一种用于飞针测试的定位补偿方法技术

本发明专利技术公开了一种用于飞针测试的定位补偿方法，飞针测试采用立式飞针测试机，所述飞针测试机的测试头设有CCD相机，方法包括：(1)安装测试PCB，并调取所述PCB的测试资料；(2)通过所述CCD相机测得所述PCB待测点的X轴与轴坐标，并于测试资料中的理论点逐项对比。本发明专利技术采用的定位方法，通过CCD相机获得坐标并于资料中的坐标对比，以此实现位置补偿，CCD相机的运行步骤稳定，并且测试精度较高，最主要是能够快速直接的得到待测点的坐标，并同时予以补偿，一步到位，提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于飞针测试的定位补偿方法


[0001]本专利技术属于飞针测试机
，特别是涉及一种用于飞针测试的定位补偿方法。

技术介绍

[0002]飞针测试机用来测试电路板，分为两大类，一类是测试PCB，另一类是测试 PCBA，测试PCB的飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的PCB板(印刷电路板)进行测试的一种仪器，主要测试线路板的绝缘和导通值，测试仪一般采用“真值比较定位法”，能对测试过程和故障点进行实时监控，保证测试的准确性，测试PCBA的飞针测试机主要针对电子元器件的值，电气特性等做电性测试。

技术实现思路

[0003]本专利技术主要解决的技术问题是提供一种用于飞针测试的定位补偿方法，通过CCD相机获得坐标并于资料中的坐标对比，以此实现位置补偿。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：
[0005]一种用于飞针测试的定位补偿方法，飞针测试采用立式飞针测试机，所述飞针测试机的测试头设有CCD相机，定位方法包括以下步骤：
[0006](1)安装测试PCB，并调取所述PCB的测试资料；
[0007](2)通过所述CCD相机测得所述PCB待测点的X轴与轴坐标，并于测试资料中的理论点逐项对比；
[0008](3)控制探针针尖对理论点进行扎点并进行电气测试，并将测试结果与理论值比较；
[0009](2)若理论点的电气测试结果超出元器件测试基准值范围，采用盲测法进行盲测，并对盲测目标测试点进行电气测试并得出电气测试结果与基准值范围比较；
[0010](3)若盲测目标测试点的电气测试结果超出元器件测试基准值范围，采用视觉引导系统获取实际目标测试点，并对实际目标测试点进行电气测试。
[0011]进一步地说，所述CCD相机的测试方式为：根据CCD相机所取得的数据与测试探针和CCD相机之间的预设数据来与对位点对位。
[0012]进一步地说，所述立式飞针测试机采用4针测试头。
[0013]进一步地说，所述CCD相机的移动速度为0.1mm/step。
[0014]进一步地说，所述测试资料包含有PCB板的板边到第一对位点在X轴方向及Y轴的距离。
[0015]进一步地说，所述测试头包括测试轴，所述CCD相机固定安装于所述测试轴。
[0016]进一步地说，所述测试轴设有两根，两根测试轴分别用于测试所述PCB的正面和反面，两个测试轴皆设有所述CCD相机。
[0017]本专利技术的有益效果：
[0018]本专利技术采用的定位方法，通过CCD相机获得坐标并于资料中的坐标对比，以此实现位置补偿，CCD相机的运行步骤稳定，并且测试精度较高，最主要是能够快速直接的得到待测点的坐标，并同时予以补偿，一步到位，提高测试效率。
[0019]所述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例详细说明如后。
具体实施方式
[0020]下面对本专利技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本专利技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本专利技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0021]实施例：一种用于飞针测试的定位补偿方法，飞针测试采用立式飞针测试机，所述飞针测试机的测试头设有CCD相机，定位方法包括以下步骤：
[0022](1)安装测试PCB，并调取所述PCB的测试资料；
[0023](2)通过所述CCD相机测得所述PCB待测点的X轴与轴坐标，并于测试资料中的理论点逐项对比；
[0024](3)控制探针针尖对理论点进行扎点并进行电气测试，并将测试结果与理论值比较；
[0025](2)若理论点的电气测试结果超出元器件测试基准值范围，采用盲测法进行盲测，并对盲测目标测试点进行电气测试并得出电气测试结果与基准值范围比较；
[0026](3)若盲测目标测试点的电气测试结果超出元器件测试基准值范围，采用视觉引导系统获取实际目标测试点，并对实际目标测试点进行电气测试。
[0027]进一步地说，所述CCD相机的测试方式为：根据CCD相机所取得的数据与测试探针和CCD相机之间的预设数据来与对位点对位。
[0028]进一步地说，所述立式飞针测试机采用4针测试头。
[0029]本实施例作为最佳实施方式，采用的是4针测试头，也可以采用其他规格的测试针头，或者测试刀头。
[0030]进一步地说，所述CCD相机的移动速度为0.1mm/step。
[0031]进一步地说，所述测试资料包含有PCB板的板边到第一对位点在X轴方向及Y轴的距离。
[0032]进一步地说，所述测试头包括测试轴，所述CCD相机固定安装于所述测试轴。
[0033]进一步地说，所述测试轴设有两根，两根测试轴分别用于测试所述PCB的正面和反面，两个测试轴皆设有所述CCD相机
[0034]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0035]以上所述仅为本专利技术的实施例，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于飞针测试的定位补偿方法，其特征在于：飞针测试采用立式飞针测试机，所述飞针测试机的测试头设有CCD相机，定位方法包括以下步骤：(1)安装测试PCB，并调取所述PCB的测试资料；(2)通过所述CCD相机测得所述PCB待测点的X轴与轴坐标，并于测试资料中的理论点逐项对比；(3)控制探针针尖对理论点进行扎点并进行电气测试，并将测试结果与理论值比较；(2)若理论点的电气测试结果超出元器件测试基准值范围，采用盲测法进行盲测，并对盲测目标测试点进行电气测试并得出电气测试结果与基准值范围比较；(3)若盲测目标测试点的电气测试结果超出元器件测试基准值范围，采用视觉引导系统获取实际目标测试点，并对实际目标测试点进行电气测试。2.根据权利要求1所述的一种用于飞针测试的定位补偿方法，其特征在于：所述CCD相机的测试方式为：根据CC...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺国彧，李东影，
申请(专利权)人：昆山兢美电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：