光记录介质制造技术

本发明专利技术提供一种光记录介质，其具有多层记录层，在任意一层记录层都能够形成良好的记录标记。光记录介质（１０）含有第一记录层（１４）以及第二记录层（１６），相对配置在激光的入射面（１８）近侧的第二记录层（１６）厚于配置在比该第二记录层（１６）更远离激光的入射面（１８）的一侧的第一记录层（１４）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有多层记录层的光记录介质。
技术介绍
作为信息记录介质，CD(Compact Disc)，DVD(Digital Versatile Disc)等光记录介质被广泛利用。而且，近年来受人注目的是，通过采用蓝色或蓝紫色激光作为照射光，能够记录比以往更大容量的信息的光记录介质。另外，光记录介质大致分为不可追加数据或擦写数据的ROM(Read OnlyMemory)型、可擦写数据的RW(Rewritable)型、只能追加一次数据的R(Recordable)型。R型光记录介质通过激光照射记录层而形成反射率低于周围的空间部的记录标记来记录数据。并且，记录用的激光也照射到记录标记周围的空间部，但由于照射到空间部的记录用的激光的光量较少，所以空间部的反射率和激光照射之前的记录层的反射率相等。另外，R型的光记录介质利用光电检测器来检测出的由激光照射记录层所构成的记录标记的反射率和空间部的反射率的差来再生数据。这种光记录介质由于具有多层记录层，所以能够提高相应的记录容量。在具有多层记录层的R型光记录介质上记录数据时，通过调整记录用的激光的焦点使其与记录对象的记录层相吻合，能够选择性地将数据记录到记录对象的记录层。另外，通过调整再生用的激光的焦点使其与再生对象的记录层相吻合，能够选择性地从再生对象的记录层再生数据。这种具有多层记录层的R型的光记录介质利用对各记录层照射同等输出的再生用的激光，可以用光电检测器能够检测出各记录层的反射光的强度的近似值。具体地说，可以用光电检测器检测出的相邻的两层记录层的反射光的反射率为未满二倍的范围内的近似值。但是，激光通过上侧记录层照射到配置在与激光的入射面相对离开的位置的下侧记录层，由于该激光的一部分被上侧记录层所吸收，所以到达下侧记录层的激光的光量相应地减少。因此，在对下侧记录层进行照射的再生用的激光的输出和对上侧记录层的照射的再生用的激光的输出相等时，到达下侧记录层的激光的光量比到达上侧记录层的激光的光量小。进而，由于对下侧记录层照射的激光的反射光通过上侧记录层而到达光电检测器，所以反射光也被上侧记录层吸收一部分。因此，对下侧记录层照射的再生用的激光的输出和对上侧记录层照射的再生用的激光的输出相等，并且，在下侧记录层的反射率和上侧记录层的反射率相等时，光电检测器检测出的下侧记录层的反射率的值比上侧记录层的反射率的值低。对此，公知的是将上侧记录层做成比下侧记录层薄的R型的光记录介质(参照例如，JP特开2003-266936号公告)。简单地说明其作用。图6是表示单层记录层的厚度和反射率的关系的图。另外，在图6中，带有符号S的曲线是记录层的空间部的反射率，带有符号M的曲线是记录标记的反射率。如符号S曲线所示，记录层在规定的厚度时空间部的反射率最大，比规定的厚度薄或厚时，其反射率都有下降的倾向。另外，如符号M曲线所示，对于记录标记也是一样，在大致相同的厚度时反射率最大，比规定的厚度薄或厚时，反射率都有下降的倾向。另外，记录标记的反射率和空间部的反射率的差也是在这些反射率成为最大时的厚度附近为最大，比上述厚度薄或厚时，反射率的差都减少，当记录层过于厚或过于薄时，反射率的差都过于小而不能读取记录标记。因此，例如，以反射率最大时的厚度而形成下侧记录层，由于上侧记录层比该厚度薄，能够使下侧记录层的反射率比上侧记录层的反射率高。通过这样的结构，对下侧记录层照射的激光的输出和对上侧记录层照射的激光的输出相等，由此，即使到达下侧记录层的激光的光量比到达上侧记录层的激光的光量小，进而照射下侧记录层的激光的反射光的一部分被上侧记录层所吸收，然后到达光电检测器，这时光电检测器也能够检测出来自双方记录层的反射光的反射率的近似值。另外，在比反射率最大时的厚度更厚的区域，能够得到记录标记的反射率和空间部的反射率的足够的差的范围窄，而且在此范围内，由于不能相对于接近最大值的下侧记录层的反射率而充分地减少上侧记录层的反射率，所以在该点上也可以选择将上侧记录层做成比下侧记录层薄的结构。进一步，由于上侧记录层比下侧记录层薄，可以减少上侧记录层的激光吸收量，并增加到达下侧记录层的激光的光量，所以在该点上也可以选择将上侧记录层做成比下侧记录层薄的结构。但是，由于上侧记录层比下侧记录层薄，有时不能在上侧记录层形成期望的特性良好的记录标记。具体地说，如上所述，由于上侧记录层变薄，上侧记录层的记录标记的反射率以及其周围的空间部的反射率降低，同时它们的反射率的差也缩小，所以当使上侧记录层薄到能够使到达下侧记录层的激光的光量充分地增加的程度时，有可能在上侧记录层相对空间部不能够形成反射率足够低的记录标记。
技术实现思路
本专利技术是鉴于这种问题而研制的，其目的在于，提供一种光记录介质，其具有多层记录层，在任意一层记录层都能够形成良好的记录标记。本专利技术通过一种光记录介质来实现上述目，该光记录介质包含多层记录层，在这些记录层中，使配置在相对激光的入射面近侧的记录层厚于配置在比该记录层远离激光的入射面一侧的记录层。本专利技术人在研制本专利技术的过程中，尝试使用各种材料来形成记录层时，发现使用规定的材料形成的记录层的消光系数显著地低于以往的记录层。另外，发现该记录层通过激光的照射能够形成与周围的空间部相比厚度增加的记录标记。这样，通过使上侧记录层比下侧记录层厚，能够在上侧记录层形成期望的特性良好的记录标记。另外，通过将上侧记录层的消光系数至少抑制在例如0.35或其以下的低值，即使相对激光的入射面侧配置的上侧记录层形成得厚，由于上侧记录层很难吸收对配置在比其远离激光入射面一侧的下侧记录层进行照射的激光，因此，能够提高用光电检测器检测出的下侧记录层的反射率，同时也能够在下侧记录层形成良好的记录标记。另外，形成与周围的空间部相比厚度增加的记录标记时，该记录标记的反射率相对于上述图6中表示的带有M符号的曲线所示记录标记的反射率，与只增加厚度的厚的记录层的记录标记的反射率相等。换而言之，记录层的厚度和记录标记的反射率的关系如图1所示那样，与图6相对，带有符号M的只增加厚度的厚的曲线向厚度薄的方向平行移动。由此，趋近于空间部的反射率最大时的厚度以及更厚的区域的空间部的反射率和记录标记的反射率的差变大。特别是，在比空间部的反射率最大时的厚度更厚的区域，空间部的反射率和记录标记的反射率的差大的范围被扩大。换而言之，在比空间部的反射率最大时的厚度更厚的区域，能够对记录层的厚度进行设定的范围被扩大。因此，例如，将下侧记录层的厚度设定为趋近于空间部的反射率最大时的厚度，由于使下侧记录层的反射率高于上侧记录层的反射率，所以即使上侧记录层比下侧记录层厚，也可以得到足够大的上侧记录层的记录标记的反射率和空间部的反射率的差，并且，通过这样增加上侧的记录层的厚度，能够如上所述在上侧的记录层形成期望的特性良好的记录标记。这样，本专利技术实现这样的光记录介质，其通过将配置在相对激光的入射面侧的上侧记录层，形成得比远离入射面一侧的下层记录层更厚，从而任意一层记录层都能得到良好的记录特性以及再生特性，与使上侧记录层的厚度和下层记录层的厚度相同或是比下侧记录层薄的常识即以往的技术相对，本专利技术是基于完全不同的概念而研制的。即，通过如下所述的专利技术可以实现上述目的。(1)一种光记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录介质，其特征在于，含有多层记录层，这些记录层中，配置在相对接近激光的入射面侧的记录层比配置在相比于该记录层远离上述激光的入射面侧的记录层厚。

【技术特征摘要】
JP 2005-7-15 2005-207200;JP 2006-4-21 2006-1185251.一种光记录介质，其特征在于，含有多层记录层，这些记录层中，配置在相对接近激光的入射面侧的记录层比配置在相比于该记录层远离上述激光的入射面侧的记录层厚。2.如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，上述记录层中，与配置在离上述激光的入射面最远的位置上的记录层相比，至少配置在上述入射面侧的记录层能够通过激光的照射而形成与周围的空间部相比厚度增加的记录标记。3.如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，上述记录层中，与配置在离上述激光的入射面最远的位置上的记录层相比，至少配置在上述入射面侧的记录层的消光系数为0.35或其以下。4.如权利要求2所述的光记录介质，其特征在于，上述记录层中，与配置在离上述激光的入射面最远的位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：三岛康儿，由德大介，
申请(专利权)人：TDK股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]