【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于调整激光射束的方法、用于提供经调整的激光射束的设备和光学布置
[0001]本专利技术涉及一种用于调整激光射束的方法,一种用于提供经调整的激光射束的设备以及一种光学布置、尤其是极紫外(EUV)辐射产生设备。
技术介绍
[0002]在穿过射束成形装置、即改变激光射束的至少一个光学特性的装置时,典型地,激光射束的射束质量也受到影响(通常变差)。在调整穿过这种射束成形装置的激光射束时,在射束成形装置中的多个光学边缘条件和干扰因子因此能够导致,将激光射束调整到设计参数的调整仅提供从射束成形装置出射的激光射束的不充足的射束质量。因此,这种射束成形装置为了实现良好的射束质量而通常根据经验地进行优化,也就是说,仅使用定性标准以进行调整,因为没有定量标准可使用。以这种方式,调整只能够由专家执行并且难以重现。
[0003]从US2013/0146569 A1中已知一种用于调整激光射束的方法,该激光射束在加工过程中作用在工件上。激光加工系统接收分配有射束质量特性的激光射束并且如此调整该激光射束,使得基于工件的特性、加工过程的特性或者二者的组合改变射束质量特性。射束质量特性例如能够涉及激光射束的衍射指数(M2值)或者射束参数乘积(Strahlparameterprodukt)。
技术实现思路
[0004]专利技术任务
[0005]本专利技术基于以下任务:提供用于调整激光射束的方法、用于提供经调整的激光射束的设备和光学布置,所述方法、设备和光学布置实现了基于客观的射束质量特性的调整。
[0006]专 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于调整激光射束(1)的方法,所述方法包括:借助探测器装置(6)的至少一个优选地点分辨的探测器(6a)来测量所述激光射束(1)在穿过射束成形装置(4)之后的射束轮廓(15,16);基于所测量的射束轮廓(15,16),求取所述激光射束(1)的射束质量特性(D,BPP,M2);以及调节可调设的光学器件(5),以便在进入所述射束成形装置(4)之前改变所述激光射束(1)的至少一个特性(x
P
,y
P
,δ);其中,为了调整所述激光射束(1),根据所求取的射束质量特性(D,BPP,M2)尤其是多次调节所述可调设的光学器件(5),优选直到所述射束质量特性(D,BPP,M2)达到预给定的值(D
S
,BPP
S
,M
S2
)。2.根据权利要求1所述的方法,其中,在调整所述激光射束(1)时,使所述射束质量特性(D,BPP,M2)最大化或者最小化。3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,求取所述射束轮廓(15,16)与预给定的射束轮廓、尤其是高斯射束轮廓(I
G
(x,y))的偏差(D,M2,BPP)作为射束质量特性。4.根据权利要求3所述的方法,其中,求取所述激光射束(1)在探测器(6a)上的强度分布(I(x,y))与预给定的强度分布、尤其是高斯强度分布(I
G
(x,y))的偏差(D)作为射束质量特性。5.根据权利要求4所述的方法,其中,在求取所述偏差(D)时,使所述预给定的强度分布(I
G
(x,y))的至少一个参数(I0,x0,y0,w0)发生变化。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,将射束参数乘积(BPP)或衍射指数(M2)确定为射束质量特性。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在调节所述可调设的光学器件(5)时,调设所述激光射束(1)的射束位置(x
P
,y
P
)、所述激光射束(1)的定向(δ)、所述激光射束(1)的焦散和/或所述激光射束(1)的像差。8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在调整所述激光射束(1)时,调节所述可调设的光学器件(5)的至少一个光学元件、尤其是至少一个反射镜(12a,b)和/或至少一个透镜(11b)。9.根据前述权利要求中任一项所述的法,其中,所述射束成形装置(4)选自包括光学放大器、光学隔离器、光学调制器、光学延迟路径、光学偏振器的组。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述射束成形装置、尤其是光学调制器(4)形式的射束成形装置和所述可调设的光学器件(5)都布置在激光谐振器(9)中。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在调整期间将所述激光射束(1)定向到探测器(6a)上,或者其中,将所述激...
【专利技术属性】
技术研发人员:J,
申请(专利权)人:通快激光系统半导体制造有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。