性。在图1中，水平轴表示进行重写的次数，垂直轴表示相对于重写的跳动特性。图1表示相位改变符号的跳动测量结果，该结果是根据当在速度因子为1的脉冲宽度1T为220nsec(纳秒)时，在速度因子为1的速度下的重写次数得出的。跳动是指与记录符号的长度相适应的脉冲宽度，相对于标准脉冲宽度的偏移。如图1所示，跳动可用nsec表示。从图1可看出，当在速度因子为10下，对速度因子为10，在CD-RW光盘上进行重写时，写二次产生的跳动，与只写一次产生的跳动比较，增加了19nsec。跳动增加的原因是因为没有完全清除已记录的相位改变符号。跳动增加是不能再现数据的一个影响因素。
技术实现思路
本专利技术提供了一种记录装置，和当在可重写的记录介质上记录符号时，通过增加对已写入的相位改变符号的擦除速度，而改善重写特性的方法。根据本专利技术的一个方面，提供了一种记录装置，它可利用一个光学拾取器将符号记录在可记录的记录介质上，该光学拾取器具有一个光源，和用于将从光源发出的光作为一个光点聚焦在记录介质的记录表面上的一个物镜；当在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录和/或从一个记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。该光学拾取器可包括一个光点尺寸调节器；它可改变在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸；和一个控制器；它控制光点尺寸调节器，使在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录，和/或从一个记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。光点尺寸调节器与物镜组合，形成一体。光点尺寸调节器通过调节液晶的透射率，以改变物镜的有效数值孔径，来调节在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸。详细地说，光点尺寸调节器的结构是，液晶只安放在与物镜的周边相应的位置上，并且电极与该位置连接，以改变物镜的有效数值孔径。物镜用于改变在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸；和该记录装置还包括一个控制物镜的控制器，使得在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录，和/或从一个预定的记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。当在可重写的记录介质上记录时，使物镜散焦，以增加在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸。可重写的记录介质为相位改变的记录介质。详细地说可重写的记录介质为CD-RW，DVD-RW，DVD+RW，DVD-RAM，密度比DVD高的下一代可记录一次或多次的DVD中的一种；并且其特征在于，该可重写记录介质可用于在CD家族光盘，DVD家族光盘和下一代DVD家族光盘中的至少一种光盘上记录，和/或从该光盘上再现。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种通过使用光学拾取器，在可重写的记录介质上记录的方法，该光学拾取器具有一个光源，和一个用于将从光源发出的光作为一个光点聚焦在记录介质的记录表面上的物镜；在可重写的记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录，和/或从一个记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。可重写的记录介质为相位改变记录介质。更详细地说可重写的记录介质为CD-RW，DVD-RW，DVD+RW，DVD-RAM和密度比DVD高的下一代可重写一次或多次的DVD中的一种。附图说明本专利技术的上述特点和优点，通过参照附图对示例性实施例的详细说明，将会更加清楚。其中图1为表示在速度因子为4和10(4x和10x)时，根据速度因子为10(10x)下对在CD-RW光盘上进行重写的次数测量的跳动的图形；图2为使用根据本专利技术的一个实施例的光学拾取器的记录装置的示意图；图3为图2中的光点尺寸调节器的一个实施例的示意性平面图；图4为表示通过聚焦形成一个小光点的光点尺寸控制器的工作状态，和在再现记录介质与在可写一次的记录介质上记录过程中的前进光的宽度的图；图5为表示通过聚焦形成一个大光点的光点尺寸控制器的工作状态，和当在可重写的记录介质上记录一个符号时，前进光的宽度的变化的图；图6为使用根据本专利技术另一个实施例的光学拾取器的记录装置的示意图；图7为使用根据本专利技术的再一个实施例的光学拾取器的记录装置的示意图；图8为表示相应于在10x CD-RW光盘上记录的一个3T符号的一个相位改变符号的图；图9～14为表示在全宽的一半最大(FWHM)模式下，通过使用形成尺寸为262nm，267nm，279nm，300nm，350nm和450nm的光点，擦除图8所示的符号的结果的图；和图15为表示如图9～14所示那样，在用为获得在FWHM模式下，尺寸为262nm，267nm，279nm，300nm，350nm和450nm的光点所必需的散焦光量，擦除符号以后，将该符号剩余部分的尺寸，用图8所示的符号尺寸除所得出的结果的图。具体实施例方式图2为使用根据本专利技术的一个实施例的光学拾取器10的记录装置的示意图。参见图2可看出，该记录装置包括一个具有光源11、物镜15和一个光点尺寸调节器17的光学拾取器10和一个控制器20。物镜15将从光源11发出的光，在记录介质1的记录表面1a上，聚焦成一个光点。光点尺寸调节器17可以改变聚焦在记录介质1的记录表面1a上的光点的尺寸。控制器20控制光点尺寸调节器17，以调节光点的尺寸。最好，将光点尺寸调节器17与物镜15一起。安装在一个在聚焦方向，跟踪方向等上控制物镜15的作动器16中。这是因为最好是，光点尺寸调节器17的中心与物镜15的中心轴线一致。在图2中，光点尺寸调节器17安装在离开物镜15的地方。然而，光点尺寸调节器17可以安装在物镜15的一个透镜表面上，最好是面对光源11的透镜表面上，以形成一体。光点尺寸调节器17通过控制液晶的透射率，以调节聚焦在记录介质1的记录表面1a上的光点尺寸，可以改变物镜15的有效的数值孔径(NA)。更详细地说，如图3所示，光点尺寸调节器17有一个液晶区域17a，电极17b在与物镜15的周边区域相应的位置上，与该液晶区域连接，以改变物镜15的有效NA。控制器20控制光点尺寸调节器7，使得在可重写的记录介质(即相位改变的记录介质)上记录的过程中，聚焦在记录介质1的记录表面1a上的光点尺寸的增加得比在只可写一次的介质上记录和从记录介质上再现过程中的光点尺寸的增加多。如图4所示，在光点尺寸调节器17将电压加在液晶区域17a上，以控制液晶的透射率的情况下，控制器20将电压加在液晶区域17a上，使液晶的透射率达到最大，从而在从记录介质1上再现和在只可写一次的记录介质上记录的过程中，得到大的有效NA。又如图5所示，当在可重写的记录介质上记录时，控制器20将电压加在液本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种记录装置，它可利用一个光学拾取器将符号记录在可记录的记录介质上，该光学拾取器具有一个光源，和用于将从光源发出的光作为一个光点聚焦在记录介质的记录表面上的一个物镜；其特征为，当在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录和/或从一个记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。2.如权利要求1所述的记录装置，其特征为，该光学拾取器包括一个光点尺寸调节器；它可改变在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸；和一个控制器；它控制光点尺寸调节器，使在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录，和/或从一个记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。3.如权利要求2所述的记录装置，其特征为，光点尺寸调节器与物镜组合，形成一体。4.如权利要求2或3所述的记录装置，其特征为，光点尺寸调节器通过调节液晶的透射率，以改变物镜的有效数值孔径，来调节在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸。5.如权利要求4所述的记录装置，其特征为，光点尺寸调节器的结构是，液晶只安放在对应于物镜的周边的位置上，并且电极与该位置连接，以改变物镜的有效数值孔径。6.如权利要求1所述的记录装置，其特征为，物镜用于改变在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸；和该记录装置还包括一个控制物镜的控制器，使得在可重写的记录介质上记录时，在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸增加得比在只可写一次的记录介质上记录，和/或从一个预定的记录介质上再现时的光点尺寸的增加多。7.如权利要求1所述的记录装置，其特征为，当在可重写的记录介质上记录时，使物镜散焦，以增加在记录介质的记录表面上形成的光点尺寸。8.如权利要求1～3，6和7中任何一条所述的记录装置，其特征为，可重写的记录介质为相位改变的记录介质。9.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：金成洙，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：