光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法技术

本发明专利技术提供了一种光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法。该光学信息再现设备包括：参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。因此，可以使用周边光束而判断当前跟踪状态，并且在再现光学信息时使用该判断的结果而进行跟踪伺服控制处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，更具体地涉及这样一种光学信息再现设备及光学信息再现方法，该光学信息再现设备可以在再现光学信息时使用在待再现的再现光束附近的周边光束(peripheral beam)的光学信息而控制跟踪位置。
技术介绍
通常，作为用于存储光学信息的光学数据记录装置，已知压缩光盘(CD)、数字多功能光盘(DVD)、高清晰度DVD(HD-DVD)和蓝光光盘(BD)。随着近年来信息和计算机业的迅速发展，需要能够满足大存储容量以及高速数据输入和输出能力的下一代存储系统。满足这种需要而受到重视的系统之一为利用体全息技术原理的光学信息处理系统，即全息光学信息处理系统。该全息光学信息处理系统是基于如下原理而进行设计的使两个具有不同入射角的光束在对光束敏感的感光介质上的预定位置处相交，以在该感光介质中记录由两个光束的干涉而形成的干涉图案。即，在作为感光介质的光学信息记录介质上记录这样的干涉图案，该干涉图案是通过使包括数据信息的信号光束与以不同于该信号光束的角度照射的参考光束在该光学信息记录介质上的预定位置处彼此相交而形成的。在再现光学信息时，使用通过仅向记录的干涉图案照射参考光束从该干涉图案生成的衍射图像，而恢复原始数据。该全息光学信息处理系统通过使用多种复用方法而以三维的方式在光学信息记录介质的同一位置反复记录数据。通过采用这种反复记录处理，可以显著地增加具有有限面积的光学信息记录介质的存储能力，从而实现超大容量的存储系统。复用方法的示例可以包括角度复用方法、相位编码复用方法、波长复用方法、分形复用方法、移位复用方法、旋转复用(peristrophic multiplexing)方法和多域复用(polytopic multiplexing)方法。已对该全息光学信息处理系统进行了研究，从而通过适当地使用这些复用方法而增加数据记录密度。例如，该全息光学信息处理系统这样进行操作在记录数据时增加信号光束的密度，并且通过其中形成有通孔的分束器使待再现的再现光束透射而阻挡其他的周边光束。然而，因为要允许再现光束通过分束器的通孔，所以这种全息光学信息处理系统对诸如设备振动的环境变化敏感。因此，需要准确的跟踪伺服控制处理。即，需要这样的处理检查是否从期望的轨道准确地检测到再现光束，并且在未正确地定位轨道时通过伺服控制处理而正确地定位轨道。当没有适当地执行跟踪伺服控制处理时，待再现的再现光束不会通过狭缝并且光束检测器不能获得正确的光学信息图像，从而导致错误率增加。因此，非常需要在再现全息光学信息时能够准确有效地进行跟踪控制处理的技术。
技术实现思路
为了解决上述问题而作出本专利技术。本专利技术一些方面的第一优点在于提供了一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备可以在再现光学信息时通过使用周边光束的光学信息进行有效的跟踪伺服控制处理而再现准确的光学信息。本专利技术一些方面的第二优点在于提供了一种光学信息再现设备的跟踪伺服控制器，该跟踪伺服控制器可以在再现光学信息时通过使用周边光束的光学信息而检测跟踪伺服控制信息。本专利技术一些方面的第三优点在于提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法可以在再现光学信息时通过使用周边光束的光学信息而控制跟踪位置。根据本专利技术的一方面，提供了一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备包括参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。根据本专利技术的另一方面，提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括如下步骤向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。附图说明图1是示意性地示出了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。图2是示出了图1所示的分束器的结构的立体图。图3是示出了根据本专利技术另一示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。图4是示出了在图2所示的再现光束处理器的周边光束检测器中的光束检测处理的视图。图5是示出了在图4所示的示例中当光学信息记录介质运动了预定距离时从光学检测区检测的图像的示例的视图。图6是一曲线图，示出了在跟踪操作正常时在光学信息记录介质旋转的情况下从光学检测区A和光学检测区B检测的光束强度分布。图7是示出了当跟踪位置从正常位置向上运动时由周边光束检测器检测到的图像的示例的视图。图8是示出了其中光学信息记录介质从图7所示的位置进一步向上运动并且轨道最远离正常位置的情况的视图。图9是一曲线图，示出了当轨道从正常位置缓慢向上运动时光学检测区A和光学检测区B中的光束强度的变化。图10是示出了在光学检测区A与光学检测区B之间光束强度的差异变化的曲线图。图11是示出了用于检测具有四个光学检测区的周边光斑图像的光束强度分布的示例的曲线图。图12是示出了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现方法的流程图。具体实施例方式下面将参照附图详细地描述根据本专利技术某些示例性实施例的。图1是示意性地示出了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。将参照图1来描述光学信息再现设备的示例。如该图所示，光学信息再现设备包括参考光束提供单元100、周边光束检测单元200、跟踪伺服单元300和再现光束检测单元400。其中记录有光学信息的光学信息记录介质1具有盘形状。在光学信息记录介质1中存在多个被复用和记录的光斑(spot)。各光斑是指其中记录有光学信息的记录区。参考光束提供单元100向再现记录区和在再现记录区周围的周边记录区照射参考光束R。通过向光学信息记录介质1照射参考光束R，从再现记录区再现再现光束Pd，并且从周边记录区再现周边光束Pn。再现光束Pd和周边光束Pn可以具有P偏振。具有P偏振的再现光束Pd和周边光束Pn向周边光束检测单元200传播。周边光束检测单元200包括偏振分束器240、分束器260、λ/4波片250和周边光束检测器270。周边光束检测单元200还包括第一透镜210、第二透镜220和第三透镜230。第二透镜220和第三透镜230具有相同的焦距“f”。将第一透镜210和第二透镜220之间的距离设定为“2f”。从光学信息记录介质1发出的再现光束Pd和周边光束Pn通过第一透镜210向偏振分束器240传播。偏振分束器240使从第一透镜210传播的再现光束Pd和周边光束Pn向第二透镜220透射。偏振分束器240具有分束面241。分束面241使具有P偏振的光束透射并使具有S偏振的光束反射。因此，从第一透镜210传播的再现光束Pd和周边光束Pn向第二透镜220传播。分束器260布置在距第二透镜220焦距“f”的位置处。λ/4波片250布置在第二透镜220与分束器260之间。因此，通过第二透镜220本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备包括：参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束 从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测穿过所述周边光束检测单元的 再现光束。

【技术特征摘要】
KR 2006-4-6 10-2006-0031303;KR 2006-9-25 10-2006-01.一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备包括参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测穿过所述周边光束检测单元的再现光束。2.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元包括分束器，该分束器使所述周边光束与所述再现光束相分离；和周边光束检测器，该周边光束检测器检测由所述分束器分离出的所述周边光束。3.根据权利要求2所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元还包括偏振分束器，该偏振分束器布置在所述光学信息记录介质与所述分束器之间；和波片，该波片布置在所述偏振分束器与所述分束器之间。4.根据权利要求3所述的光学信息再现设备，其中，在所述分束器中形成有将所述周边光束反射至所述偏振分束器的反射膜、和使所述再现光束透射的通孔，并且其中，所述周边光束检测器布置在由所述偏振分束器反射的光束的光路中。5.根据权利要求2所述的光学信息再现设备，其中，在所述分束器中形成有使所述再现光束透射的通孔，并且其中，所述周边光束检测器布置在所述分束器的所述周边光束入射侧。6.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述跟踪伺服单元包括跟踪位置确定部，该跟踪位置确定部对检测到的周边光束的光学信息进行分析以确定跟踪状态；跟踪位置控制器，该跟踪位置控制器基于所述跟踪位置确定部的跟踪状态确定结果而输出用于调整跟踪位置的控制信号；和跟踪位置调整部，该跟踪位置调整部响应于从所述跟踪位置控制器输出的控制信号而调整跟踪位置。7.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元具有用于检测所述周边光束的...

【专利技术属性】
技术研发人员：金学善，尹弼相，黄义石，
申请(专利权)人：大宇电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]