【技术实现步骤摘要】
本专利技术与光存储性能测试有关，特别是一种模块化蓝光光存储性能测试装置。主要用于蓝光一次写入、可擦重写等光存储材料存储特性的静态和准动态测试。
技术介绍
光存储现在已经成为很大的产业，其中一个重要发展趋势就是短波蓝光光存储。研究蓝光光存储材料，相应的测试装置必不可少。在先技术中，有一种光存储材料存储特征静态测试系统(参见专利技术专利“光存储材料存储特性静态测试系统”，申请号01126359.8)。该光存储材料存储特性静态测试系统具有相当的优点。尽管可以将功能扩充，对蓝光光存储性能进行测试，但是，仍然存在一些不足1)在对光存储材料存储特征进行静态测试时，样品是在步进电机的驱动下实现扫描，这种方式不利于记录点的重复观测和光存储特性测试的自动化；2)只能对光存储材料存储特性进行静态测试，对动态或准动态测试无能为力；3)该测试系统采用样品扫描方式进行测试，限制了测量系统的使用范围；并且模块化设计程度不高，不便于扩充升级和维护。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题在于克服了上述在先技术的不足，提供一种模块化蓝光光存储性能测试装置，它应具有模块化程度高、采用调制解调技术、纳米...
【技术保护点】
一种模块化蓝光光存储性能测试装置，其特征在于它由激光调制模块（１）、控制解调模块（２）、光电探测模块（３）、光点扫描模块（４）和观察显微模块（６）构成： 所述的激光调制模块（１）包括激光器（１０１），置于该激光器（１０１）光出射方向上依次是激光调制器（１０２）、小孔（１０５）和扩束镜（１０３），与该激光调制器（１０２）相连的激光调制控制器（１０４）； 所述的控制解调模块（２）包括信号发生器（２０１）、系统控制器（２０２）、和解调电路板（２０３），该信号发生器（２０１）分别与光调制器控制器（１０４）和解调电路板（２０３）相连，该系统控制器（２０２）的输出分别与信号...
【技术特征摘要】
1.一种模块化蓝光光存储性能测试装置，其特征在于它由激光调制模块(1)、控制解调模块(2)、光电探测模块(3)、光点扫描模块(4)和观察显微模块(6)构成所述的激光调制模块(1)包括激光器(101)，置于该激光器(101)光出射方向上依次是激光调制器(102)、小孔(105)和扩束镜(103)，与该激光调制器(102)相连的激光调制控制器(104)；所述的控制解调模块(2)包括信号发生器(201)、系统控制器(202)、和解调电路板(203)，该信号发生器(201)分别与光调制器控制器(104)和解调电路板(203)相连，该系统控制器(202)的输出分别与信号发生器(201)、光点扫描模块(4)的扫描器(401)相连，该解调电路板(203)的输出接系统控制器(202)；所述的光点探测模块(3)包括光电探测器(301)和置于扩束镜(103)光出射方向上的偏振分光镜(302)，该偏振分光镜(302)的反射光路上置有四分之一波片(303)，四分之一波片(303)的长轴方向与入射偏振光偏振方向成45°，扩束镜(103)出射的线偏振光被偏振分光镜(302)反射后，经过四分之一波片(303)转化为圆偏振光，射向观察显微模块(6)中的光谱分光镜(602)，光谱分光镜(602)对于工作波长蓝光具有高反射率，对于其他波长光为高透射率，在激光光束被光谱分光镜(602)反射的反射光前进方...
【专利技术属性】
技术研发人员：高秀敏，徐文东，干福熹，周飞，张锋，杨金涛，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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