光信息记录介质、介质特性规定方法、介质特性检查方法、信号检测方法、信号检测电路、技术

一种具有可记录的多个记录层的光信息记录介质，其中所述多个记录层中、记录层Ａ（第二层）的某一区域Ｘ中的各种信号特性，由在照射到所述区域Ｘ的光束的光线轴上对于所述记录层Ａ（第二层）邻接到入射端的记录层Ｂ（第一层）的区域Ｙ是已记录区的条件来决定。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及如CD-R/RW的双层版、DVD±R/RW的双层版、进而将来的多层记录介质的具有大于等于双层的多层结构的可记录的光信息记录介质，其介质特性规定方法、介质特性检查方法、以及信号检测方法、信号检测电路、及光信息记录再生装置。
技术介绍
近年来，CD-R/RW或DVD±R/RW可以说作为PC的外部存储装置已经固定了。此外，CD-R/RW或DVD±R/RW今后希望更加大容量化，双层化、将来进一步的多层化也在研究中。在这样的多层介质中，一般设定层间距离，以便从存取中以外的记录层反射的光不漏入来自存取中的记录层的反射光。这是由于如果从焦点位置离开很远，则来自介质的反射光不由透镜进行聚光而发散，因此成为作为信号强度可以忽略的电平。但是，作为光学上的限制，必需在可以得到良好的各种特性的焦点允许范围(焦点深度)以内设定多层的全部，层间距离无法如理想的那样扩大。因此，也不少发生来自其它层的反射光的漏入。这里，作为实用化的多层的例子，有DVD-ROM的双层版。因为两层都是在工厂压制(stamp)的再生专用，所以对于各种变动的余量(margin)也大，追踪采用使用从称为DPD(Differential Phase Detection，微分相位检测)的再生信号的边缘(edge)得到的相位差的方式，对来自其它层的反射光漏入引起的光量(信号强度)变化确保了强的抗性。当然，由于是再生专用，所以不必检测轨道(槽)或轨道的弯曲引起的摆动(wobble)，来自其它层的反射光的漏入引起的缺陷少。此外，具有多个可记录的层的介质例如公开在专利文献1、2等中。这些专利技术中，已经确定可多层记录的介质的记录膜特性、特别是记录膜的厚度、材料等，从而提高多层记录的实现性。此外，专利文献3中，公开了对多层记录介质的各层配置摆动，并在该摆动中插入地址信息。进而，作为基础研究，多层记录的实现性不断提高，与此相伴也指出、专利技术了必需的技术。当然，在多层介质中，必需各种伺服信号或摆动信号，为了提高互换性或保持稳定的质量，重要的是管理这些信号特性，或者作为标准来确定。专利文献1特开2000-235733号公报专利文献1特开2003-091874号公报专利文献1特开2001-052342号公报但是，在多层记录介质的情况下，来自其它层的反射光的漏入成为大的问题。例如，在邻接的记录层为未记录区的情况下，由于反射率高，所以反射光大。由于该反射光的焦点偏离，因此不会在光接收元件上完全聚光，但由于漏入到来自存取中的记录层的本来的反射光，所以反射光不表示正确的值。反之，在邻接的记录层为已记录区的情况下，由于反射率低，所以漏入量小。此外，在多层的情况下，从任何层都发生漏入，但特别来自邻接的记录层的漏入的恶劣影响最大。从而，记录介质的各种信号特性由记录膜组成、记录膜厚、槽深、槽宽等多个参数调整。如专利文献1、2所示，记录特性中记录膜材料的调整是主要的。但是，两个专利文献1、2都未示出各种信号规格。这里，本说明书以及权利要求的范围所示的‘各种信号’有光束在介质上横切由称作凹槽的槽刻的轨道时得到的轨道交叉(track cross)信号和追踪误差(tracking error)信号等伺服信号、通过其它轨道的弯曲而刻的包含介质的转速或地址信息的摆动信号等。当然，不仅这些，再生(RF)信号的振幅也可以说同样。这些信号特性基本上通过振幅的规定而决定，从吸收光束强度或电路放大率等测定条件的不同的目的出发，由和信号归一化后进行处理。但是，来自邻接的记录层的反射光漏入而在和信号中产生误差时，产生这些误差的规定变得不正确的缺陷。此外，来自这些邻接的记录层的反射光的漏入根据光学系统而变化很大，因此缺乏可靠性、互换性差。在邻接的记录层是已记录区的情况下，由于反射率低，所以反射光小，对存取中的记录层的漏入引起的缺陷可以减小。另一方面，在邻接的记录层是已记录区的情况下，虽然很弱，但其反射光的记录数据分量漏入存取中的记录层的反射光中。对于伺服信号，由于信号频带不同，因而不成问题，但由于摆动信号接近记录数据频带，因此需要注意。从而，期望在摆动信号的质量规定中，规定邻接的记录层为已记录的情况下的C/N(载波噪声比)比。这样，各种信号规格根据邻接的记录层的记录状态(未记录或已记录)而不同，因此在考虑记录层仅为1层(单层)的现有的规定方法中，无法进行稳定的特性管理或标准数值的决定。
技术实现思路
本专利技术的目的在于抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定、检查。本专利技术为了实现上述目的提供如下的光信息记录介质。一种光信息记录介质，在具有可记录的多个记录层的光信息记录介质中，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来决定。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。此外，所述各种信号特性的值也可以在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。由此，不必在每层变更各种检测电路的特性，可以采用廉价的评价装置、记录再生装置进行处理。此外，所述各种信号特性由所述区域Y也是未记录区的条件决定，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同也可以。由此，不需要用于在未记录条件和已记录条件两方满足信号特性的各种参数的复杂的调整，可以缩短开发期间，此外，可以进行重点在于对记录再生动作不利的已记录条件的特性改善的调整。此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。由此，轨道交叉信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快的记录再生装置。此外，所述各种信号特性中的一个也可以是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。由此，轨道误差信号的振幅偏差少，可以得到良好的信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的追踪性能的记录再生装置。此外，所述各种信号特性中的一个也可以是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。由此，可以得到良好的摆动信号质量，并可以应对存取速度快且稳定的介质旋转以及地址检测性能的记录再生装置。进而，也提供如下的介质特性规定方法。一种介质特性规定方法，对于具有可记录的多个记录层的光信息记录介质，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来决定。由此，抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差，从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。此外，所述各种信号特性的值也可以在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。由此，不必在每层变更各种检测电路的特性，可以采用廉价的评价装置、记录再生装置进行处理。此外，所述各种信号特性由所述区本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光信息记录介质，具有可记录的多个记录层，其特征在于，所述多个记录层中、某记录层Ａ的某一区域Ｘ中的各种信号特性，由在照射到所述区域Ｘ的光束的光线轴上对于所述记录层Ａ邻接到入射端的记录层Ｂ的区域Ｙ是已记录区的条件来进行决定。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2003-8-22 298630/2003;JP 2004-5-27 157352/20041.一种光信息记录介质，具有可记录的多个记录层，其特征在于，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来进行决定。2.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的值在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。3.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性也由所述区域Y是未记录区的条件决定，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同。4.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。5.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。6.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。7.如权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。8.一种介质特性规定方法，其特征在于，对于具有可记录的多个记录层的光信息记录介质，所述多个记录层中、某记录层A的某一区域X中的各种信号特性，由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A邻接到入射端的记录层B的区域Y是已记录区的条件来进行决定。9.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的值在所述多个记录层中以相等的值作为目标值。10.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性也在所述区域Y是未记录区的条件下决定，并且，与在所述区域Y是已记录区的条件决定的所述区域X中的各种信号特性不同。11.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道交叉信号的振幅。12.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是在光束横切轨道时得到的轨道误差信号的振幅。13.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的振幅。14.如权利要求8所述的介质特性规定方法，其特征在于，所述各种信号特性的一个是作为轨道的弯曲分量的摆动信号的相对噪声质量。15.一种信号检测方法，比较在照射到光信息记录介质具有的可记录的多个记录层中、某记录层A的某一区域X的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：前川博史，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：JP[日本]