具有可配置内部错误校正模式的存储器装置制造方法及图纸

技术编号:30217802 阅读:21 留言:0更新日期:2021-09-29 09:34
本发明专利技术提供针对从主机装置接收的信息,选择性地实施单错误校正(SEC)操作或单错误校正双错误检测(SECDED)操作而不明显地影响裸片大小的方法、系统和设备。举例来说,主机装置可指示存储器系统将使用一或多个通信(例如,消息)实施SECDED操作。在另一实例中,所述存储器系统可经硬连线以针对某些选项执行SECDED。所述存储器系统可调适与SEC操作相关联的电路系统以在不明显地影响裸片大小的情况下实施SECDED操作。为了使用SEC电路系统实施SECDED操作,所述存储器系统可包含一些额外电路系统以改变所述SEC电路系统的用途以用于SECDED操作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有可配置内部错误校正模式的存储器装置
[0001]交叉引用
[0002]本专利申请案要求2020年2月17日由沙佛(SCHAEFER)等人申请的标题为“具有可配置内部错误校正模式的存储器装置(MEMORY DEVICE WITH CONFIGURABLE INTERNAL ERROR CORRECTION MODES)”的第16/792,820号美国专利申请案和2019年2月19日由沙佛等人申请的标题为“具有可配置内部错误校正模式的存储器装置(MEMORY DEVICE WITH CONFIGURABLE INTERNAL ERROR CORRECTION MODES)”的第62/807,520号美国临时专利申请案的优先权,所述申请案中的每一者让与给本受让人且明确地并入本文中。

技术介绍

[0003]下文大体上涉及一种存储器系统,且更具体地说,涉及具有可配置内部错误校正模式的存储器装置。
[0004]存储器装置广泛用于将信息存储在例如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等的各种电子装置中。通过对存储器装置的不同状态进行编程来存储信息。举例来说本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法,其包括:识别经配置以用于以用于执行至少一个单错误校正(SEC)操作的第一模式和用于执行单错误校正双错误检测(SECDED)操作的第二模式操作的存储器装置正以所述第二模式操作;由以所述第二模式操作的所述存储器装置经由通道接收数据;由所述存储器装置至少部分地基于经由所述通道接收所述数据而使用所述SECDED操作确定与所述数据相关联的错误检测信息;将所述数据和所述错误检测信息存储在存储器单元阵列中;从所述存储器单元阵列检索所述数据和所述错误检测信息;以及至少部分地基于所述存储器装置正以所述第二模式操作而使用从所述存储器单元阵列检索的所述错误检测信息对从所述存储器单元阵列检索的所述数据执行所述SECDED操作。2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:至少部分地基于识别出所述存储器装置正以所述第二模式操作而配置所述存储器装置以用于校正从主机装置接收的所述数据中的错误,其中执行所述SECDED操作至少部分地基于配置所述存储器装置。3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:从所述存储器装置的模式寄存器检索用于操作所述存储器装置的模式的指示符,其中识别所述存储器装置正以所述第二模式操作至少部分地基于从所述模式寄存器检索所述指示符。4.根据权利要求1所述的方法,其中由所述存储器装置确定的所述错误检测信息包括码字和与所述数据的各部分相关联的一或多个奇偶校验位。5.根据权利要求4所述的方法,其进一步包括:至少部分地基于所述错误检测信息中包含的所述码字而识别从所述存储器单元阵列检索的所述数据中的错误;以及至少部分地基于所述错误检测信息中包含的奇偶校验位而确定所述数据的包含所述错误的部分。6.根据权利要求1所述的方法,其中执行所述SECDED操作进一步包括:使用所述错误检测信息识别从所述存储器单元阵列检索的所述数据中的单位错误;以及校正所述数据中的所述单位错误。7.根据权利要求1所述的方法,其中执行所述SECDED操作进一步包括:使用所述错误检测信息识别从所述存储器单元阵列检索的所述数据中的双位错误;以及将所述数据与所述双位错误的指示符一起发射到另一装置。8.根据权利要求1所述的方法,其中所述通道具有十六个导电路径。9.根据权利要求1所述的方法,其中由以所述第二模式操作的所述存储器装置确定的所述错误检测信息包括与所述数据的第一部分相关联的第一码字及与所述数据的第二部分相关联的第二码字。
10.根据权利要求1所述的方法,其中包含于所述错误检测信息中的码字与所有所述数据相关联。11.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:从主机装置接收请求所述存储器装置以所述第二模式操作的指示符;以及至少部分地基于接收到所述指示符而从所述第一模式切换到所述第二模式,其中识别所述存储器装置正以所述第二模式操作至少部分地基于从所述第一模式切换到所述第二模式。12.根据权利要求1所述的方法,其中与使用所述SECDED操作确定的所述数据相关联的所述错误检测信息存储在所述存储器单元阵列的用于存储与使用SEC操作确定的所述数据相关联的错误检测信息的区域中。13.一种设备,其包括:存储器单元阵列,每一存储器单元包括电容性存储元件;收发器,其经配置以经由数据通道与主机装置传达数据;以及错误检测逻辑,其与所述收发器耦合且经配置而以用于使用至少一个单错误校正(SEC)操作确定与所述数据相关联的错误检测信息的第一模式操作,且经配置而以用于...

【专利技术属性】
技术研发人员:S
申请(专利权)人:美光科技公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1