导正检测装置及硅片检测分选设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种导正检测装置及硅片检测分选设备，其中，导正检测装置包括：导正机构、左右崩检测机构以及输送带；所述导正机构包括：第一导正单元、第二导正单元以及驱动单元；所述左右崩检测机构包括：左检测单元、右检测单元以及滑轨。本发明专利技术的第一导正单元、第二导正单元在导正时由初始位置进行相向运动，进而可避免压坏输送而来的硅片，有利于减少检测分选过程中产生的碎片。同时，两个检测单元能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测单元中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。提高了检测的效率。提高了检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
导正检测装置及硅片检测分选设备


[0001]本专利技术涉及硅片检测分选
，尤其涉及一种导正检测装置及硅片检测分选设备。

技术介绍

[0002]硅片作为重要的工业原材料，被广泛用于太阳能电池、电路板等产品的生产制造中。因此，在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控，以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。
[0003]目前，在硅片的检测分选过程中，需要将硅片通过流线输送至需求的检测工位。上述过程存在如下问题：1)、硅片输送导正时存在碎片的问题；2)、硅片在检测时，检测机构调试较为不便。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在提供一种导正检测装置及硅片检测分选设备，以克服现有技术中存在的不足。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：
[0006]一种导正检测装置，其包括：导正机构、左右崩检测机构以及输送带；
[0007]所述导正机构包括：第一导正单元、第二导正单元以及驱动单元；
[0008]所述第一、第二导正单元对称设置，并分布于所述输送带的两侧，任一导正单元包括：底座、设置于所述底座上的若干导轮，所述若干导轮沿输送方向并排地设置于所述底座上，所述第一、第二导正单元的导轮之间形成导正空间，二者有驱动单元带动相向或者相背运动；
[0009]所述左右崩检测机构包括：左检测单元、右检测单元以及滑轨；
[0010]所述滑轨位于所述输送带的下方，并与所述输送带相垂直，所述左检测单元与右检测单元设置于所述滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件，所述检测相机、点激光、光源分别朝向检测工位设置，并能够相对所述检测工位进行独立调节，所述调节组件能够带动对应的检测机构沿所述滑轨进行调节。
[0011]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述驱动单元包括：电机、双向螺杆以及滑块，所述电机与所述双向螺杆传动连接，所述双向螺杆具有间隔且对称设置的第一螺纹和第二螺纹，所述滑块分别装配于所述第一、第二螺纹上，所述第一导正单元的底座与所述第一螺纹上的滑块相连接，所述第二导正单元的底座与所述第二螺纹上的滑块相连接，并能够所述滑块相向或者相背运动。
[0012]作为本专利技术的导正检测装置的改进，任一导正单元还包括：导向板，所述导向板安装于所在导正单元各导轮的下游位置，所述第一、第二导正单元的导向板对称设置，且所述第一、第二导正单元的导向板之间的间距沿输送方向逐渐增大。
[0013]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述第一、第二导正单元相向运动至极限位置时，所述第一、第二导正单元的导轮之间的间距略大于硅片的宽度。
[0014]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述光源安装于所述第一固定板上，并面向所述检测工位设置，所述光源能够相对所述第一固定板进行调节；
[0015]所述点激光和检测相机安装于第二固定板上，并面向所述检测工位设置，所述点激光和检测相机能够分别相对所述第二固定板进行调节；
[0016]所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。
[0017]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述光源枢转安装于所述第一固定板上，所述第一固定板上开设有适于所述光源角度调整的第一调节槽。
[0018]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述点激光所在的安装座枢转安装于所述第二固定板上，所述安装座上开设有适于所述点激光角度调节的第二调节槽，所述第二固定板上设置有伸入所述第二调节槽中的凸起。
[0019]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述检测相机所在的安装座上开设有滑槽，所述第二固定板上开设有适于所述检测相机滑动调节的锁孔。
[0020]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。
[0021]作为本专利技术的导正检测装置的改进，所述固定座固定于所述滑轨所在的底座上，所述调节件为一螺杆，所述螺杆一端螺接于所述固定座上，另一端螺接于所在检测机构的底部凸块上。
[0022]为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：
[0023]一种硅片检测分选设备，其包括如上所述的导正检测装置。
[0024]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术的第一导正单元、第二导正单元在导正时由初始位置进行相向运动，进而可避免压坏输送而来的硅片，有利于减少检测分选过程中产生的碎片。同时，两个检测单元能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测单元中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本专利技术导正检测装置一实施例的立体示意图；
[0027]图2为图1中导正机构的立体放大示意图；
[0028]图3为图2中导正机构另一角的立体示意图；
[0029]图4为图1中左右崩检测机构的立体放大示意图；
[0030]图5为图4所示左右崩检测机构的俯视图；
[0031]图6为图4中调节组件的立体放大示意图。
具体实施方式
[0032]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0033]如图1所示，本专利技术一实施例的导正检测装置包括：导正机构100、左右崩检测机构200以及输送带300。
[0034]输送带300包括：输送台30以及分布于输送台30两侧边缘的由电机驱动循环运动的皮带线31。
[0035]如图2、3所示，导正机构100位于输送带300的上游，其用于对输送而来的硅片进行导正，同时可避免压坏输送而来的硅片，减少检测分选过程中产生的碎片。
[0036]具体地，导正机构100包括：基板10、第一滑轨11、第一导正单元12、第二导正单元13以及驱动单元14。
[0037]其中，第一导正单元12、第二导正单元13分布于输送带300的两侧，并位于上述基板10上，二者能够由驱动单元14带动沿与输送带300相垂直的第一滑轨11进行相向或者相背运动。因此，第一导正单元12、第二导正单元13之间的间距不是固定的，在对来料硅片进行导正时，第一导正单元12、第二导正单元13相向运动，可对来料硅片进行导正。如此，通过合理设置两个导正单元的运动行程，不会本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种导正检测装置，其特征在于，所述导正检测装置包括：导正机构、左右崩检测机构以及输送带；所述导正机构包括：第一导正单元、第二导正单元以及驱动单元；所述第一、第二导正单元对称设置，并分布于所述输送带的两侧，任一导正单元包括：底座、设置于所述底座上的若干导轮，所述若干导轮沿输送方向并排地设置于所述底座上，所述第一、第二导正单元的导轮之间形成导正空间，二者有驱动单元带动相向或者相背运动；所述左右崩检测机构包括：左检测单元、右检测单元以及滑轨；所述滑轨位于所述输送带的下方，并与所述输送带相垂直，所述左检测单元与右检测单元设置于所述滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件，所述检测相机、点激光、光源分别朝向检测工位设置，并能够相对所述检测工位进行独立调节，所述调节组件能够带动对应的检测机构沿所述滑轨进行调节。2.根据权利要求1所述的导正检测装置，其特征在于，所述驱动单元包括：电机、双向螺杆以及滑块，所述电机与所述双向螺杆传动连接，所述双向螺杆具有间隔且对称设置的第一螺纹和第二螺纹，所述滑块分别装配于所述第一、第二螺纹上，所述第一导正单元的底座与所述第一螺纹上的滑块相连接，所述第二导正单元的底座与所述第二螺纹上的滑块相连接，并能够所述滑块相向或者相背运动。3.根据权利要求1或2所述的导正检测装置，其特征在于，任一导正单元还包括：导向板，所述导向板安装于所在导正单元各导轮的下游位置，所述第一、第二导正单元的导向板对称设置，且所述第一、第二导正单元的导向板之间的间距沿输送方向逐渐增大。4.根据权利要求1所述的导正检测装置，其特征在于，所述第一、第二导正单元相...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙靖，曹葵康，胡辉来，顾烨，孙俊，苏傲，钱春辉，程璧，张体瑞，温延培，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：