用于促进多种测试模式的测试访问端口架构制造技术

一种系统包括测试模式寄存器、一组引脚和测试访问端口控制器。所述测试访问端口控制器通过根据第一引脚协议配置所述一组引脚来启动第一测试模式。所述测试访问端口控制器将第一引脚配置成接收基于第一协定的第一测试模式数据，并且将第二引脚配置成输出基于所述第一测试模式数据的第一测试结果数据。基于检测到存储在所述测试模式寄存器中的寄存器命令，所述测试访问端口控制器通过根据第二引脚协议配置所述一组引脚来启动第二测试模式。所述测试访问端口控制器将所述第一引脚配置成接收基于第二协定生成的第二测试模式数据，并且将所述第二引脚配置成输出基于所述第二测试模式数据的第二测试结果数据。模式数据的第二测试结果数据。模式数据的第二测试结果数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于促进多种测试模式的测试访问端口架构
[0001]优先权申请
[0002]本申请要求于2019年2月12日提交的美国申请序列号16/274,102的优先权权益，所述美国申请通过引用整体并入本文。


[0003]本公开的实施例总体上涉及存储器子系统，并且更具体地涉及用自动测试向量对存储器子系统控制器进行的结构测试。

技术介绍

[0004]存储器子系统可以是如固态驱动器(SSD)等存储系统，并且可以包含一或多个存储数据的存储器组件。存储器组件可以是例如非易失性存储器组件和易失性存储器组件。通常，主机系统可以利用存储器子系统来将数据存储在存储器组件处并从存储器组件中检索数据。
附图说明
[0005]根据下文给出的详细描述和本公开的各个实施例的附图，将更充分地理解本公开。
[0006]图1展示了根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统的示例计算环境。
[0007]图2是展示根据本公开的一些实施例的被提供为存储器子系统的一部分的多模式测试子系统的组件的框图。
[0008]图3是展示根据本公开的一些实施例的可以包含作为多模式测试子系统的测试访问端口(TAP)控制器的一部分的状态机的状态图。
[0009]图4是展示了根据本公开的一些实施例的在线测试装置(ICT)的组件的框图。
[0010]图5是根据本公开的一些实施例的展示多模式测试子系统在执行用于根据多种测试模式之一对存储器子系统控制器进行测试的方法时的操作的数据流程图。
[0011]图6和7是根据本公开的一些实施例的促进根据多种测试模式对存储器子系统控制器进行测试的示例方法的流程图。
[0012]图8是本公开的实施例可以在其中操作的示例计算机系统的框图。
具体实施方式
[0013]本公开的各方面涉及用于促进存储器子系统控制器的多模式测试的测试访问端口(TAP)架构。存储器子系统在下文中也被称为“存储器装置”。存储器子系统的实例是存储系统，如SSD。在一些实施例中，存储器子系统是混合存储器/存储子系统。通常，主机系统可以利用包含一或多个存储器组件的存储器子系统。主机系统可以提供要存储在存储器子系统处的数据，并且可以请求要从存储器子系统中检索的数据。存储器子系统控制器(以下简称为“控制器”)可以从主机系统接收命令或操作，并且可以将命令或操作转换为指令或适
当命令，以实现对存储器组件的期望访问。
[0014]对存储器子系统执行制造测试，以确保所有组件正确组装并按预期运行。控制器的制造测试利用依赖于自动测试模式生成(ATPG)的方法(也被称为“基于扫描的测试”)。ATPG涉及开发被称为“测试向量”的独特的输入组，以测试控制器的结构。
[0015]在印刷电路板(PCB)上的控制器制造之后，对控制器结构和功能进行测试和验证。联合测试行动组(JTAG)是在制造之后验证设计和测试PCB的行业标准。JTAG指定使用专用调试端口来实施提供对控制器的访问的串行通信接口，而无需直接从外部访问系统地址和数据总线。接口连接到实施有状态协议的片上测试访问端口(TAP)以访问一组测试寄存器。JTAG还包含一种用于测试印刷电路板上的互连的方法规范，被称为边界扫描测试。
[0016]一般情况下，符合JTAG、边界扫描测试和ATPG可能会消耗控制器的许多引脚(例如，42个引脚)。然而，由于引脚数量较少，常规控制器通常无法支持符合所有这些测试模式所需的引脚数量，并且由于如PCB面积等设计约束，无法添加另外的引脚。
[0017]本公开的各方面通过具有多模式测试子系统的控制器解决了常规控制器在符合JTAG、边界扫描和ATPG方面的上述和其它缺陷，所述多模式测试子系统包含减少了必要的引脚计数以促进多种测试模式的TAP架构。TAP架构包括TAP控制器，所述TAP控制器实施有状态协议以根据多个引脚协议配置控制器的一组有限引脚(例如，五个)。每个引脚协议对应于测试模式之一，并指定所述一组引脚的包含每个引脚的规定功能的引脚分配。
[0018]最初，在上电时，TAP控制器根据与第一测试模式相对应的第一引脚协议配置控制器的所述一组引脚。例如，TAP控制器可以通过根据JTAG引脚分配配置所述一组引脚的引脚分配来实施JTAG模式，所述引脚分配包含测试数据输入(TDI)引脚、测试数据输出(TDO)引脚、测试模式选择(TMS)引脚、测试时钟引脚(TCLK)和测试复位引脚(TRST)。
[0019]多模式测试子系统进一步包括测试模式寄存器，所述测试模式寄存器用于存储寄存器命令，以触发TAP控制器从第一测试模式转变到第二测试模式。因此，基于检测到断言在测试模式寄存器中的寄存器命令，TAP控制器通过根据第二引脚协议配置所述一组引脚来启动第二测试模式。按照上面的实例，当处于JTAG模式时，如果TAP控制器在测试模式寄存器中检测到寄存器命令，则TAP控制器根据包含以下的扫描引脚分配配置所述一组引脚的引脚分配以启用基于ATPG的测试方法：扫描输入引脚、扫描输出引脚、扫描启用引脚、扫描时钟引脚和扫描复位引脚。
[0020]测试模式寄存器中的寄存器命令是不稳定的，并且因此会一直持续直到控制器的电力循环。在电力循环之后，从测试模式寄存器中清除寄存器命令，并且TAP控制器将控制器恢复到第一测试模式(例如，JTAG模式)。
[0021]当处于第一测试模式时，如果TMS信号在TMS引脚上被断言，则TAP控制器通过根据第三引脚协议配置所述一组引脚来在控制器处启动第三测试模式。例如，TAP控制器可以通过根据包含以下的边界扫描引脚分配配置所述一组引脚的引脚分配来实施边界扫描模式，以启用基于边界扫描的测试方法：TDI引脚、TDO引脚、边界扫描模式引脚、TCLK引脚和TRST引脚。
[0022]应当理解，上文所描述的方法提供了对存储器子系统控制器的常规测试的改进，因为其减少了必要的引脚计数，以促进对存储器子系统控制器的多种模式进行测试。因此，消耗了更少的引脚电子资源，由此能够提高并行性(例如，可以并行测试另外的装置)，这进
而降低了测试成本。所述方法通过允许在PCBA层面重复使用ATPG测试向量提供了另外的改进，由此减少了通过具有系统约束的固件实施方案开发测试覆盖率方面所做的潜在冗余工作。此类向量重复使用还通过提供所确定的故障覆盖率评估，改进了常规的PCBA层面测试。此外，通过重用ATPG测试向量，此方法降低了测试时的执行成本。
[0023]图1展示了根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统110的示例计算环境100。存储器子系统110可以包含媒体，如存储器组件112
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1到112
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N。存储器组件112
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1到112
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N可以是易失性存储器组件、非易失性存储器组件或此类组合。在一些实施例中，存储器子系统110是存储系统。存储系统的实例是SSD。在一些实施例中，存储器子系统110是混合存储器/存储子系统。通常，计算环境100可以包含使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种存储器子系统控制器，其包括：一组引脚；测试模式寄存器，所述测试模式寄存器用于存储寄存器命令，所述寄存器命令用于将所述存储器子系统控制器从第一测试模式切换到第二测试模式；以及测试访问端口控制器，所述测试访问端口控制器用于执行包括以下的操作：启动所述第一测试模式，所述启动所述第一测试模式包括根据第一引脚协议配置所述一组引脚，所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚包括：分配第一引脚接收第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；以及分配第二引脚输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的；检测存储在所述测试模式寄存器中的所述寄存器命令；以及基于检测到所述寄存器命令，启动所述第二测试模式，所述启动所述第二测试模式包括根据第二引脚协议重新配置所述一组引脚，所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚包括：重新分配所述第一引脚接收第二测试模式数据，所述第二测试模式数据是基于与所述第二测试模式相对应的第二协定生成的；以及重新分配所述第二引脚输出第二测试结果数据，所述第二测试结果数据是通过将所述第二测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器而产生的。2.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中：所述第一测试模式是联合测试行动组(JTAG)模式，所述JTAG模式使得能够基于JTAG测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；所述第一测试模式数据是基于所述JTAG测试向量生成的；所述第二测试模式是扫描模式，所述扫描模式促进基于自动测试模式生成(ATPG)测试向量对所述存储器子系统控制器进行测试；并且所述第二测试模式数据是基于所述ATPG测试向量生成的。3.根据权利要求2所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚进一步包括：分配第三引脚作为测试模式选择引脚接收测试模式选择信号；分配第四引脚作为测试复位引脚接收测试复位信号；以及分配第五引脚作为测试时钟引脚接收测试时钟信号。4.根据权利要求3所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第二引脚协议重新配置所述一组引脚进一步包括：重新分配所述第三引脚作为扫描启用引脚接收扫描启用信号；重新分配所述第四引脚作为扫描复位引脚接收扫描复位信号；以及重新分配所述第五引脚作为扫描时钟引脚接收扫描时钟信号。5.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中所述测试访问端口控制器被进一步配置成执行包括以下的操作：检测所述存储器子系统控制器处的电力循环；以及
基于所述存储器子系统控制器处的所述电力循环恢复到所述第一测试模式，所述恢复到所述第一测试模式包括根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚。6.根据权利要求5所述的存储器子系统控制器，其中所述操作进一步包括：当处于所述第一测试模式时，检测所述一组引脚中的第三引脚上断言的测试模式选择信号；以及基于检测到所述一组引脚中的所述第三引脚上断言的所述测试模式选择信号来启动第三测试模式，所述启动所述第三测试模式包括根据第三引脚协议重新配置所述一组引脚。7.根据权利要求6所述的存储器子系统控制器，其中所述根据所述第三引脚协议重新配置所述一组引脚包括：将所述一组引脚中的所述第三引脚的引脚分配从测试模式选择引脚改变为边界扫描模式引脚。8.根据权利要求6所述的存储器子系统控制器，其中所述第三测试模式是边界扫描模式。9.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其进一步包括扫描输入寄存器，所述扫描输入寄存器用于存储所述第二测试模式数据，所述第二测试模式数据包括位串，所述第二测试模式被串行扫描到所述扫描输入寄存器中；串行
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并行转换器，所述串行
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并行转换器用于对所述位串执行串行
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并行转换，以将一或多个位加载到一组扫描链中的每个扫描链中；扫描输出寄存器，所述扫描输出寄存器用于存储从所述一组扫描链中移出的测试响应；以及并行
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串行转换器，所述并行
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串行转换器用于对所述测试响应执行并行
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串行转换，以生成所述第二测试结果数据。10.根据权利要求1所述的存储器子系统控制器，其中：所述第一引脚：当处于所述第一测试模式时，接收所述第一测试模式数据；并且当处于所述第二测试模式时，接收所述第二测试模式数据；并且所述第二引脚：当处于所述第一测试模式时，输出所述第一测试结果数据；并且当处于所述第二测试模式时，输出所述第二测试结果数据。11.一种方法，其包括：在包括一组引脚的存储器子系统控制器处启动第一测试模式，所述启动所述第一测试模式包括根据第一引脚协议配置所述一组引脚，所述根据所述第一引脚协议配置所述一组引脚包括：分配第一引脚接收第一测试模式数据，所述第一测试模式数据是基于与所述第一测试模式相对应的第一协定生成的；以及分配第二引脚输出第一测试结果数据，所述第一测试结果数据是通过将所述第一测试模式数据应用于所述存储器子系统控制器...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：