一种用于检测ATE通道连通性的方法技术

本发明专利技术公开了一种用于检测ATE通道连通性的方法，包括如下步骤：S01：将通道两两相连形成测试对，并在两两相连的通道之间设置测试电阻；S02：在测试对的其中一个通道输入端口输入测试电流或者测试电压，并在另外一个通道输出端口测量电压值或者电流值；根据测试电流和测量电压值的对应关系或者测试电压和测量电流值的对应关系判断所述测试对中两个通道是否连通。本发明专利技术提供的一种用于检测ATE通道连通性的方法，能够降低集成电路自动测试设备中通道检测对于第三方设备以及人员的依赖性，且能够缩短测试时间，降低测试成本。降低测试成本。降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测ATE通道连通性的方法


[0001]本专利技术属于ATE通道测试领域，具体属于一种用于检测ATE通道连通性的方法。

技术介绍

[0002]近年来，在国际形势的影响下，我国集成电路行业呈井喷式发展，随着越来越多芯片企业的发展，对集成电路测试设备的需求也爆发性的增长，因此集成电路测试设备后期的维护，保养，检测，维修也成为了关键问题。
[0003]如今大部分的集成电路测试公司在设备出问题时需要耗费大量的时间成本去确认，在这个过程中，不仅需要供应商的协助，还需要连接一些复杂的外接电路去执行一些厂商不对外开放的检测代码才能得到结果。
[0004]检测后如果为测试机硬件问题，不能在现场解决问题，往往需要集成电路测试公司协调时间寄回厂商进行维修，
[0005]在检测过程中存在以下几个问题：
[0006]1.在集成电路行业中厂商用于检测的第三方设备往往十分昂贵，少则几万人民币，多则百万人民币，并不是集成电路测试公司能够轻易承担的；
[0007]2.整个过程都需要设备厂商的人员投入，人力资源要求高；
[0008]3.整个检测周期非常长，如果集成电路测试公司和设备提供商不在同一个地方，周期可能延长至几天甚至几个星期；
[0009]4.综合以上，整体的经济成本将会非常高昂。

技术实现思路

[0010]本专利技术的目的是提供一种用于检测ATE通道连通性的方法，能够降低集成电路自动测试设备中通道检测对于第三方设备以及人员的依赖性，且能够缩短测试时间，降低测试成本。
[0011]为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种用于检测ATE通道连通性的方法，包括如下步骤：
[0012]S01：将通道两两相连形成测试对，并在两两相连的通道之间设置测试电阻；
[0013]S02：在测试对的其中一个通道输入端口输入测试电流或者测试电压，并在另外一个通道输出端口测量电压值或者电流值；根据测试电流和测量电压值的对应关系或者测试电压和测量电流值的对应关系判断所述测试对中两个通道是否连通。
[0014]进一步的，所述测试对中的测试电阻的电阻值均相等。
[0015]进一步的，所述测试电阻的电阻值为1KΩ。
[0016]进一步的，所述步骤S01和步骤S02之间还包括编写测试程序，所述测试程序确保ATE中所有测试对依次被输入测试电流或者测试电压，并依次输出测量电压值或测量电流值；从而获得扫描清单。
[0017]进一步的，所述测试程序的编写过程为：将输入量和输出量写入ATE的驱动程序
中。
[0018]进一步的，所述步骤S02中每个测试对输入的测试电流均相等。
[0019]进一步的，所述步骤S02中在测试对的其中一个通道输入端口输入测试电流，并在另外一个通道输出端口测量电压值U；若测量电压值U与IR的偏差小于等于5％；则判定该测试对中两个通道连通；若U＝0，则判断该测试对中至少一个通道短路；若测量电压值U与IR的偏差大于5％，则判断该测试对中至少一个通道异常；
[0020]其中，所述I为测试电流值，R为测试电阻的电阻值。
[0021]进一步的，所述步骤S02中每个测试对输入的测试电压均相等。
[0022]进一步的，所述步骤S02中在测试对的其中一个通道输入端口输入测试电压，并在另外一个通道输出端口测量电流值I
’
；若测量电流值I
’
与U
’
/R的偏差小于等于5％；则判定该测试对中两个通道连通；若I
’
＝0，则判断该测试对中至少一个通道短路；若测量电流值I
’
与U
’
/R的偏差大于5％，则判断该测试对中至少一个通道异常；
[0023]其中，所述U
’
为测试电压值，R为测试电阻的电阻值。
[0024]本专利技术具有如下有益效果：本专利技术方法简单快捷，基于ATE原始的驱动程序即可实现测试程序编写；且整个测试过程快速准确，仅需要增加测试电阻即可，避免了现有技术中对于第三方测试装置以及专业人员的依懒性，显著降低了测试成本，提高了通道测试效率。
附图说明
[0025]附图1为实施例1中测试方法的测试示意图；
[0026]附图2为实施例1中扫描清单示意图。
具体实施方式
[0027]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做进一步的详细说明。
[0028]ATE(Automatic Test Equipment，集成电路自动测试设备)设备的每块板卡都有很多通道，每个通道都具有输出电压，测量电压，输出电流，测试电流等电压以及电流的参数功能；同时也具备符合特定的时间内约束内完成的逻辑操作。现有技术中对于通道测试的方法均需要依赖于第三方检测装置，整个测试过程成本高，速度慢。本专利技术用于测量通道连通性的方法仅需要借助于外接测试电阻即可实现，同时利用ATE本身就支持的可编程的特点，我们将所有需要的输出编写进检测程序里面，最后将所有的检测结果显示在日志输出界面，根据检测结果即可快速判断出各个通道的连通情况。
[0029]本专利技术提供的一种用于检测ATE通道连通性的方法，包括如下步骤：
[0030]S01：将通道两两相连形成测试对，并在两两相连的通道之间设置测试电阻；每个测试对中的测试电阻的电阻值均相等。测试电阻的电阻值优选可以设置为1KΩ。
[0031]本专利技术中测试对中的两个通道可以是ATE设备中任意两个通道，在实际检测过程中，我们在检测之前就把通道固定好了，因为可以认为测试对中的通道为具有测量能力的任意通道。本专利技术中测试对的形成也是随机生成的，可以根据通道的位置以及布局方式将方便连接的两个通道通过测试电阻连接起来，形成测试对。不同方式连接的测试对并不会影响本专利技术的方案和保护范围。
[0032]在ATE设备中形成测试对以后，需要编写测试程序，测试程序确保ATE中所有测试对依次被输入测试电流或者测试电压，并依次输出测量电压值或测量电流值；从而获得扫描清单。测试程序的编写过程为：将输入量和输出量写入ATE的驱动程序中。测试程序是用VS编写的测试代码，具体的代码和ATE设计时的策略有关。比方测试程序用了专用的语句就可以调用通道让他供给测试电压或测试电流或者测量电压值或测量电流值。
[0033]S02：在测试对的其中一个通道输入端口输入测试电流或者测试电压，并在另外一个通道输出端口测量电压值或者电流值；根据测试电流和测量电压值的对应关系或者测试电压和测量电流值的对应关系判断测试对中两个通道是否连通。本步骤可以在测试程序的驱动下自动完成，进而获得扫描清单；扫描清单上记载了每一个测试对的输入和输出，根据输入和输出即可判断每个测试对中的两个通道的连通性。
[0034]本专利技术中具体的测试方法有两种，一种是输入电流，测量输出电压。具体如下：
[0035]每个测试对输入的测试电流均相等。在测试对的其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测ATE通道连通性的方法，其特征在于，包括如下步骤：S01：将通道两两相连形成测试对，并在两两相连的通道之间设置测试电阻；S02：在测试对的其中一个通道输入端口输入测试电流或者测试电压，并在另外一个通道输出端口测量电压值或者电流值；根据测试电流和测量电压值的对应关系或者测试电压和测量电流值的对应关系判断所述测试对中两个通道是否连通。2.根据权利要求1所述的一种用于检测ATE通道连通性的方法，其特征在于，所述测试对中的测试电阻的电阻值均相等。3.根据权利要求2所述的一种用于检测ATE通道连通性的方法，其特征在于，所述测试电阻的电阻值为1KΩ。4.根据权利要求1所述的一种用于检测ATE通道连通性的方法，其特征在于，所述步骤S01和步骤S02之间还包括编写测试程序，所述测试程序确保ATE中所有测试对依次被输入测试电流或者测试电压，并依次输出测量电压值或测量电流值；从而获得扫描清单。5.根据权利要求4所述的一种用于检测ATE通道连通性的方法，其特征在于，所述测试程序的编写过程为：将输入量和输出量写入ATE的驱动程序中。6.根据权利要求1所述的一种用于检测ATE通道连通性的方法，其特征在于，所述步骤S02中每个测试对输入的测试电流均相等。7.根据权利要求6所述的一种用于检测ATE通道...

【专利技术属性】
技术研发人员：翁亦鹏，牛孝忠，吉鹏，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：