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具有可配置内部错误校正模式的存储器装置制造方法及图纸
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下载具有可配置内部错误校正模式的存储器装置的技术资料
文档序号:30217802
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本发明提供针对从主机装置接收的信息,选择性地实施单错误校正(SEC)操作或单错误校正双错误检测(SECDED)操作而不明显地影响裸片大小的方法、系统和设备。举例来说,主机装置可指示存储器系统将使用一或多个通信(例如,消息)实施SECDED操...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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