光盘装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光盘装置。在对未记录盘的聚焦平衡调整中，即使在光盘上未记录数据也进行聚焦平衡调整，记录高质量的数据。作为在重放信号以外通过光盘得到的信号，使用在照射的激光的焦点与光盘（１）吻合时可检测出的、焦点不吻合时不可检测出的道跟踪位置误差信号，设置检测生成的道跟踪位置误差信号的振幅电平的最大振幅测定设备（７），使道跟踪位置误差信号的振幅成为最大那样进行未记录盘的聚焦平衡调整。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光盘装置，特别涉及图谋对于未记录的光盘的聚焦平衡调整的改善。
技术介绍
在已经记录数据的光盘上，作为聚焦平衡调整的方法，通过利用使用光盘得到的重放信号等，进行高精度聚焦平衡调整。通过上述调整可以提高重放信号的信号质量。但是，在未记录数据的光盘(未记录盘)中，因为不能使用光盘得到重放信号，因此不能进行上述平衡调整方法。因此作为对于未记录盘的聚焦平衡调整方法，考虑下述的方法。在一般的未记录盘中，构成记录轨道的导槽以预定周期曲折延伸，从实验求得，该曲折延伸成分根据聚焦平衡值变动；以及记录信号的跳动成为最小值时的聚焦平衡值和曲折延伸周期成分成为最小值时的聚焦平衡值几乎一致，进行根据曲折延伸成分的聚焦平衡调整(例如参照特开2002-269773号公报)。另外，作为不进行平衡调整、但对未记录盘进行聚焦调整的方法，考虑下述的方法。即通过检索聚焦过零点(聚焦一致点)进行聚焦调整的方法，为缩短检索聚焦过零点的时间，使用下述方法，首先以比较快的速度使光头运动，检测道跟踪误差信号，在其附近使光头缓慢运动、检索聚焦过零点(例如参照特开平5-325199号公报)。现有的光盘装置如上述那样构成，在对未记录盘的聚焦平衡调整中，光盘上未记录数据，不能进行使用重放信号的聚焦平衡调整。因此，因为不能记录高质量的数据，所以通过使用根据上述专利文献1介绍的曲折延伸成分进行聚焦平衡调整的方法，可以对于未记录盘进行聚焦平衡调整，可以进行高质量的数据的记录，但是另外需要进行曲折延伸周期成分的检测的电路，存在电路规模增大这样的问题。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述问题而提出的，其目的是，提供一种不增大电路规模、而可以进行高精度的聚焦平衡调整的光盘装置。本专利技术(方案1)涉及的光盘装置，具有输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘来的反射光量生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备。本专利技术(方案2)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备，从所述光盘转动一次或者一次以上的转动中的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案3)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备，在所述光盘转动一次或者一次以上的转动中，求光盘的每次转动的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案4)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备，接收所述轨道横断信号生成设备的输出，根据横断一条或者一条以上的轨道时的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案5)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备，接收所述轨道横断信号生成设备的输出，求横断一条或者一条以上的轨道时每一条轨道的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案6)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备，接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，根据处于该规定频率范围场合的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案7)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备，接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，多次求处于该规定频率范围场合的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案8)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备，根据在设定的任意时间内的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。本专利技术(方案9)涉及的光盘装置，在方案1到8中任何一项所述的光盘装置中，具有通过相加来自所述光盘的反射光量生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备，所述振幅测定设备，在所述全反射光量信号成为某一定电平或其以上时进行所述第一反射光量信号的振幅测定。根据本专利技术(方案1)所涉及的光盘装置，具有输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘来的反射光量生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备，因为利用道跟踪位置误差信号、检测该信号的振幅进行聚焦平衡调整，所以可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实现对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到可以抑制成本的效果。另外，根据本专利技术(方案2)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备，根据所述光盘转动一次或者一次以上的转动中的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以根据盘转动信号检测道跟踪位置误差信号的振幅、进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实现对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到可以抑制成本的效果。另外，根据本专利技术(方案3)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备，在所述光盘转动一次或者一次以上的转动中，求光盘的每次转动的最大值的平均值和最小值的平均值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以即使在道跟踪位置误差信号中加入噪声的场合也可以使难于受该噪声的影响，可以稳定地进行道跟踪位置误差信号的振幅的测定，因此可以得到能精度良好地进行聚焦平衡调整的效果。另外，根据本专利技术(方案4)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备，接收所述轨道横断信号生成设备的输出，根据横断一条或者一条以上的轨道时的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以通过根据轨道横断信号检测道跟踪位置误差信号的振幅进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，其特征在于，具有：输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；和使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘来的反射光量生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备。

【技术特征摘要】
JP 2003-11-28 2003-3996211.一种光盘装置，其特征在于，具有输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；和使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘来的反射光量生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备。2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述振幅测定设备，根据所述光盘转动一次或者一次以上的转动中的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。3.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述振幅测定设备，在所述光盘转动一次或者一次以上的转动中，求光盘的每次转动的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。4.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备，接收所述轨道横断信号生成设备的输出，根据横断一条或者一条以上的轨道时的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。5.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备，接收所述轨道横断信号生成设备的输出，求横断一条或者一条以上的轨道时每一条轨道的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅...

【专利技术属性】
技术研发人员：山根秀明，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]