本发明专利技术公开了一种半导体元件抽样检测装置，包含处理器、运输抽样模块、采集模块、处理计算模块、分析匹配模块和标记提示模块；所述运输抽样模块用于将半导体元件进行运输并随机抽样，得到抽样半导体元件；所述采集模块用于采集抽样半导体元件的生产信息和检测信息；所述处理计算模块用于对生产信息和检测信息进行清洗处理；对清洗处理后的各项数据进行计算，得到检分值；所述分析匹配模块用于根据检分值对抽样半导体元件进行匹配分析，得到分析数据；本发明专利技术解决了现有方案中不能根据不同类型半导体元件对检测环境进行动态调整，导致半导体元件的检测效果不佳的技术问题。导体元件的检测效果不佳的技术问题。导体元件的检测效果不佳的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体元件抽样检测装置
[0001]本专利技术涉及半导体
，尤其涉及一种半导体元件抽样检测装置。
技术介绍
[0002]半导体元件的导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料的特殊电特性来完成特定功能，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和能量转换；半导体元件可应用于整流器、振荡器、发光器、放大器和测光器等器材。
[0003]现有的半导体元件在抽样检测时，不能根据不同类型半导体元件对检测环境进行动态调整，导致半导体元件的检测效果不佳。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种半导体元件抽样检测装置，其主要目的在于解决现有方案中不能根据不同类型半导体元件对检测环境进行动态调整，导致半导体元件的检测效果不佳的技术问题。
[0005]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0006]一种半导体元件抽样检测装置，包含处理器、运输抽样模块、采集模块、处理计算模块、分析匹配模块和标记提示模块；
[0007]所述运输抽样模块用于将半导体元件进行运输并随机抽样，得到抽样半导体元件；
[0008]所述采集模块用于采集抽样半导体元件的生产信息和检测信息，该生产信息包含类型数据、尺寸数据和颜色数据；该检测信息包含光波数据和波长数据；
[0009]所述处理计算模块用于对生产信息和检测信息进行清洗处理，得到类型处理数据、尺寸处理数据、颜色处理数据和加工处理数据以及光波处理数据和波长处理数据；对清洗处理后的各项数据进行计算，得到检分值；
[0010]所述分析匹配模块用于根据检分值对抽样半导体元件进行匹配分析，得到分析数据；
[0011]所述标记提示模块根据分析数据对抽样半导体元件进行标记和提示；所述处理器用于对各个模块中的数据计算进行处理。
[0012]进一步地，所述处理计算模块用于对生产信息和检测信息进行清洗处理的具体步骤为：
[0013]接收生产信息并获取类型数据、尺寸数据和颜色数据；对类型数据中抽样半导体元件的类型进行标记并获取对应的类型预设值；对尺寸数据中抽样半导体元件的长度、宽度和高度分别进行取值和标记；对颜色数据中的颜色值和颜色分布面积分别进行标记；
[0014]接收检测信息并获取光波数据和波长数据；对光波数据中的光波类型进行标记并获取对应的光波预设值；对波长数据中的波长进行取值并进行标记。
[0015]进一步地，对清洗处理后的各项数据进行计算的具体步骤为：
[0016]对清洗处理后的各项数据进行归一化处理并取值，利用公式计算得到颜色系数；其中，YSXi表示为颜色系数，a1和a2表示为不同的比例系数且均大于零，YZi表示为颜色数据中的颜色值，YMi表示为颜色数据中的颜色分布面积，i＝1，2，3...n；
[0017]利用公式计算得到检分值；其中，JFi表示为检分值，b1、b2和b3表示为不同的比例系数且均大于零，LYi表示为抽样半导体元件类型对应的类型预设值，CDi表示为抽样半导体元件的长度，KDi表示为抽样半导体元件的宽度，GDi表示为抽样半导体元件的高度，GYi表示为光波类型对应的光波预设值，BCi表示为波长数据中的波长，i＝1，2，3...n。
[0018]进一步地，所述分析匹配模块用于根据检分值对抽样半导体元件进行匹配分析的具体步骤为：
[0019]将检分值预设的检测阈值进行匹配，若检分值不大于检测阈值，则生成第一分析信号；若检分值大于检测阈值，则生成第二分析信号，并将第二分析信号对应的检分值标记为选中检分值；
[0020]根据第二分析信号计算选中检分值与检测阈值之间的比值，获取该比值的整数部分并进行分析，若该整数部分不大于k，则生成第一匹配信号；若该整数部分大于k，则生成第二匹配信号；其中，k为非零的自然数；
[0021]第一分析信号、第二分析信号、第一匹配信号和第二匹配信号构成分析数据。
[0022]进一步地，所述标记提示模块根据分析数据对抽样半导体元件进行标记和提示的具体步骤为：
[0023]对分析数据进行分析，若分析数据中包含第二分析信号，则判定该第二分析信号对应的抽样半导体元件异常，并根据第一匹配信号将对应的抽样半导体元件标记第一选中半导体元件；根据第二匹配信号将对应的抽样半导体元件标记第二选中半导体元件；根据第一选中半导体元件和第二选中半导体元件进行抽样提示。
[0024]本专利技术的有益效果：
[0025]本专利技术公开的各个方面，通过处理器、运输抽样模块、采集模块、处理计算模块、分析匹配模块和标记提示模块之间的配合使用，可以解决不能根据不同类型半导体元件对检测环境进行动态调整，导致半导体元件检测效率低的问题；
[0026]通过运输抽样模块将半导体元件进行运输并随机抽样，得到抽样半导体元件；通过采集模块采集抽样半导体元件的生产信息和检测信息；通过从半导体元件的类型、尺寸、颜色以及光波和波长方面进行数据采集，可以根据不同类型的半导体元件提供不同的检测光波并进行检测，可以有效提高检测的效率；
[0027]通过处理计算模块对生产信息和检测信息进行清洗处理，得到类型处理数据、尺寸处理数据、颜色处理数据和加工处理数据以及光波处理数据和波长处理数据；对清洗处理后的各项数据进行计算，得到检分值；通过对采集的各项数据进行处理和计算，使得各项数据标准化和规范化，并且各项数据之间建立联系，可以提高检测分析的准确性；
[0028]通过分析匹配模块根据检分值对抽样半导体元件进行匹配分析，得到分析数据；标记提示模块根据分析数据对抽样半导体元件进行标记和提示；通过检分值分析检测的半导体元件是否正常，并且对半导体元件进一步分析异常的程度，进而为半导体元件后续的处理提供支持。
附图说明
[0029]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0030]图1为本专利技术一种半导体元件抽样检测装置的模块示意图。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]请参阅图1所示，本专利技术为一种半导体元件抽样检测装置，包含处理器、运输抽样模块、采集模块、处理计算模块、分析匹配模块和标记提示模块；
[0033]所述运输抽样模块用于将半导体元件进行运输并随机抽样，得到抽样半导体元件；
[0034]所述采集模块用于采集抽样半导体元件的生产信息和检测信息，该生产信息包含类型数据、尺寸数据和颜色数据；该检测信息包含光波数据和波长数据；
[0035]本专利技术实施例中，运输抽样模块可以通过现有的运输设备将半导体元件进行运输，并随机对半导体元件进行抽样并准备检测；通过采集模块采集抽样的半导体元件的类型、尺寸和颜色以及检测时的光波和波长方面的数据；其中，颜色数据是获取本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体元件抽样检测装置，其特征在于，包含处理器、运输抽样模块、采集模块、处理计算模块、分析匹配模块和标记提示模块；所述运输抽样模块用于将半导体元件进行运输并随机抽样，得到抽样半导体元件；所述采集模块用于采集抽样半导体元件的生产信息和检测信息，该生产信息包含类型数据、尺寸数据和颜色数据；该检测信息包含光波数据和波长数据；所述处理计算模块用于对生产信息和检测信息进行清洗处理，得到类型处理数据、尺寸处理数据、颜色处理数据和加工处理数据以及光波处理数据和波长处理数据；对清洗处理后的各项数据进行计算，得到检分值；所述分析匹配模块用于根据检分值对抽样半导体元件进行匹配分析，得到分析数据；所述标记提示模块根据分析数据对抽样半导体元件进行标记和提示；所述处理器用于对各个模块中的数据计算进行处理。2.根据权利要求1所述的一种半导体元件抽样检测装置，其特征在于，所述处理计算模块用于对生产信息和检测信息进行清洗处理的具体步骤为：接收生产信息并获取类型数据、尺寸数据和颜色数据；对类型数据中抽样半导体元件的类型进行标记并获取对应的类型预设值；对尺寸数据中抽样半导体元件的长度、宽度和高度分别进行取值和标记；对颜色数据中的颜色值和颜色分布面积分别进行标记；接收检测信息并获取光波数据和波长数据；对光波数据中的光波类型进行标记并获取对应的光波预设值；对波长数据中的波长进...
【专利技术属性】
技术研发人员：周海生，蒋振荣，
申请(专利权)人：安徽富信半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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