记录数据的设备和方法技术

本发明专利技术提供了一种用于在可改写光学记录介质上记录数据的记录设备。本设备包括用于接收数据的输入装置（２７），用于记录数据的记录装置（２１、２２、２５、２８），用于在所读取的记录数据中发现和纠正误码的检错纠错装置（３０）和用于控制数据的记录和读取的控制装置（２０）。本记录设备能够对格式化的记录介质进行快速有效的检查，以便调整数据记录策略，进而提高写操作的效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于在可改写光学记录介质上记录数据的记录设备，其中，所述可改写光学记录介质上设有实质上圆的记录轨迹，所述可改写光学记录介质含有放置于记录单元中的被记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元；该记录设备包括-输入装置，用于接收数据；-记录装置，用于记录数据；-读取装置，用于读取记录数据；-纠错装置，用于对所读取的记录数据进行检错和纠错；和-控制装置，用于控制数据的记录和读取；本专利技术进一步涉及用于检查可改写光学记录介质上所存在的缺陷的一种检查方法，以便调整(adapt)数据记录的策略，介质上设有实质上圆的记录轨迹，含有放置于记录单元中的记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元。
技术介绍
上述设备的实施例可从国际专利申请WO 01/22416中得知。该申请所公开的记录设备能够对可改写介质，如CD-RW盘片，进行初始化、格式化及缺陷管理。这使得CD-RW的应用如同高容量的软盘应用一样容易使用，使得文件的即时写或读成为可能。WO 01/22416中所描述的缺陷管理，可能提供在格式化或读/写操作过程中发现的有关损坏的记录单元的信息，记录单元也称为数据包。该信息存储在盘片中。可是，当盘片存放在驱动器外面时，缺陷(如划痕或指纹)的数量会增加。更糟糕的是，有关这些新缺陷的信息盘片上没有记载。因而，在记录操作中，所有的写步骤不得不跟随在检验步骤之后，这样在很大程度上降低了驱动器的性能。
技术实现思路
本专利技术的首要目的就是要提供本文开头一段中所述类型的、能够提供有效记录操作的记录设备。本专利技术的首要目的通过以下方式实现-设计控制装置，使得可以通过下述步骤，检查介质是否存在缺陷，并调整数据记录的策略-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；-确定所读取记录数据的特征；-根据特征评定(rating)所读取的记录数据是否有缺陷，并且-根据评定的结果，调整数据记录的策略。根据本专利技术的设备，其优点在于利用介质上存储的实际记录数据对介质进行检查，并根据检查的结果调整数据记录策略。本记录设备的一个实施例中，控制装置设计成可对介质上每一个记录单元中预定数量的读取单元进行扫描。如果记录单元中所包含的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表上列出该记录单元。本实施例的优点在于可容易方便地检测缺陷，该缺陷属于特殊类型的缺陷，被称为直接重写(Direct-Over-Write)(DOW)缺陷。这些缺陷由介质的有限的可能重写(overwrite)的数量造成。读取单元也称为帧。在本专利技术记录设备的另一个实施例中，控制装置如此设计在至少满足以下条件之一的情况下，将所读取的记录数据评定为缺陷数据，-发现误码并纠错；-发现误码，没有纠错；-读取单元的地址中存在误码；-由于所读取的记录数据存在不一致，纠错装置不起作用。本实施例的优点在于它为评定被记录数据提供了一个简单而清晰的标准，可以用于有效地检查介质。在本专利技术记录设备的另一实施例中，控制装置设计成可进行介质区域的选择，区域也称为区间(zone)，并检查所选择的区域。这种方式有利于提高检查的速度，并且可以在本地进行数据记录策略的调整。如果控制装置设计成可对包含在所选择区域中预定数量的读取单元进行扫描，并当其中任一读取单元被评定为存在缺陷时，即将所选择的区域列入缺陷区域列表，这种方式是有利的。在这种方式中，检查的速度进一步提升，并创建了一个“粗糙的(coarse)”缺陷列表，它可以用于快速做出有关数据记录策略的决定。本专利技术记录设备的又一实施例的特征在于，数据记录策略包括-写步骤，包括将数据记载在记录单元中；和-写步骤之后的检验步骤，包括读取在写步骤中记载到记录单元中的记录数据，并将读取到的记录数据与原数据进行比较；-控制装置设计成可对数据记录策略进行调整，以实现只在至少满足下列条件之一的情况下，才进行检验步骤-仍然不结束检查；-在缺陷记录单元列表中列出记录单元。本实施例的优点在于在没有缺陷的单元中写入数据的速度会快很多，这样就改进了记录设备的整体性能。按以下方式对控制装置进行设计是有益的，使其对包含在缺陷区域列表中列出的区域中的每一个记录单元中的所有读取单元进行扫描；并且如果包含在记录单元中的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表中列出该记录单元。这样能对在“快速”检查中发现的缺陷区域进行更准确的检验。在本专利技术记录设备的又一实施例中，控制装置设计成可在介质上两个实质上同心的实质上为圆的记录轨迹之间选择圆环形区域。这种方式使得快速读取记录数据成为可能。将控制装置设计成可通过检查圆环区域中间的测试记录轨迹来检查圆环形区域是有益的。其优点是能使缺陷的搜索更加有效。本专利技术的记录设备的下一个实施例中，控制装置设计成实质上相隔200μm检查测试记录轨迹。考虑到不能通过标准的纠错装置纠正的预料缺陷尺寸，此实施例是有利的。另一个有利的实施例中，控制装置设计成可测定介质的记录参数、利用记录参数计算记录轨迹的数量、通过跳过一定数量的记录轨迹方式对读取装置进行定位。通过在检查阶段对读取装置进行快速且准确的定位的方法，本实施例进一步增强了记录操作的性能。本专利技术记录设备的又一实施例的特征是将控制装置设计成在记录设备的空闲时间对介质进行检查。其优点是记录设备几乎总是准备着接收读/写命令，这样提高了记录设备的性能。本专利技术的第二个目的是提供一种本文开头一段所述的方法，该方法可用于有效地进行记录操作。本专利技术的第二个目的通过包括以下步骤的方法实现的-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；-确定所读取的记录数据的特征；-根据特征评定所读取的记录数据为有缺陷数据；-根据评定的结果，调整数据记录的策略。附图说明本专利技术的设备和方法的这些方面和其它方面将结合附图做进一步说明和描述，其中图1所示为记录装置的一个实施例；图2所示为可改写光学记录介质中一部分的图解平面视图；图3所示为检查介质是否存在缺陷的方法以便调整数据记录策略的 具体实施例方式图1所示为本专利技术记录设备的一个实施例，用于在可改写光学记录介质11上记录数据。图1中的设备拥有用于在光学记录介质的记录轨迹上记录数据的记录装置(21、22、25、28)，该装置包括用于旋转光学记录介质11的驱动单元21、读/写头22(head)、用于读/写头22在记录轨迹径向的粗定位的定位单元25、写处理装置28。读/写头22包括 公知类型的光学系统，该光学系统用于产生辐射束24，通过光学元件引导辐射束，在光学记录介质的信息层的轨迹上聚焦成辐射斑点23。辐射束24由辐射源产生，如由激光二极管产生。读/写头还包括(图中未示出)聚焦激励器(actuator)，用于将辐射束24的焦点顺着所述束的光轴移动；跟踪激励器，用于将光斑23精细定位于轨迹中心的径向上。跟踪激励器可以包括线圈，用于径向移动光学元件，或者，被设置成用于变换反射元件的角度。对于信息写入操作，控制辐射束使其在介质的记录层产生光学可检测的标记。写处理装置28对从输入装置27接收到的信息进行处理，产生写信号，驱动读/写头22。写处理装置28可以包括格式化器和调制器。注意，对于计算机应用，主机可以直接与写处理装置28连接。因此数据接口既可以设在设备里(例如消费视频播放机)，也可以设置在设备的外部(例如PC机的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在可改写光记录介质上记录数据的记录设备，其中，所述可改写光记录介质上设有实质上是圆的记录轨迹，所述可改写光记录介质包括放置于记录单元中的记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元；该记录设备包括：－输入装置，用于接收数据；　 　－记录装置，用于记录数据；－读取装置，用于读取记录数据；－纠错装置，用于发现并纠正所读取的记录数据中的误码；－控制装置，用于控制数据的记录和读取；其特征在于：所述控制装置设计成通过执行以下步骤检查介质是 否存在缺陷并调整数据记录的策略：－通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；－确定所读取的记录数据的特征；－根据所述特征评定所读取的记录数据为有缺陷数据，并且－根据评定的结果，调整数据记录的策略。

【技术特征摘要】
EP 2001-11-22 01204485.5;EP 2002-8-21 02078457.51.一种用于在可改写光记录介质上记录数据的记录设备，其中，所述可改写光记录介质上设有实质上是圆的记录轨迹，所述可改写光记录介质包括放置于记录单元中的记录数据，所述记录单元包含可寻址的读取单元；该记录设备包括-输入装置，用于接收数据；-记录装置，用于记录数据；-读取装置，用于读取记录数据；-纠错装置，用于发现并纠正所读取的记录数据中的误码；-控制装置，用于控制数据的记录和读取；其特征在于所述控制装置设计成通过执行以下步骤检查介质是否存在缺陷并调整数据记录的策略-通过读取至少一部分记录数据对介质进行扫描；-确定所读取的记录数据的特征；-根据所述特征评定所读取的记录数据为有缺陷数据，并且-根据评定的结果，调整数据记录的策略。2.如权利要求1所述的记录设备，其特征在于-控制装置设计成可对介质上每一个记录单元中预定数量的读取单元进行扫描；-如果记录单元中所包含的任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷记录单元列表上列出该记录单元。3.如权利要求2所述的记录设备，其特征在于读取单元的预定数量等于1。4.如权利要求1所述的记录设备，其特征在于所述控制装置设计成在至少满足以下条件之一的情况下将所读取的记录数据评定为缺陷数据-发现误码并纠错；-发现误码，没有纠错；-读取单元的地址中存在误码；-由于所读取的记录数据不一致，不能使用纠错装置。5.如权利要求1所述的记录设备，其特征在于所述控制装置设计成选择介质的区域并检查所选的区域。6.如权利要求5所述的记录设备，其特征在于所述控制装置设计成对包含在所选择区域中预定数量的读取单元进行扫描，如果任一读取单元被评定为存在缺陷，则在缺陷区域列表中列出该所选择的区域。7.如权利要求6所述的记录设备，其特征在于数据记录策略包括-写步骤，包括将数据记载在记录单元中；和-写步骤之后的检验步骤，包括读取在写步骤中记载到记录单元中的数据，并将记录数据与该数据进行比较；-控制装置设计成可对数据记录策略进行调整，以实现只在至少满足下列条件之一的情况下才进行检验步骤-检查没有完成；-记录单元包含在缺陷区域列表所列出的某一区域中。8.如权利要求2或6所述的记录设备，其特征在于-控制装置设计成可对包含在缺陷区域列表中列出的区域中的每一个记录单元中的所有读取单元进行扫描；并且-如果包含在记录单元中的任一读取单元被评定为存在缺陷，在缺陷记录单元列表中列出该记录单元，9.如权利要求8所述的记录设备，其特征在于数据记录策略包括-写步骤，包括将数据记载在记录单元中；和-写步骤之后的检验步骤，包括读取在写步骤中记载到记录单元中的记录数据，并将记录数据与该数据进行比较；-控制装置设计成可对数据记录策略进行调整，以实现只在至少满足下列条件之一的情况下才进行检验步骤-检查没有完成；-在缺陷记录单元列表中列出该记录单元。10.如权利要求6所述的记录设备，其特征在于控制装置设计成可在介质上两个实质上同心的实质上为圆的记录轨迹之间选择圆环形区域。11.如权利要求10所述的记录设备，其特征在于控制装置设计成可通过检查圆环形区域中间的测试记录轨迹来检查圆环形区域，12.如权利要求11所述的记录设备，其特征在于控制装置设计成实质上相隔200μm检查测试记录轨迹。13.如权利要求11所述的记录设备，其特征在于控制装置设计成可对沿测试记录轨迹上的基本上所有读取单元进行扫描。14.如权利要求1所述的记录设备，其特征在于控制装置设计成可通过从预定的列表中查找读取单元地址的方式对读取装置进行定位。15.如权利要求1所述的记录设备，其特征在于控制装置设计成可通...

【专利技术属性】
技术研发人员：P伊特斯马，D哈梅林克，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]