光盘装置制造方法及图纸

一种光盘装置，在不使用用于检测球面像差的复杂的检测装置的情况下，能够更简便且正确地检测其发生要因。在光盘的调焦过程中，使物镜对光盘的相对距离线性变化时，通过受光元件分别检测出光盘表面的聚焦误差信号、同光盘的第１反射层的聚焦误差信号和第２反射层的聚焦误差信号的时间差。而后，根据该时间差，分别检测出从光盘表面到第１反射层的覆盖层的厚度和从包含同第１反射层的光盘表面到第２反射层的覆盖层的厚度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对于进行特高密度、大容量的光盘的重放，或是记录重放有益的光盘装置。
技术介绍
现在，作为光盘，有CD、CD-ROM、CD-R、CD-RW等CD系列光盘，还有作为能够用红色激光记录重放较高密度、大容量数据的光盘的DVD、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM、DV+R以及DVD+RW等DVD系列光盘。特别是近几年，提出了能够用蓝色激光记录重放更高密度、大容量数据的Blu-lay规范和AOD(Advanced Optical Disc)规范，正在推进采用这些的规范的光盘及驱动装置的商品化。此处，作为这样的光盘装置的数据读取机构(拾取器)，以在例如Blu-lay规范的光盘装置中以前所采用的机构为例，参照图9，说明其概要。如同图9所示，这种光盘装置通常具有构成盘读取机构的拾取器50。该拾取器50基本上具有使激光振荡的半导体激光振荡器LD、反射激光的45度反射镜56、将激光会聚而使焦点与光盘的反射层(记录层)R相合的物镜L以及用于把来自光盘及45度反射镜56的反射光导向受光元件PD的偏振光分光器51而构成。并且，作为其辅助机构，还具有为了聚焦(会聚于焦点)，使上述物镜L能够在上下方向微动的透镜调节器(省略图示)等。此外，该物镜L由于要在折射界限内会聚光束，因而要求其具有高性能，其透镜数值孔径也设定为例如达NA＝0.85的高透镜数值孔径。另外，在该例子中，在作为光源被使用的上述半导体激光振荡器LD中，采用主要具有405nm波长的蓝紫色激光二极管。并且，为了对入射的激光整形、对物镜入射平行光，具有准直透镜53，还具有聚光透镜57及圆筒透镜58等，作为对从安装着的光盘的反射层R被反射的激光反射光进行聚光的机构。具体而言，从该半导体激光振荡器LD发出的直线偏振光的激光，通过偏振光分光器51，仅规定的偏振光成分透过到盘侧，由1/4波长板52转换为圆偏振光。由自准直透镜53作成平行光后的激光再经45度反射镜56反射，会聚到物镜L，再照射到光盘的反射层R。另一方面，被反射层R反射的激光，经45度反射镜56及准直透镜53，到达1/4波长板52，在此处成为与原来的偏振光方向相差90度相位的直线偏振光。然后，在偏振光分光器51中，仅与上述被反射的偏振光成分不同的偏振光成分被反射，反射光经聚光透镜57及圆筒透镜58聚光后，入射到受光元件PD。受光元件PD是把该入射的激光转换为电信号的部分，该被转换成的电信号经放大，被送到拾取器50的外部，在那里进行公知的解调处理。并且，在这种拾取器聚焦过程中，由透镜调节器进行驱动，使上述物镜在上下方向移动，调整盘表面和物镜的距离。并且，为记录、重放这样高密度的光盘，必须减小从半导体激光振荡器(激光光源)发出的激光在盘上的聚光斑点的斑点直径。并且，该斑点直径基本上由以下计算式来计算。斑点直径＝激光光源的波长λ/物镜的数值孔径NA…(1)由(1)式可知，聚光斑点的斑点直径与激光光源的波长λ成正比例，与物镜的透镜数值孔径NA成反比例。因此，使激光光源的波长λ缩短，或是使用透镜数值孔径NA高的物镜，就能够减小聚光斑点的斑点直径。对于例如Blu-lay规范的光盘，激光光源的波长λ为405nm，物镜的数值孔径NA为0.85。但是，这样提高物镜的透镜数值孔径NA的话，盘的倾斜度的容许度就会变小。此外，盘的倾斜度的容许度，以如下的计算式来计算。盘的倾斜度的容许度＝激光光源的波长λ/(物镜的数值孔径NA)3…(2)由该(2)式可知，盘的倾斜度的容许度与激光光源的波长成正比例、与物镜的数值孔径的3次方成反比例而降低。因此，对于采用数值孔径大的物镜的Blu-lay规范的光盘，为确保盘的倾斜度的容许度，特别需要减薄盘的覆盖层的厚度。此外，Blu-lay规范的光盘的倾斜度的容许度为DVD规范(激光光源的波长λ为650nm，物镜的透镜数值孔径NA为0.6)的光盘的倾斜度的容许度的约1/5。因此，DVD规范的光盘的覆盖层的厚度为600μm，而对于Blu-lay规范的光盘，必须使其覆盖层的厚度为100μm左右。而且，对于高密度的光盘，为提高数据的记录容量，预定在单面设置2层反射层(记录层)。必须尽量把第1反射层和第2反射层的相关距离拉大(例如25μm左右)，使得来自第1反射层(记录层)及第2反射层(记录层)中一方的反射光不会影响到来自另一方的反射光。因此，使第1反射层和第2反射层从盘表面起的覆盖层的厚度不相同。并且，尤其是对于减薄了盘的覆盖层的厚度的Blu-lay规范，由于原来光盘的覆盖层就薄，因而第1反射层、第2反射层各覆盖层的厚度对于盘的覆盖层的厚度“100μm”的误差比率就会增大。另一方面，物镜是考虑了盘的覆盖层的厚度而设计的，不过，如果盘的覆盖层的厚度超出规格值“100μm”的话，在光盘的反射层上就会产生球面像差。其次，对于这样的球面像差和盘的覆盖层的厚的关系，参照图10，说明其概要。另外，图10是放大表示对于盘的覆盖层薄的情况(图10(a))、盘的覆盖层为规格值的厚度的情况(图10(b))以及盘的覆盖层厚的情况(图10(c))，各覆盖层和焦点的关系的图。如图10(a)所示，在盘的覆盖层的厚度比规定值薄的情况下，在调焦时，与覆盖层的厚度等于规定值的情况相比，物镜在离盘稍远的位置确定焦点位置。因此，经光盘反射后的激光在反射层前确认聚焦误差(FE)信号。并且，由于激光像这样在盘反射层前交叉，结果，在盘反射层上，聚光斑点的斑点直径就会变大，球面像差就会发生。还有，如图10(b)所示，在盘的覆盖层的厚度与规格值相等的情况下，在调焦时，由于可以在盘的反射层上确认聚焦误差(FE)信号，因而就能够使焦点位置与盘反射层相合。另一方面，如图10(c)所示，在盘的覆盖层比规定值厚的情况下，在调焦时，与覆盖层的厚度等于规定值的情况相比，物镜在离盘稍近的位置确定焦点位置。因此，经光盘反射后的激光从物镜侧到盘内侧为止，确定焦点位置。并且，由于经光盘反射后的激光像这样在反射层内侧确认聚焦误差信号，结果，在盘反射层上，聚光斑点的斑点直径就会变大，仍会产生球面像差。而另一方面，球面像差基本上由如下的计算式来计算。球面像差＝(覆盖层的厚度误差d/规定值的覆盖层的厚度d)×(物镜的数值孔径NA)4…(3)由(3)式可知，球面像差与物镜的数值孔径NA的4次方成正比例。如果产生这种球面像差，就无法在光盘的反射层上得到适当的聚光斑点直径，进而作为光盘装置的记录或重放功能也自然会下降。因而，以前，例如专利文献1所示，提出了采用全息元件来检测上述球面像差的光盘装置等。此外，在该光盘装置中，利用上述全息元件把透过离物镜的光轴远的周边部的光和透过靠近光轴的中央部的光分离，得到其分离后的光量的差分，从而进行球面像差的检测。专利文献1特开2002-367197号公报这样，在光盘装置中设置检测球面像差的装置，根据所检测到的球面像差信号，对球面像差矫正用的调节器进行反馈控制等，就能够矫正上述球面像差。然而，如果在光盘装置中设置上述的检测球面像差的装置，就会不仅使检测机构变得复杂，零部件个数也会增大，而且其调整作业也成为必须的，等等，制造工数、制造成本的增加就不可避免。
技术实现思路
本专利技术是针对上述情况提出的，目的是提供一种在不使用用于检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，具有用于对从激光光源照射在记录数据的反射层由透光性的覆盖层覆盖而成的光盘的反射层上的激光通过所述覆盖层进行聚光的物镜和接受来自所述光盘的反射层的反射光并将其转换为电信号的受光元件，至少对所述光盘的反射层进行数据记录或从同反射层进行数据重放，其特征在于，具有根据在所述光盘调焦的过程中，使所述物镜对所述光盘的相对距离线性变化时，通过所述受光元件而得到的光盘表面的聚焦误差信号和在同光盘的所述反射层上的聚焦误差信号的时间差，来检测所述覆盖层的厚度的检测装置。

【技术特征摘要】
JP 2003-9-29 336787/20031.一种光盘装置，具有用于对从激光光源照射在记录数据的反射层由透光性的覆盖层覆盖而成的光盘的反射层上的激光通过所述覆盖层进行聚光的物镜和接受来自所述光盘的反射层的反射光并将其转换为电信号的受光元件，至少对所述光盘的反射层进行数据记录或从同反射层进行数据重放，其特征在于，具有根据在所述光盘调焦的过程中，使所述物镜对所述光盘的相对距离线性变化时，通过所述受光元件而得到的光盘表面的聚焦误差信号和在同光盘的所述反射层上的聚焦误差信号的时间差，来检测所述覆盖层的厚度的检测装置。2.按照权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述光盘具有在一面上第1反射层和第2反射层分开规定的间隔而层积形成的2层构造；所述检测装置根据在所述光盘的调焦过程中，使所述物镜对所述光盘的相对距离线...

【专利技术属性】
技术研发人员：加纳康行，
申请(专利权)人：三洋电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]