一种消除积液影响的气井产能评价方法技术

技术编号:30341592 阅读:26 留言:0更新日期:2021-10-12 23:11
本发明专利技术属于气田开发研究领域,特别涉及一种消除积液影响的气井产能评价方法。该方法包括获取气井的基础数据,根据天然气的相对密度、地层深度、气井在产能测试时的井口套压,确定从气井的井口到井底处油套环空内静止气柱所产生的压力,得到积液气井在不积液条件下的井底压力;根据地层压力的拟压力,气井积液和不积液条件下的井底压力的拟压力,以及气井积液时的产量,确定气井在不积液条件下的产量,进而确定消除气井积液影响后的无阻流量。本发明专利技术方法能考虑气井积液对其产能评价的定量影响,填补了“产能评价中定量消除气井积液影响”的空白。本发明专利技术方法简单,用于指导积液气井产能评价时可操作性强、有效实用,具有很好的推广使用价值。广使用价值。广使用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种消除积液影响的气井产能评价方法


[0001]本专利技术属于气田开发研究领域,特别涉及一种消除积液影响的气井产能评价方法。

技术介绍

[0002]在边底水气藏或高含水饱和度的低渗透气藏开发过程中,若气井能量充足,则有足够的能力将井筒中的液体携带出井口;若气井能量不足、产量无法达到完全携液的最小临界流量,则井筒内的水(液)不能连续流出井口,致使部分液体沉降、聚集在井底,出现井底积液。如何定量反映积液对气井产能的影响,正确认识气井在不积液条件下的真实产能,目前尚未见相关文献报道。为此本专利技术基于渗流力学理论推导提出了能消除气井积液影响的气井产能评价方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种消除积液影响的气井产能评价方法,能消除气井积液对产能评价的影响,填补了“产能评价中定量消除气井积液影响”的空白。
[0004]本专利技术采用的技术方案如下:
[0005]一种消除积液影响的气井产能评价方法,步骤如下:
[0006](1)收集关于气井的基础数据,包括天然气的相对密度γ
g
,地层深度H,地层压力P
R
,产能测试时的井口套压P
t
、井底压力P
wfac
和产量q
gac

[0007](2)基于步骤(1)中获得的天然气的相对密度γ
g
、地层深度H、气井在产能测试时的井口套压P
t
,确定从气井的井口到井底处油套环空内静止气柱所产生的压力,计算得到不积液条件下气井的井底压力P
wfn

[0008](3)根据拟压力定义式计算得到地层压力的拟压力Ψ(P
R
)、气井不积液条件下的井底压力的拟压力Ψ(P
wfn
),以及气井积液时的井底压力的拟压力Ψ(P
wfac
);
[0009]上述的拟压力定义式中,P
a
为大气压力,u
g
为气体粘度,Z为气体偏差因子;
[0010](4)根据步骤(1)中气井积液条件下的产量q
gac
和步骤(3)中的拟压力Ψ(P
R
)、Ψ(P
wfn
)、Ψ(P
wfac
),确定积液气井在不积液条件下的产量q
gn
,所述气井在不积液条件下的产量q
gn
的计算式为:
[0011][0012](5)根据步骤(4)中获得的积液气井在不积液条件下的产量q
gn
和步骤(2)中获得的不积液条件下气井的井底压力P
wfn
,计算得到消除气井积液影响后的无阻流量。
[0013]上述技术方案的有益效果是:
[0014]本专利技术提出的消除气井积液影响的产能评价方法,根据气井的地层深度,天然气
的相对密度和井口套压,确定出积液气井在不积液条件下的井底压力,然后利用气井积液和不积液条件下的产量之间的相互关系,计算得到积液气井在不积液条件下的产量,根据该积液气井在不积液条件下的产量和井底压力,从而确定出消除气井积液影响的无阻流量。本专利技术提出的气井产能评价方法准确性较高,能考虑气井积液对其产能评价的定量影响,填补了“产能评价中定量消除气井积液影响”的空白,且本专利技术的气井产能预测方法简单、可操作性强、有效实用,具有很好的推广使用价值。
[0015]进一步,所述消除气井积液影响后的无阻流量的计算式如下:
[0016][0017]其中,q
AOFN
为消除气井积液影响后的无阻流量。
[0018]进一步,收集关于气井的基础数据还包括:产能测试过程中井筒内流体的温度梯度T
grad
,产能测试时的井口流体温度T
head

[0019]基于步骤(1)中获得的地层深度H、井筒内流体的温度体度T
grad
和井口流体温度T
head
,采用油气藏工程方法获得井筒内流体的平均温度
[0020]基于步骤(1)中获得的天然气的相对密度γ
g
、地层深度H、气井在产能测试时的井口套压P
t
和步骤(2)获得的井筒内流体平均温度采用静止气柱井底压力模型计算得到积液气井在不积液条件下的井底压力P
wfn

[0021]作为其他实施方案,所述积液气井在不积液条件下的井底压力P
wfn
也可以计算如下:
[0022][0023]其中,T为油套环空内深度为h处的井筒气体温度,Z为气体偏差因子。
附图说明
[0024]图1是本专利技术的一种消除积液影响的气井产能评价方法流程图。
具体实施方式
[0025]以下用具体实例来说明本专利技术的技术方案,但本专利技术的保护范围不限于此。
[0026](一)基于拟压力形式的气井产量方程简介
[0027]根据渗流力学理论,可以推导得出基于拟压力形式的气井产量方程如下
[0028][0029]式中,q
g
为气井产量,k:地层渗透率,mD;h:地层有效厚度,m;T
sc
:地表标准条件温度,K;P
sc
:地表标准条件压力,MPa;T:地层温度,K;r
e
:气井供气半径,m;r
w
:井筒半径,m;Ψ(Press):压力Press的拟压力,定义如下
[0030][0031]式中,P
a
:大气压力,MPa;u
g
为气体粘度,mPa.s,可以根据经验公式计算获得,也可以根据实验获得的PVT参数表进行插值计算获得;Z为气体偏差因子。
[0032](二)气井积液对产量影响的定量评价模型推导
[0033]若忽略气井积液对储层的伤害,令气井积液时的井底压力为P
wfac
,相应的产量为q
gac
;令消除积液影响后气井不积液时的井底压力为P
wfn
,相应的产量为q
gn
;由式(1)可得
[0034][0035]式(3)便是积液对气井产量影响的定量评价模型,只要获得了气井积液条件下的井底压力P
wfac
和该积液气井在不积液条件下的井底压力为P
wfn
,就可以用式(3)定量评价气井积液对产量的影响。
[0036]气井积液后,其井底压力P
wfac
可以直接下压力计检测得到。在气井积液情况下,其不积液条件下的井底压力不能直接测量,而只能通过其它渠道获得。
[0037]若气井积液,其油套环空中存在液柱,井口套压加上环空中静止气柱和液柱所产生的压力即是积液情况下的井底压力。若气井不积液,那么其油套环空中是纯气体,其井底压力应等于井口套压P
t
加上油套环空中静止气柱产生的压力。此时可以本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种消除积液影响的气井产能评价方法,其特征在于,该方法的步骤如下:(1)收集关于气井的基础数据,包括天然气的相对密度γ
g
,地层深度H,地层压力P
R
,产能测试时的井口套压P
t
、井底压力P
wfac
和产量q
gac
;(2)基于步骤(1)中获得的天然气的相对密度γ
g
、地层深度H、气井在产能测试时的井口套压P
t
,确定从气井的井口到井底处油套环空内静止气柱所产生的压力,计算得到不积液条件下气井的井底压力P
wfn
;(3)根据拟压力定义式计算得到地层压力的拟压力Ψ(P
R
)、气井不积液条件下的井底压力的拟压力Ψ(P
wfn
),以及气井积液时的井底压力的拟压力Ψ(P
wfac
);上述的拟压力定义式中,P
a
为大气压力,u
g
为气体粘度,Z为气体偏差因子;(4)根据步骤(1)中气井积液条件下的产量q
gac
和步骤(3)中的拟压力Ψ(P
R
)、Ψ(P
wfn
)、Ψ(P
wfac
),确定积液气井在不积液条件下的产量q
gn
,所述气井在不积液条件下的...

【专利技术属性】
技术研发人员:周涌沂刘林松王立新
申请(专利权)人:中国石油化工股份有限公司华北油气分公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1