【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请总体上涉及电子设计自动化，更具体地，涉及通过分位数抽样对制造变异性特性进行分布估计。
技术介绍
1、许多设计者利用标准单元库来构建针对电子器件的电路设计。这些库中的标准单元通常包括对数字电路及其各种特性的描述，例如时序信息、功率估计、功能性、操作条件等，这些特性可以使用自由格式来指定。例如，自由格式可以包括用库中的标准单元的时序信息(例如单元延迟、转换时间以及建立和保持约束等)填充的查找表。
2、由于数字电路的时序和功率特性可能在制造的电子器件中变异(通常称为片上变异(on-chip variation，ocv))，所以标准单元描述还可以包括统计变异信息，例如在自由变异格式(liberty variation format，lvf)扩展到自由格式中指定的统计变异信息，其对与片上变异相关联的制造相关变异的影响进行建模。设计者通常在统计时序分析(statistical timing analysis，sta)期间利用统计变异信息来解释制造相关变异在功能验证期间对电路设计的时序路径中的延迟的影响。
3、用于表征标...
【技术保护点】
1.一种方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，针对所述制造变异的所述值的所述样本的所述子集对应于所述排序样本的正态四分位数。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，估计与所述电路设计的所述预测输出相关联的所述样本的所述排序中的误差还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其中，修改所述输出分布模型还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述值的分布包括在针对由所述电路设计描述的所述集成电路的制造过程期间产生参数值的概率分布。
7.根据权利要求1...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，针对所述制造变异的所述值的所述样本的所述子集对应于所述排序样本的正态四分位数。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，估计与所述电路设计的所述预测输出相关联的所述样本的所述排序中的误差还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其中，修改所述输出分布模型还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述值的分布包括在针对由所述电路设计描述的所述集成电路的制造过程期间产生参数值的概率分布。
7.根据权利要求1所述的方法，还包括：利用所述电路设计的所述操作变异的表征来执行所述电路设计的静态时序分析。
8.一种系统，包括：
9.根据权利要求8所述的系统，其中，针对所述制造变异的所述值的所述样本的所述子集对应于所述排序样本的正态四分位数。
10.根据权利要求8所述的系统，其中，响应于所述计算机可执行指令的执行，所述计算系统还被配置成通过以下步骤来估计与所述电路设计的所述预测输出相关联的所述样本的所述排序中的误差：
11.根据权利要求10所述的系统，其中，响应于所述计算机可执行指令的执行，所述计算系统还被配置成通过以下步骤来修改所述输出分布模型：
12.根据权利要求8所述的系统，其中，响应于...
【专利技术属性】
技术研发人员：J·库珀，
申请(专利权)人：西门子工业软件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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