【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种判断数据储存品质的方法，尤其涉及一种与储存于光盘片上数据有关的。
技术介绍
由于光盘片保存或使用的情形不一而定，再加上原始的数据烧录品质参差不齐，因此，对于任一光盘读取系统而言，如何能准确地侦测出光盘读取信号中各种信号瑕疵(defect)部分，以避免后续的信号处理程序受到影响，显已成为本
技术人员所欲努力达成的目标。请参阅图1，其为设于一光盘读取系统中的读写头HD的一般较佳内部结构示意图。至于该光盘读取系统的详细内部结构以及该读写头HD如何输出雷射光学信号至光盘片以形成光学反射信号等等的技术细节，因皆为一公知技术且非本专利技术所欲关心的重点，故在此即不予以赘述。于图1中，该读写头HD至少包括主读写头M(具有的4个信号接收区域A～B)、第一侧读写头B1(具有的2个信号接收区域E、G)以及第二侧读写头B2(亦具有的2个信号接收区域F、H)等。由于该读写头HD共计有8个信号接收区域A～H，故当该读写头HD所输出的雷射光学信号被光盘片中的某一段数据储存区域反射而形成光学反射信号后，将可由该8个信号接收区域A～H进行接收读取。其中，主读写头M所具...
【技术保护点】
一种判断光盘数据储存品质的方法，包括下列步骤： 输入一光盘读取信号；其中，该光盘读取信号由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合成； 将该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号减去该主读写头光学信号，取得一第一品质判别信号；以及 因应该第一品质判别信号的信号变化，以判别该数据储存区域的数据储存品质。
【技术特征摘要】
1.一种判断光盘数据储存品质的方法，包括下列步骤输入一光盘读取信号；其中，该光盘读取信号由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合成；将该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号减去该主读写头光学信号，取得一第一品质判别信号；以及因应该第一品质判别信号的信号变化，以判别该数据储存区域的数据储存品质。2.根据权利要求1所述的方法，其中该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号，为一侧光束加成信号，且该侧光束加成信号减去该主读写头光学信号后所得到的该第一品质判别信号，为一射频脉动信号。3.根据权利要求2所述的方法，其中因应该光盘读取信号处于一数据断裂状态时，该第一品质判别信号的电平低于一第一参考电平，以使一品质显示信号处于一第一数据储存品质状态。4.根据权利要求3所述的方法，其中该品质显示信号为一瑕疵显示信号，且该第一数据储存品质状态为一高电平状态，以使一电平区别信号因应处于该第一数据储存品质状态的该品质显示信号，暂停一电平追踪动作。5.根据权利要求4所述的方法，其中该电平区别信号为该光盘读取信号于执行一模拟转数字程序时所使用的一电平切割信号。6.根据权利要求3所述的方法，其中于该光盘读取信号处于一严重刮伤状态及/或一轻微刮伤状态时，该第一品质判别信号的电平皆因应该严重刮伤状态及/或轻微刮伤状态而低于该第一参考电平，以使该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态。7.根据权利要求2所述的方法，其中该侧光束加成信号为一第二品质判别信号，以使一品质显示信号同时因应该第一及第二品质判别信号的信号变化而处于一第一或第二数据储存品质状态；其中该第一与第二数据储存品质状态分别为一高电平状态与一低电平状态。8.根据权利要求7所述的方法，其中至少包含于该光盘读取信号处于一严重刮伤状态时，该第一及第二品质判别信号的电平因应该严重刮伤状态而分别低于一第一及一第二参考电平，以使该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态；抑或，于该光盘读取信号处于一数据断裂状态时，该第二品质判别信号的电平因应该数据断裂状态而呈现持平或小幅度电平波动现象，且该第一品质判别信号的电平因应该数据断裂状态而低于该第一参考电平，以使该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态；抑或，于该光盘读取信号处于一轻微刮伤状态时，该第二品质判别信号的电平因应该轻微刮伤状态而呈现下降趋势但仍高于该第二参考电平，且该第一品质判别信号的电平因应该轻微刮伤状态而低于该第一参考电平，以使该品质显示信号处于该第二数据储存品质状态。9.一种判断光盘数...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱斯廉，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。