数据记录装置的写录功率决定方法制造方法及图纸

技术编号:3064424 阅读:146 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种数据记录装置对记录载体的写录功率决定方法。首先,针对记录载体的内圈部分与外圈部分进行最佳功率检测,从而分别得到内圈最佳写录功率与外圈最佳写录功率。以此内圈最佳写录功率及外圈最佳写录功率作为此数据记录装置决定对此记录载体的内圈至外圈的写录功率时的参考依据。或是依据此内圈最佳写录功率、外圈最佳写录功率及数据记录装置由最低写录速度提升至最高写录速度的时间,平均决定数据记录装置的写录功率。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种,且特别有关于一种可以依据记录载体的内圈最佳写录功率与外圈最佳写录功率决定数据记录装置的写录功率的。(2)
技术介绍
近年来,在数据储存媒介的演进中,光储存媒介,如光盘片(CD)、可录式光盘片(CD-R、CD-RW)等扮演了一个很重要的地位。光储存媒介的兴起,取代了以往低容量、笨重的数据储存型态,使得数据可以在高容量且易于携带的轻薄盘片中进行记录与备份。图1为一光驱伺服系统的方块示意图。光学读取头11发射出激光光后由盘片10取得反射信号,此信号经由射频IC 12放大与处理后,将聚焦误差信号(FE)与循轨误差信号(TE)、以及其它相关数据与信号送入数字信号处理器(DSP)与微处理器(Micro Processor)13。微处理器13经过运算后,可以得到各伺服驱动信号,分别传送给各伺服机构(Servo)(聚焦伺服14、循轨与寻轨伺服15与主轴马达伺服16),以控制各受控驱动组件(聚焦致动器17、循轨致动器18、运输(Sled)马达19与主轴马达20),确保数据读取或写录的正确性。烧录过程中,数据是先由硬盘或是只读光驱通过集成驱动器电子电路(Integrated Drive Electronics,IDE)界面传送到主机,再由集成驱动器电子电路界面或小型计算机系统界面(Small Computer System Interface,SCSI)传送到烧录光驱的缓冲存储器(Buffer Memory)中。最后,烧录光驱把暂存在缓冲存储器里的数据,烧录到可录式光盘片上。在习知技术中,烧录光驱在以分区等线速度模式(zone constant linearvelocity mode;ZCLV mode)烧录可录式光盘片的过程中,烧录光驱通常是仅依据内圈的最佳写录功率及此烧录机数据库中预存对应于各时间区段的功率来将烧录光盘片的烧录速度逐渐提升至烧录光驱的最大烧录速度或使用者自订的烧录速度。图2是显示习知技术中以ZCLV模式烧录时烧录功率于不同时间区段中的变化情况,如图所示,在时间0~t1的区间中,烧录速度为16倍速;而在时间t1~t2的区间,烧录速度由16倍速提升为20倍速;在时间t2~t3的区间,烧录速度由20倍速提升为24倍速;而时间t3之后,烧录速度由24倍速提升为烧录光驱的最大烧录速度32倍速,且一直维持此烧录速度至烧录完毕。烧录光驱的光学读取头对记录载体的写录功率(激光光功率)是决定烧录成功或失败的重要关键之一。习知方法中,写录功率是仅依据记录载体的内圈最佳写录功率(Optimum Power Calibration;OPC)与事先储存记录于数据库中不同厂牌记录载体对应于各时间区段的功率差来决定。以图2的烧录速度为例,假设一A厂牌记录载体的内圈部分经过最佳功率检测(Optimum Power Calibration;OPC)之后,得到其内圈最佳写录功率为P0,且数据库中所记录烧录A厂牌记录载体时20倍速与16倍速的功率差为ΔP1;24倍速与16倍速的功率差为ΔP2;以及32倍速与16倍速的功率差为ΔP3。因此,当烧录光驱以16倍速烧录A厂牌记录载体时(0至t1时间区段),其写录功率为P0;以20倍速烧录A厂牌记录载体时(t1至t2时间区段),其写录功率为P0+ΔP1;以24倍速烧录A厂牌记录载体时(t2至t3时间区段),其写录功率为P0+ΔP2;以及以32倍速烧录A厂牌记录载体时(t3的后),其写录功率为P0+ΔP3。另外,图3显示另一习知烧录光驱的烧录速度的变化例子,如图所示,在烧录光驱由最低烧录速度提升至最高烧录速度的时间0~t4的区间中,烧录速度由16倍速平均地提升为烧录光驱的最大烧录速度32倍速,且一直维持此烧录速度至烧录完毕。然而,习知技术中常遇到的问题是由于每一记录载体的品质并不可能保持一致,举例来说,若每批记录载体或是同一记录载体中内外圈的染料不均匀或浓度不同时,仅依据内圈的最佳写录功率差来决定由内至外的写录功率,便会与实际所需的写录功率有所差距,进而容易导致写录失败的情况发生。并且,习知技术如图2所示,还须针对不同制造厂牌及不同盘片预先大费周章地建立于各时间区段(t1、t2、t3…)时的写录功率或功率差(ΔP1、ΔP2、ΔP3…)于数据库中。(3)
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的主要目的是提供一种记录装置的写录功率决定方法,其是动态地依据记录载体的内圈最佳写录功率与外圈最佳写录功率来决定数据记录装置的写录功率。为了达成本专利技术的上述目的,可藉由本专利技术所提供的来实现。依据本专利技术第一实施例的包括以下步骤。首先,针对记录载体的内圈部分与外圈部分进行最佳功率检测(OPC),从而分别得到内圈最佳写录功率与外圈最佳写录功率。以此内圈最佳写录功率及外圈最佳写录功率作为此数据记录装置决定对此记录载体的内圈至外圈的写录功率时的参考依据。当此记录载体为可烧录光盘时,此外圈是指引出区域(Lead-out Area),亦即如规格书中所规范的,由中心起算半径11.6cm至半径11.8cm的范围中。依据本专利技术第二实施例的包括以下步骤。首先,针对记录载体的内圈部分与外圈部分进行最佳功率检测,从而分别得到内圈最佳写录功率与外圈最佳写录功率。之后,依据数据记录装置由最低写录速度提升至最高写录速度的时间,以及内圈与外圈的最佳功率决定数据记录装置的写录功率。其中,数据记录装置可以是烧录光驱,且记录载体可以是可录式光盘片。为更清楚理解本专利技术的目的、特点和优点,下面将结合附图对本专利技术的较佳实施例进行详细说明。(4)附图说明图1为一光驱伺服系统的方块示意图。图2显示习知烧录光驱的烧录速度的变化例子。图3显示另一习知烧录光驱的烧录速度的变化例子。图4是显示依据本专利技术第一实施例的的流程图。图5是显示依据本专利技术第一实施例的写录功率的变化示意图。图6是显示依据本专利技术第二实施例的的流程图。图7是显示依据本专利技术第二实施例的写录功率的变化示意图。(5)具体实施方式图4是显示依据本专利技术第一实施例的的流程图。本专利技术实施例的可实施于烧录光驱(数据记录装置)上。首先,如步骤S40,针对记录载体的内圈部分进行最佳功率检测,从而得到一内圈最佳写录功率。之后,如步骤S42,针对记录载体的外圈部分进行最佳功率检测,从而得到一外圈最佳写录功率。其中,记录载体可以是可录式光盘片。最后,如步骤S44所示,以此内圈最佳写录功率及外圈最佳写录功率作为此数据记录装置决定对此记录载体的内圈至外圈的写录功率时的参考依据。以图5为例,假设数据记录装置依据时间进行烧录时具有四个分别以16倍速、20倍速、24倍速与32倍速的写录区域,且记录载体的内圈部分进行最佳功率检测所得到的内圈最佳写录功率为P1,记录载体的外圈部分进行最佳功率检测所得到的外圈最佳写录功率为P2。因此,此数据记录装置以此内圈最佳写录功率及外圈最佳写录功率作为决定对此记录载体写录时功率的参考依据,并且在分区等线速度模式下,可依据如下的实施例计算某区段写录功率=内圈最佳写录功率+(内、外圈最佳写录功率差)×[(该区段写录倍速-内圈的写录倍速)/(最终写录倍速-内圈写录倍速)]因此在本实施例中,若内圈最佳写录功率为P1且外圈最佳写录功率为P2且内圈的写录速度为16倍速,则对应20倍速的写录区域的本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种数据记录装置的写录功率决定方法,其特征在于,至少包含下列步骤:    (a)将一记录载体的内圈部分进行最佳功率检测,从而得到一内圈最佳写录功率;    (b)将该记录载体的外圈部分进行最佳功率检测,从而得到一外圈最佳写录功率;及    (c)以该内圈最佳写录功率及该外圈最佳写录功率作为该数据记录装置决定对该记录载体的内圈至外圈的写录功率时的参考依据。

【技术特征摘要】
1.一种数据记录装置的写录功率决定方法,其特征在于,至少包含下列步骤(a)将一记录载体的内圈部分进行最佳功率检测,从而得到一内圈最佳写录功率;(b)将该记录载体的外圈部分进行最佳功率检测,从而得到一外圈最佳写录功率;及(c)以该内圈最佳写录功率及该外圈最佳写录功率作为该数据记录装置决定对该记录载体的内圈至外圈的写录功率时的参考依据。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,用于一划分出多个写录区段的分区等线速度模式中,每一该写录区段对应于一写录倍速,其中,一写录区段依据上述步骤(a)至(c)所得的写录功率是上述内圈最佳写录功率+(上述内、外圈最佳写录功率差)×[(该写录区段的写录倍速-内圈的写录倍速)/(最终写录倍速-内圈的写录倍速)]。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述外圈是指所述记录载体的引出区域。4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该数据记录装置为一烧录光驱。5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该记录...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾宪钰李士杰刘庆华
申请(专利权)人:华硕电脑股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1