最佳功率校正方法及光驱技术

一种最佳功率校正方法被应用于写录可重复读写式光学储存介质，其中该可重复读写式光学储存介质包含一功率校正区域，所述方法包含判断功率校正区域是否未记录数据，当功率校正区域未记录数据时，则抹除整个功率校正区域，以及执行一最佳功率校正程序。另外，本最佳功率校正方法亦可被应用于一可重复读写式光驱。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种最佳功率校正方法，特别是关于一种应用于可重复读写式光驱的最佳功率校正方法。
技术介绍
可重复读写式(Rewritable)光盘片如CD-RW、DVD-RW或DVD+RW等，在写入数据之前会在光盘片的功率校正区域(PowerCalibration Area)上先进行最佳功率校正(Optimum Power Calibration，OPC)，以决定光学读写头将数据写入光盘片时的功率。如图1所示，其为一公知的可重复读写式光盘片的被写入次数与光盘片数据读取错误频率的关系图。当一片空白的可重复读写式光盘片重复写入多次数据时，不同次写入数据后光盘片发生写入数据读取错误的频率亦有所不同，尤其在光盘片头几次的写入次数较容易发生写入数据读取错误的情况，其中CD-RW光盘片可以观察其C1与C2值，以判断发生写入数据读取错误的频率，DVD-RW光盘片可以观察其PI与PO值，以判断发生写入数据读取错误的频率。然而，光盘片发生数据读取错误的频率越高代表光驱越不容易读取到光盘片上正确的数据，严重的话，在光盘片上记录的正确数据可能已经遗失。光盘片的写入数据读取错误的可能原因之一是在写入过程之中，数据写入之前的最佳功率校正不尽完善，因此光学读写头在写入数据时的功率不正确或是不够准确，导致写入的数据并没有正确的记录在光盘片上，所以就会容易发生写入数据读取错误的现象。因此，提供一种最佳功率校正方法及系统，以期能够改进现行最佳功率校正程序而找出适当的写入功率，以改善可重复读写式光盘片在前几次的写入数据后，发生数据读取效果不佳的情况，减少写入数据读取错误的情况，正是当前的重要课题之一。
技术实现思路
有鉴于上述课题，本专利技术提供一种能够改善最佳功率校正程序结果的最佳功率校正方法及光驱。因此，依本专利技术的最佳功率校正方法被应用于一可重复读写式光学储存介质，其中该可重复读写式光学储存介质包含一功率校正区域，此方法包含判断功率校正区域是否未记录数据，当功率校正区域未记录数据时，抹除整个功率校正区域，以及执行一最佳功率校正程序。另外，本专利技术亦提供一种最佳功率校正系统，其被应用于一可重复读写式光学储存介质，其中光学储存介质包含一功率校正区域，此系统包含一判断模块、一抹除模块与一执行模块，这些模块以程序代码的形式由一数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)或微处理器来执行。其中判断模块判断功率校正区域是否未记录数据并产生一判断结果，抹除模块是当判断结果为功率校正区域未记录数据时，抹除整个功率校正区域，执行模块执行一最佳功率校正程序。承上所述，因本专利技术的最佳功率校正方法及光驱是当功率校正区域未记录数据时抹除整个功率校正区域，故可改善最佳功率校正程序的结果，以减少写入数据读取错误的情况。附图说明图1为一公知的可重复读写式光盘片的被写入次数与光盘片数据读取错误频率的关系图；图2为一本专利技术较佳实施例的最佳功率校正方法的流程图；图3为一本专利技术较佳实施例的最佳功率校正方法的流程图，其中当功率校正区域未记录数据时，抹除整个功率校正区域；以及图4为一本专利技术较佳实施例的光驱块图。组件符号说明S1-S3最佳功率校正方法S21-S22最佳功率校正方法1光盘片 11功率校正区域21光学读写头 22主轴马达 23长程马达 24马达驱动器25致动器26激光二极管驱动器31射频放大器32服务处理器33解码器34编码器4控制器 41判断模块411判断结果 42写入模块421测试数据 43抹除模块44执行模块具体实施方式以下将参照相关图式，说明本专利技术较佳实施例的最佳功率校正方法及系统。如图2所示，其为一本专利技术较佳实施例的最佳功率校正方法的流程图。依本专利技术较佳实施例的最佳功率校正方法被应用于一可重复读写式(Rewritable)光学储存介质，其中该可重复读写式光学储存介质包含一功率校正区域(Power Calibration Area)，此方法包含步骤S1至步骤S3。在步骤S1，判断功率校正区域是否未记录数据。在步骤S2，当功率校正区域未记录数据时，抹除整个功率校正区域。在步骤S3，执行一最佳功率校正程序。在本实施例中，最佳功率校正程序是光学储存介质的颁定规格中最佳功率校正程序(Optimum Power Calibration)，光学储存介质是一可重复读写光盘片(CD-RW)或一可重复读写数字激光光盘片(DVD+RW或DVD-RW)。另外，如图3所示，步骤S2包含步骤S21与步骤S22。在步骤S21，当功率校正区域未记录数据时，写入一测试数据于功率校正区域，其中测试数据填满整个功率校正区域，测试数据是一随机数据。在步骤S22，抹除整个功率校正区域。如图4所示，其为一本专利技术较佳实施例的光驱块图。此光驱包含一光学读写头(Optical Read/Write Head)21、一主轴马达(SpindleMotor)22、一长程马达(Sled Motor)23、一马达驱动器(Motor Driver)24、一致动器(Actuator)25、一激光二极管驱动器(Laser Diode Driver)26、一射频放大器(RF Amplifier)31、一服务处理器(Serving Processor)32、一解码器33、一编码器34与一控制器4。光学读写头21自光盘片1读取的数据经由射频放大器31将信号放大之后，经由服务处理器32处理，以控制马达驱动器24驱动主轴马达22与长程马达23运动，并控制致动器25移动光学读写头21，使得光学读写头得以移动至既定的位置，以正确地从光盘片1读取数据，或是将数据写入光盘片1。在本实施例中，控制器4包含一判断模块41、一写入模块42、一抹除模块43与一执行模块44，其中判断模块41、写入模块42、抹除模块43与执行模块44可以是在控制器4执行的程序代码，控制器4可以是一数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)或一微处理器(Micro Processor)。当光学读写头21读取光盘片1的功率校正区域11之后，读取的数据经由射频放大器31放大且经由解码器33解码之后传送至判断模块41，判断模块41判断光盘片1的功率校正区域11是否未记录数据并产生一判断结果411。当判断结果411为功率校正区域11未记录数据时，写入模块42要求服务处理器32控制光学读写头21移动至功率校正区域11的位置，写入模块42产生一测试数据421，并将测试数据421传送至编码器34，且控制激光二极管驱动器26驱动光学读写头2，1以写入编码后的测试数据421。其中，编码后的测试数据421写满整个功率校正区域11，测试数据421可以是一随机产生的数据。当功率校正区域11写满编码后的测试数据421后，抹除模块43控制激光二极管驱动器26驱动光学读写头21，以抹除整个功率校正区域11。另外，在另一实施例中，当判断结果411为功率校正区域11未记录数据时，抹除模块43可直接抹除整个功率校正区域11。当整个功率校正区域11抹除之后，执行模块44执行最佳功率校正程序以决定光学读写头21的写入功率。最佳功率校正程序是光盘片1的颁定规格中的最佳功率校正程序，光盘片1可以是一可重复读写光盘片或一可重复读写数字激光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种最佳功率校正方法，其被应用于一可重复读写式光学储存介质，其中该光学储存介质包含一功率校正区域，所述方法包含：判断所述功率校正区域是否未记录数据；当所述功率校正区域未记录数据时，抹除整个所述功率校正区域；以及执行一 最佳功率校正程序。

【技术特征摘要】
1.一种最佳功率校正方法，其被应用于一可重复读写式光学储存介质，其中该光学储存介质包含一功率校正区域，所述方法包含判断所述功率校正区域是否未记录数据；当所述功率校正区域未记录数据时，抹除整个所述功率校正区域；以及执行一最佳功率校正程序。2.如权利要求1所述的最佳功率校正方法，其中所述最佳功率校正程序是所述光学储存介质的颁定规格中最佳功率校正程序。3.如权利要求1项所述的最佳功率校正方法，其中所述光学储存介质是一可重复读写光盘片或为一可重复读写数字激光光盘片。4.如权利要求1项所述的最佳功率校正方法，更包含判断所述功率校正区域是否未记录数据，当所述功率校正区域未记录数据时，先写入一测试数据于所述功率校正区域，然后抹除整个所述功率校正区域，其中所述测试数据填满整个所述功率校正区域。5.如权利要求4项所述的最佳功率校正方法，其中所述测试数据是一随机数据。6.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宏彰，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]