【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于单路径可逆扫描链的双向扫描单元
[0001]相关申请
[0002]本申请要求于2019年2月12日提交的第62/804320号美国临时专利申请和于2019年4月23日提交的第62/837218号美国临时专利申请,这些申请通过引用整体并入本文。
[0003]目前所公开技术涉及电路测试。所公开技术的各个实施方式可能对于扫描链诊断特别有用。
技术介绍
[0004]在硅上构建电路作为测试芯片可以提供对新的制造工艺如何工作的深入了解。传统地,半导体制造商主要依赖于SRAM(static random
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access memory,静态随机存取存储器)测试芯片来提升、验证和监控新的半导体制造工艺。然而,在SRAM测试芯片上使用的晶体管和电路几何结构,仅代表实际产品中发现的晶体管和电路几何结构的一小部分。近来年,带有逻辑电路部件的测试芯片(以下称为逻辑测试芯片)经常用来补充或替代SRAM测试芯片。虽然更接近地代表具有真实电路设计的芯片,但逻辑测试芯片不如SRAM测试芯片那样容易测试或诊断。
[0005]为了检查逻辑测试芯片是否按照设计制造和为了定位潜在缺陷,通常采用扫描测试。在这种技术中,一系列已知的值(测试刺激或测试模式)通过它们的顺序输入被移入(或加载到)被称为扫描单元的状态元件(state element)。这些扫描单元互连成用于扫描测试的扫描链。通过将集成电路置于被称为移位模式的特定模式,并然后施加一系列的被称为“移位脉冲”或“移位时钟脉冲”的时钟脉冲来实现移入。每个移位时钟脉
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电路,包括:包括双向扫描单元的多个扫描链,所述双向扫描单元中的每个双向扫描单元包括两个串行输入
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输出端口,所述串行输入
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输出端口基于控制信号用作串行数据输入端口或者串行数据输出端口,所述多个扫描链中的每个扫描链被配置为基于所述控制信号在第一方向或第二方向执行移位操作,所述第一方向与所述第二方向相反。2.如权利要求1所述的电路,其中,所述双向扫描单元中的每个双向扫描单元还包括两个三态缓冲器,所述两个三态缓冲器的输出分别耦接到所述双向扫描单元中的每个双向扫描单元的所述两个串行输入
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输出端口,并且所述两个三态缓冲器分别由所述控制信号和所述控制信号的反相来控制。3.如权利要求2所述的电路,其中,所述两个三态缓冲器在解多路复用器中。4.如权利要求2所述的电路,其中,所述双向扫描单元中的每个双向扫描单元还包括多路复用器,所述多路复用器的两个输入分别耦接到所述两个三态缓冲器的输出。5.如权利要求2所述的电路,其中,所述扫描单元中的每个扫描单元还包括常规扫描单元,所述常规扫描单元的串行输出耦接到所述两个三态缓冲器的输入。6.如权利要求1所述的电路,其中,所述扫描单元中的每个扫描单元还包括多路复用器和解多路复用器,所述解多路复用器的两个输出分别耦接到所述两个串行输入
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输出端口,并且所述多路复用器的两个输入分别耦接到所述两个串行输入
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输出端口。7.如权利要求1所述的电路,其中,所述扫描单元中的每个扫描单元还包括分别由所述控制信号和所述控制信号的反相控制的第一对三态缓冲器和第二对三态缓冲器,所述第一对三态缓冲器中的一个三态缓冲器的输出耦接到所述两个串行输入
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输出端口中的一个串行输入
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输出端口,所述第二对三态缓冲器中的一个三态缓冲器的输出耦接到所述两个串行输入
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输出端口中的另一个串行输入
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输出端口。8.一个或多个计算机可读介质,其存储有用于使计算机执行方法的计算机可执行指令,所述方法包括:在电路设计中创建多个扫描链用于测试根据所述电路设计制造的芯片,所述多个扫描链包括:双向扫描单元,所述双向扫描单元中的每个双向扫描单元包括两个串行输入
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输出端口,所述串行输入
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输出端口基于控制信号用作串行数据输入端口或者串行数据输出端口,所述多个扫描链中的每个扫描链被配置为基于所述控制信号在第一方向或第二方向执行移位操作,所述第一方向与所述第二方向相反。9.如权利要求8所述的一个或多个计算机可读介质,其中,所述双向扫描单元中的每个双向扫描单元还包括两个三态...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑武东,黄宇,
申请(专利权)人:西门子工业软件有限公司,
类型:发明
国别省市:
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