用于多层记录载体的多光斑检测器装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于多层记录载体的检测器装置、拾取设备以及驱动设备，其中为了抑制串扰效应提供主光束检测器装置和布置在主光束检测器装置相对侧的两对副光束检测器装置。举例来说，获得的两个三光斑系统可以分别用于聚焦误差信号和跟踪误差信号，其中可以对附属光斑进行控制以具有与主光束同相或者反相的所希望的条纹图案。除了减少聚焦或者跟踪误差之外，上述方案还允许减少间隔层的厚度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于诸如双层光盘的多层记录载体的检测器装置、光学拾取设备以及驱动设备。可光学记录的记录载体或者信息载体已广为人知并且用在借助诸如激光束的辐射光束而在信息载体上记录数据的记录装置中。该辐射光束聚焦在信息载体的记录层上。在辐射光束强度或者辐射功率足够的情况下，处于焦斑位置的记录层的光学性质将发生变化，其结果是在记录层中产生标记。通过改变辐射光束的强度，可以在该记录层中形成标记的图案。所记录的图案包括要以编码形式记录的数据。这种可光学记录的信息载体的例子是CD-R(Compact Disc Recordable可记录的紧致盘)或者CD-RW(Compact Disc Rewritable可重写的紧致盘)或者DVD-R(Digital Versatile Disc Recordable可记录的数字通用盘)或者相关的DVD+R。为了扩展可光学记录的信息载体的存储容量，已经采用包括多个叠加信息或者记录层的信息载体。这种多层信息载体的记录层可以是只读的和/或可记录的(即，一次写入)和/或可重写的类型。多层可光学记录的信息载体的每个记录层都可以通过将辐射光束聚焦在相关记录层上而分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测由主光束和多个副光束在多层记录载体上的反射而产生的辐射图案的检测器装置，所述检测器装置包括：主光束检测器装置（２０－１），其用于检测从所述多层记录载体反射的所述主光束；一对第一副光束检测器装置（２０－２ａ、２０－ ２ｂ），其布置在所述主光束检测器装置（２０－１）的相对侧，并与所述主光束检测器装置（２０－１）相隔第一预定距离，并设置为用于检测所述多个副光束的各自的第一对副光束；以及一对第二副光束检测器装置（２０－３ａ、２０－３ｂ），其布置在所述 主光束检测器装置（２０－１）的相对侧，并与所述主光束检测器装置（２０－１）相隔第二预定距离，并设...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2004-12-20 04106744.81.一种用于检测由主光束和多个副光束在多层记录载体上的反射而产生的辐射图案的检测器装置，所述检测器装置包括主光束检测器装置(20-1)，其用于检测从所述多层记录载体反射的所述主光束；一对第一副光束检测器装置(20-2a、20-2b)，其布置在所述主光束检测器装置(20-1)的相对侧，并与所述主光束检测器装置(20-1)相隔第一预定距离，并设置为用于检测所述多个副光束的各自的第一对副光束；以及一对第二副光束检测器装置(20-3a、20-3b)，其布置在所述主光束检测器装置(20-1)的相对侧，并与所述主光束检测器装置(20-1)相隔第二预定距离，并设置为用于检测所述多个副光束的各自的第二对副光束。2.如权利要求1所述的检测器装置，其中所述第二副光束检测器装置每个都包括用于获得聚焦误差信号的四象限检测器元件(A、B、C、D)，并且其中所述第二预定距离大于所述第一预定距离。3.如权利要求1或2所述的检测器装置，其中所述第一副光束检测器装置每个都包括两个一半的检测器元件(A、B)以获得推挽跟踪误差信号。4.一种用于多层记录载体的拾取设备，包括根据权利要求1到3中任意一个的检测器装置，用于向所述多层记录载体发射辐射光束的辐射源(30)，以及用于将所述辐射源(30)发射的辐射光束分成所述主光束和所述多个副光束并将所述主光束和所述副光束辐射到所述多层记录载体的分束装置(40)。5.如权利要求4所述的设备，其中所述分束装置(20)包括衍射光栅。6.一种用于提供对多层记录载体的访问的驱动设备，所述驱动设备包括如权利要求4或5所述的拾取设备。7.如权利要求6所述的设备，其中所述分束装置(20)适合于产生与所述主光束成第一预定角度的所述第一对...

【专利技术属性】
技术研发人员：JHM斯普鲁特，HCF马滕斯，S斯塔林加，PH沃尔利，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]