判断光盘数据储存品质的方法技术

本发明专利技术涉及一种判断光盘数据储存品质的方法，包括下列步骤：输入一光盘读取信号，该光盘读取信号可由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合成；将该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号减去该主读写头光学信号，取得一第一品质判别信号；以及因应该第一品质判别信号的信号变化，以判别该数据储存区域的数据储存品质。借助本发明专利技术的作法，可利用两种不同的信号，有效地侦测到因光盘片上的光盘数据保存或储存的问题所产生的瑕疵信号，有效避免后续对于该光盘读取信号的处理产生错误。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种判断数据储存品质的方法，尤其涉及一种与储存于光盘片上数据有关的。
技术介绍
由于光盘片保存或使用的情形不一而定，再加上原始的数据烧录品质参差不齐，因此，对于任一光盘读取系统而言，如何能准确地侦测出光盘读取信号中各种信号瑕疵(defect)部分，以避免后续的信号处理程序受到影响，显已成为本
技术人员所欲努力达成的目标。请参阅图1，其为设于一光盘读取系统中的读写头HD的一般较佳内部结构示意图。至于该光盘读取系统的详细内部结构以及该读写头HD如何输出雷射光学信号至光盘片以形成光学反射信号等等的技术细节，因皆为一公知技术且非本专利技术所欲关心的重点，故在此即不予以赘述。于图1中，该读写头HD至少包括主读写头M(具有的4个信号接收区域A～B)、第一侧读写头B1(具有的2个信号接收区域E、G)以及第二侧读写头B2(亦具有的2个信号接收区域F、H)等。由于该读写头HD共计有8个信号接收区域A～H，故当该读写头HD所输出的雷射光学信号被光盘片中的某一段数据储存区域反射而形成光学反射信号后，将可由该8个信号接收区域A～H进行接收读取。其中，主读写头M所具有的4个信号接收区域A～B，即可接收该光学反射信号并组合产生一主读写头光学信号，至于该第一侧读写头B1所具有的2个信号接收区域E、G，以及该第二侧读写头B2所具有的2个信号接收区域F、H，则可接收该光学反射信号并分别组合产生一第一及第二侧读写头光学信号。当然，该主读写头光学信号与该第一及第二侧读写头光学信号可共同组合成为一光盘读取信号。当该光盘读取系统于执行上述光盘读取信号的读取程序时，由于该光盘读取信号属于模拟信号，因此为了后续模拟转数字(Analog-to-Digital，A/D)程序的所需，因此于读取该光盘读取信号的同时，即需要有一电平切割信号(slicer)能同步地对该光盘读取信号执行一电平追踪动作，以标示出该光盘读取信号的中间电平，供该光盘读取系统执行后续的该A/D程序之用。倘若，该电平切割信号因受到该光盘读取信号中各种信号瑕疵(defect)部分(例如，光盘片反射率的差异、光盘片受到刮伤或污渍，抑或烧录品质不佳而形成全反射现象等等，皆会使得该光盘读取信号产生出信号瑕疵部分)的影响而偏离正确的电平追踪轨迹，则该光盘读取系统于执行该A/D程序后显将会因此无法得到正确的结果，亦即，此时若不是发生光盘数据误判，即会使得该光盘读取系统产生当机现象。因此，为避免上述缺陷情形的发生，公知技术的做法是利用由图1中该第一及第二侧读写头B1、B2所产生的该第一及第二侧读写头光学信号，于执行相加运算后所得到的侧光束加成信号(Sub Beam AddSBAD信号)，来进行事先检测上述信号瑕疵部分。亦即，当该光盘读取系统发现该SBAD信号较某一原先设定的参考电平还要低时，即用以判断目前正在读取的该光盘读取信号出现了信号瑕疵，此时，该光盘读取系统即可立刻暂停该电平切割信号的电平追踪动作，以避免后续执行该A/D程序时产生不正确的结果，并进而影响到该光盘读取系统的系统稳定性。进一步而论，请参阅图2(a)、图2(b)，其皆为公知的具体实施示例图。于图2(a)中显示，于同一光盘片中不同的相对应数据储存区域，分别出现严重刮伤(scratched)以及轻微刮伤(small scratched)现象，因此，光盘读取信号E1即会在信号段落E11与E12处分别相对应地出现严重刮伤状态以及轻微刮伤状态的信号瑕疵部分。由于SBAD信号S1的信号段落S11处会因应该信号段落E11所显示的严重刮伤状态而使得电平降低，则倘若此时该SBAD信号S1的电平低于事先所设定的参考电平L1时，即可使得一瑕疵显示信号D1的信号段落D11处的电平，由一低电平状态转为一高电平状态，如此一来，当该光盘读取系统发现信号段落D11处的电平转为处于一高电平状态时，即可立刻暂停该电平切割信号的电平追踪动作，且直至该瑕疵显示信号D1又回到一低电平状态时，方才会继续进行上述的电平追踪动作。因此，通过该SBAD信号S1与该瑕疵显示信号D1间的相互运作，显可保护该光盘读取系统避免受到该等严重刮伤的信号瑕疵的影响。同理，因该信号段落E12显示该光盘读取信号E1仅处于轻微刮伤状态，则该SBAD信号S1的信号段落S12处所显示的电平虽然会呈现下降趋势，但因仍高于事先所设定的参考电平L1，故此时即可使该瑕疵显示信号D1于信号段落D12处仍然保持一低电平状态。亦即，基于该电平切割信号受到此等轻微刮伤的信号瑕疵的影响不大，其电平追踪轨迹还不至于发生太严重的偏离，且目前该光盘读取系统具有还原相对应于该信号段落E12处的盘数据的能力，因此，应可使该电平切割信号继续执行其电平追踪动作，以避免该光盘读取系统遗失掉相对应于该信号段落E12处的光盘数据。然而，公知技术的缺陷在于，一旦光盘读取信号出现类似数据断裂(interruption)这些信号瑕疵现象时，SBAD信号的电平将无法相对应地作出反映。亦即，其电平并不会出现大幅度下降的现象，因此，若仍以SBAD信号作为判断光盘数据储存品质的依据时，则显然仍会发生前述光盘数据误判或使得该光盘读取系统产生当机的情形。于图2(b)中显示，于同一光盘片中不同的相对应数据储存区域，皆同时出现数据断裂现象，因此，光盘读取信号E2即会在信号段落E21与E22处分别相对应地出现数据断裂状态的信号瑕疵部分。由于前述SBAD信号的特性，因此SBAD信号S2的信号段落S21、S22处所显示的电平呈现持平或小幅度电平波动现象，但因仍高于事先所设定的参考电平L2，故此时瑕疵显示信号D2于信号段落D21、D22处仍然保持一低电平状态。如此一来，即无法使前述的电平切割信号停止执行其电平追踪动作，故其电平追踪轨迹将会产生重大偏离现象，并进而影响到该光盘读取系统的系统稳定性。显然地，公知技术在这方面仍有不小的待改善空间。
技术实现思路
本专利技术的主要目的，在于提供一种可以准确侦测到光盘读取信号出现数据断裂、严重刮伤以及轻微刮伤等等各种不同信号瑕疵的。为了实现上述目的，本专利技术提供一种于光盘读取信号出现轻微刮伤的信号瑕疵时，仍可使电平切割信号继续执行电平追踪动作，以避免遗失相对应的光盘数据的。该包括下列步骤输入一光盘读取信号；其中，该光盘读取信号由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合成；将该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号减去该主读写头光学信号，取得一第一品质判别信号；以及因应该第一品质判别信号的信号变化，以判别该数据储存区域的数据储存品质。本专利技术还提供一种，包括下列步骤输入一光盘读取信号，并因应产生一第一品质判别信号；其中，该光盘读取信号可由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合而成；于该光盘读取信号处于一数据断裂(interruption)状态时，该第一品质判别信号的电平因应该数据断裂状态而低于一第一参考电平，以使一品质显示信号处于一第一数据储存品质状态；以及因应该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态，以使一电平区别信号暂停一电平追踪动作。也就是说，本专利技术一较佳实施例，关于一种，至少包括下列步骤输入一光盘读取信号，该光盘读取信号可由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种判断光盘数据储存品质的方法，包括下列步骤：　　　　输入一光盘读取信号；其中，该光盘读取信号由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合成；　　　　将该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号减去该主读写头光学信号，取得一第一品质判别信号；以及　　　　因应该第一品质判别信号的信号变化，以判别该数据储存区域的数据储存品质。

【技术特征摘要】
1.一种判断光盘数据储存品质的方法，包括下列步骤输入一光盘读取信号；其中，该光盘读取信号由一主读写头光学信号与一第一及第二侧读写头光学信号所组合成；将该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号减去该主读写头光学信号，取得一第一品质判别信号；以及因应该第一品质判别信号的信号变化，以判别该数据储存区域的数据储存品质。2.根据权利要求1所述的方法，其中该第一及第二侧读写头光学信号所相加得到的信号，为一侧光束加成信号，且该侧光束加成信号减去该主读写头光学信号后所得到的该第一品质判别信号，为一射频脉动信号。3.根据权利要求2所述的方法，其中因应该光盘读取信号处于一数据断裂状态时，该第一品质判别信号的电平低于一第一参考电平，以使一品质显示信号处于一第一数据储存品质状态。4.根据权利要求3所述的方法，其中该品质显示信号为一瑕疵显示信号，且该第一数据储存品质状态为一高电平状态，以使一电平区别信号因应处于该第一数据储存品质状态的该品质显示信号，暂停一电平追踪动作。5.根据权利要求4所述的方法，其中该电平区别信号为该光盘读取信号于执行一模拟转数字程序时所使用的一电平切割信号。6.根据权利要求3所述的方法，其中于该光盘读取信号处于一严重刮伤状态及/或一轻微刮伤状态时，该第一品质判别信号的电平皆因应该严重刮伤状态及/或轻微刮伤状态而低于该第一参考电平，以使该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态。7.根据权利要求2所述的方法，其中该侧光束加成信号为一第二品质判别信号，以使一品质显示信号同时因应该第一及第二品质判别信号的信号变化而处于一第一或第二数据储存品质状态；其中该第一与第二数据储存品质状态分别为一高电平状态与一低电平状态。8.根据权利要求7所述的方法，其中至少包含于该光盘读取信号处于一严重刮伤状态时，该第一及第二品质判别信号的电平因应该严重刮伤状态而分别低于一第一及一第二参考电平，以使该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态；抑或，于该光盘读取信号处于一数据断裂状态时，该第二品质判别信号的电平因应该数据断裂状态而呈现持平或小幅度电平波动现象，且该第一品质判别信号的电平因应该数据断裂状态而低于该第一参考电平，以使该品质显示信号处于该第一数据储存品质状态；抑或，于该光盘读取信号处于一轻微刮伤状态时，该第二品质判别信号的电平因应该轻微刮伤状态而呈现下降趋势但仍高于该第二参考电平，且该第一品质判别信号的电平因应该轻微刮伤状态而低于该第一参考电平，以使该品质显示信号处于该第二数据储存品质状态。9.一种判断光盘数...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱斯廉，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]