【技术实现步骤摘要】
本专利技术总地涉及垂直磁记录介质,更特别地,涉及用于磁记录硬盘驱动器的具有垂直磁记录层的盘。
技术介绍
垂直磁记录是在磁记录硬盘驱动器中实现超高记录密度的途径之一,其中所记录的位(bit)在记录层中垂直或离面(out-of-plane)取向地存储。普通类型的垂直磁记录系统是利用“双层”介质的系统。这类系统如图1所示,具有单写极类型的记录头。双层介质包括形成在“软磁”或较低矫顽力导磁衬层(SUL)上的垂直磁数据记录层(RL)。SUL用作磁场从记录头的写极到返回极的磁通返回路径。图1中,RL示出为具有垂直记录或磁化的区域,相邻区域具有相反的磁化方向,如箭头所示。相邻的相反方向的磁化区域之间的磁转变(magnetic transition)作为所记录的位可被读元件或头检测。图2是现有技术垂直磁记录盘的横截面的示意图,示出了作用在记录层RL上的写场Hw。该盘还包括硬盘衬底、用于SUL的生长的籽层或始层(onsetlayer,OL)、用于中断SUL的导磁膜与RL之间的磁交换耦合并促进RL的外延生长的非磁交换中断层(EBL)、以及保护覆层(OC)。如图2所示,RL位于“表象(apparent)”记录头(ARH)的间隙内,与纵向或面内(in-plane)记录相比其允许明显更高的写场。ARH包括盘之上的作为真实写头(RWH)的写极(图1)、以及RL下面的有效次级写极(effective secondary write pole)(SWP)。SWP由SUL促成,SUL通过EBL自RL去耦,并且在写过程期间由于其高磁导率而产生RWH的磁镜像。这有效地使RL在ARH的间隙中 ...
【技术保护点】
一种垂直磁记录介质,包括:衬底;所述衬底上的导磁材料的衬层;垂直磁记录层,在所述衬层上且包括颗粒铁磁Co合金以及Ta和Nb中的一种或多种的一种或多种氧化物;以及非磁交换中断层,在所述衬层和所述记录层之间,用于 磁去耦所述记录层和所述衬层,所述交换中断层具有小于15nm的厚度。
【技术特征摘要】
US 2005-8-12 11/203,3601.一种垂直磁记录介质,包括衬底;所述衬底上的导磁材料的衬层;垂直磁记录层,在所述衬层上且包括颗粒铁磁Co合金以及Ta和Nb中的一种或多种的一种或多种氧化物;以及非磁交换中断层,在所述衬层和所述记录层之间,用于磁去耦所述记录层和所述衬层,所述交换中断层具有小于15nm的厚度。2.如权利要求1所述的介质,其中所述记录层具有大于约5000Oe的矫顽力Hc。3.如权利要求1所述的介质,其中所述记录层具有比约-1500Oe更负的成核场Hn。4.如权利要求1所述的介质,其中所述交换中断层的厚度大于8nm且小于14nm。5.如权利要求1所述的介质,其中所述交换中断层由选自含有Ru、Ti、Re、Os以及Ru、Ti、Re和Os的一种或多种的合金的组的材料形成。6.如权利要求5所述的介质,其中所述交换中断层基本由Ru构成。7.如权利要求1所述的介质,还包括所述衬层与所述交换中断层之间的籽层且其中所述交换中断层直接在所述籽层上。8.如权利要求1所述的介质,其中所述记录层中的所述颗粒Co合金包括通过颗粒间材料分离的Co合金晶粒,且其中Ta和Nb中的一种或多种的一种或多种氧化物作为颗粒间材料存在。9.如权利要求8所述的介质,其中所述记录层还包括Cr以及Cr的一种或多种氧化物,且其中所述记录层中存在的氧的量大于约22原子百分比且小于约35原子百分比。10.如权利要求9所述的介质,其中所述记录层不含Nb,且其中所述记录层中存在的Ta的量大于约2原子百分比并小于约5原子百分比。11.如权利要求9所述的介质,其中所述记录层不含Ta,且其中所述记录层中存在的Nb的量大于约2原子百分比并小于约5原子百分比。12.如权利要求1所述的介质,其中所述记录层是包括通过非磁反铁磁耦合层分隔开的第一和第二颗粒铁磁Co合金层的反铁磁耦合(AFC)记录层,所述第二层还包括Ta和Nb中的一种或多种的一种或多种氧化物并且所述第一层位于所述交换中断层与所述第二层之间,所述AFC记录层在没有外加磁场时具有基本的净磁矩。13.如权利要求1所述的介质,其中所述导磁材料的衬层由选自含有合金CoFe、CoNiFe、NiFe、FeCoB、CoCuFe、FeAlSi、FeTaN、FeN、FeTaC、CoTaZr和CoZrNb的组的材料形成。14.如权利要求1所述的介质,其中所述导磁材料的衬层是通过非磁...
【专利技术属性】
技术研发人员:霍亚V多,伯恩德海因茨,池田圭宏,高野贤太郎,肖敏,
申请(专利权)人:日立环球储存科技荷兰有限公司,
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]
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