【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种介面电路系统,特别是指一种取样介面电路,在不同工作电压的芯片或电路之间,提供一个信号取样与保持的功能,并可在高压操作时,保护较低工作电压的芯片或电路。
技术介绍
当一信号经由一较高工作电压电路传送至一较低工作电压电路,在此二电路之间,必须有一介面电路,将此信号衰减至该较低工作电压电路所能容忍的范围。例如,一般光学读取头工作电压为5伏特,光驱控制芯片工作电压为3.3伏特。若将光学读取头输出的烧录电压(3.3伏特~5伏特)直接输入光驱控制芯片,则此光驱控制芯片在长时间工作后,其输入端3.3伏特制程的氧化层将会崩溃,造成芯片的永久毁损。已知技术如图1所示,光学读取头90有一电压输入101,其可为烧录电压及读片电压(1.4至2.8伏特)。利用第一分压电阻102及第二分压电阻103所组成的分压电路,将烧录电压衰减至3伏特以内以使光驱控制芯片100在可接受范围内,由于烧录电压经分压电路被控制在3伏特以下,所以可避免光驱控制芯片100输入端的氧化层发生崩溃。至于电压输入101产生的读片电压则透过光驱控制芯片输入端,如交换式运算放大器104,进行信号取样与 ...
【技术保护点】
一种光学读取头取样介面系统,其特征在于,包含:一光学读取头,输出一读片电压与一烧录电压之一;一P型金氧半导体PMOS,具有一第一源/漏极接收该读片电压与该烧录电压之一,一栅极接收一栅极电压,用以使该PMOS的一第二源/漏极与 该第一源/漏极为导通状态,一内部基底部分接收一控制电压;一提升电压电路,连接至该PMOS的栅极,用以提高该栅极电压到大于该控制电压,使该第一源/漏极与该第二源/漏极由导通状态切换到隔离状态,以阻隔该烧录电压;以及一取样保持电 路,连接至该第二源/漏极,对该读片电压进行取样保持。
【技术特征摘要】
1.一种光学读取头取样介面系统,其特征在于,包含一光学读取头,输出一读片电压与一烧录电压之一;一P型金氧半导体PMOS,具有一第一源/漏极接收该读片电压与该烧录电压之一,一栅极接收一栅极电压,用以使该PMOS的一第二源/漏极与该第一源/漏极为导通状态,一内部基底部分接收一控制电压;一提升电压电路,连接至该PMOS的栅极,用以提高该栅极电压到大于该控制电压,使该第一源/漏极与该第二源/漏极由导通状态切换到隔离状态,以阻隔该烧录电压;以及一取样保持电路,连接至该第二源/漏极,对该读片电压进行取样保持。2.如权利要求1所述的光学读取头取样介面系统,其中该该烧录电压大于该读片电压。3.如权利要求1所述的光学读取头取样介面系统,其中该烧录电压为3.3至5伏特,该读片电压为1.4至2.8伏特。4.如权利要求1所述的光学读取头取样介面系统,更包括一电阻一端连接于该内部基底部分,该电阻的另一端接收一工作电压。5.如权利要求4所述的光学读取头取样介面系统,其中该工作电压为3.3伏特。6.如权利要求1所述的光学读取头取样介面系统,更包括一取样电路,根据该读片电压与该烧录电压,产生一取样信号,用以控制该取样保持电路进行取样与提升电压电路阻隔该烧录电压。7.如权利要求6所述的光学读取头取样介面系统,其中该提升电压电路经由该取样信号控制一电容,以提高该P型金氧半导体的栅极电压到大于该控制电压。8.如权利要求7所述的光学读取头取样介面系统,其中该提升电压电路更包括一反向信号产生器,接收该取样信号,并产生一反向取样信号到该电容之一端,以及一逻辑传输电路,连接该电容的另一端与该PMOS的栅极,并接收一基准电压与该反向取样信号。9.如权利要求7所述的光学读取头取样介面系统,其中该逻辑传输电路包括一第一NMOS与一第二NMOS串联于该PMOS的栅极与一低电压之间,一第一PMOS连接于该PMOS的栅极与该电容的另一端之间,一第三NMOS连接于该电容的另一端与该基准电压之间,该第三NMOS栅极与第一PMOS栅极相连,一第二PMOS连接于该第一NMOS栅极与第一PMOS栅极之间,一第四NMOS连接于该第一PMOS栅极与该基准电压之间,该第二PMOS与第四NMOS的栅极接收该反向取样信号以及一反向器,输入端接收该反向取样信号,输出端连接到该第二NMOS的栅极。10.如权利要求1所述的光学读取头取样介面系统,其中该取样保持电路,为一交换式运算放大器SOP。11.一种光学读取头取样介面系统,其特征在于,包含一光学读取头,输出一读片电压与一烧录电压之一;一P型金氧半导体PMOS,具有一第一源/漏极接收该读片电压与该烧录电压之一,一栅极接收一栅极电压,用以控制该PMOS的一第二源/漏极与该第一源/漏极为导通状态,一内部基底部分连接到该第一源/漏极;一电压调整电路,连接至该PMOS的栅极,并接收一取样信...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘智民,
申请(专利权)人:威盛电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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