一种芯片检测分选设备制造技术

本发明专利技术涉及生产自动化设备技术领域，公开一种芯片检测分选设备。该设备包括：吸取检测组件，包括运动平台、设置在运动平台上的检测模块和吸附件；芯片料盘放置包括用于放置芯片的芯片料盘；滚轮流道组件用于承接芯片载具，并使芯片夹具与所述芯片载具相分离，待芯片被吸取后芯片夹具复位；相机模组用于检测吸附件的位置和角度信息；所述检测模块用于对芯片进行检测，在检测符合要求后进行等级识别，并确定芯片和芯片料盘的位置信息；根据所述位置和角度信息，驱动所述吸附件平移吸取芯片，并将芯片放置在对应级别的所述芯片料盘上。本发明专利技术能够实现对芯片进行自动检测分选，大大提高设备的自动化程度，也提高了设备的工作效率。也提高了设备的工作效率。也提高了设备的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测分选设备


[0001]本专利技术涉及生产自动化设备
，更具体的说，特别涉及一种芯片检测分选设备。

技术介绍

[0002]芯片在使用前需要确定每个芯片的品质等级和性能，这就需要经过多次的检测。而每次的检测又可能产生新的问题，比如磕碰伤，划痕等。所以都要对芯片进行AOI检测和扫码识别，识别芯片在前工序的测试性能和品质等级情况，以便于把同品质等级的芯片放在同一个料盘中，便于后工序使用。现有的技术中，针对芯片的检测和识别、以及将芯片放置在料盘上等工序，都是在不同设备上分别完成实现的，即现有设备都是单一的功能，实现不了多功能的要求和多产品兼容性。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于针对现有技术存在的技术问题，提供一种芯片检测分选设备，能够进行芯片检测和分选，整体结构简单、功能可靠也易于实现，提高了生产效率和自动化程度。
[0004]为了解决以上提出的问题，本专利技术采用的技术方案为：
[0005]一种芯片检测分选设备，用于对承载于芯片夹具上的芯片进行检测分选，芯片夹具承载于芯片载具上，该芯片检测分选设备包括：吸取检测组件、滚轮流道组件、芯片料盘放置组件和相机模组；所述吸取检测组件包括运动平台、设置在运动平台上的检测模块和吸附件，所述运动平台带动检测模块和吸附件进行平移；所述芯片料盘放置组件包括用于放置芯片的芯片料盘；
[0006]所述滚轮流道组件用于承接芯片载具，并使芯片夹具与所述芯片载具相分离，待芯片被吸取后芯片夹具复位；
[0007]所述相机模组用于检测吸附件的位置和角度信息；
[0008]所述检测模块用于对芯片进行检测，在检测符合要求后进行等级识别，并确定芯片和芯片料盘的位置信息；
[0009]根据所述吸附件的位置和角度信息、以及芯片和芯片料盘的位置信息，运动平台驱动所述吸附件平移吸取芯片，并将芯片放置在对应级别的所述芯片料盘上。
[0010]进一步的，所述检测模块包括设置在所述运动平台的AOI检测相机和定位检测相机，所述AOI检测相机用于对芯片进行AOI检测，所述定位检测相机用于对芯片进行等级识别，并确定芯片和芯片料盘的位置信息。
[0011]进一步的，所述滚轮流道组件包括分拣输送线、设置在分拣输送线上的载具定位模块、载具阻挡模块及载具推出模块；所述载具定位模块用于对芯片载具进行定位，并使芯片夹具和芯片载具相分离后并复位；所述载具阻挡模块用于对芯片载具进行阻挡；所述载具推出模块用于将芯片分离后的芯片载具推出分拣输送线。
[0012]进一步的，所述载具推出模块包括推出气缸、与所述推出气缸的连接线规滑块、设置在所述线规滑块上的推座，所述推座上设置有推板、及带动所述推板升降运动的推板升降气缸。
[0013]进一步的，所述芯片料盘放置组件还包括支撑架，所述芯片料盘位于所述支撑架上；所述支撑架上还设置有与所述芯片料盘相对应的快速接头模块、以及连接所述快速接头模块的手动阀。
[0014]进一步的，所述相机模组包括视觉安装板、同轴设置在所述视觉安装板的相机、镜头及环形光源，所述镜头位于所述相机和环形光源之间，所述相机与芯片的位置相对应。
[0015]进一步的，所述芯片检测分选设备还包括用于装载芯片载具的下料升降组件，所述下料升降组件包括升降模组、设置在所述升降模组上的夹具工装；所述夹具工装通过安装支撑板与升降模组连接，所述安装支撑板上设置与所述夹具工装滑动配合的平移模组；所述夹具工装和升降模组之间还设置有拖链。
[0016]进一步的，所述芯片检测分选设备还包括用于对所述吸附件进行打磨的吸嘴打磨组件，所述吸嘴打磨组件包括打磨板、设置在所述打磨板上的打磨台，所述打磨台上设置有用于吸尘的吸尘环、及与所述吸尘环位置相对应的快速接头。
[0017]进一步的，所述芯片检测分选设备还包括用于放置不同型号吸嘴的吸嘴放置架，所述吸嘴放置架包括吸嘴底板、设置在所述吸嘴底板的支撑杆、与所支撑杆连接的放料板；所放料板用于放置吸嘴，并与支撑杆之间还设置调节板。
[0018]进一步的，所述芯片检测分选设备还包括用于检测吸嘴压力的吸嘴压力检测组件，所述吸嘴压力检测组件包括称重底板、设置在称重底板上的传感器安装板，所述传感器安装板上设置有压力传感器，所述压力传感器上连接有按片。
[0019]与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：
[0020]本专利技术提供的芯片检测分选设备，通过滚轮流道组件承接并输送芯片载具，通过吸取检测组件能够实现对芯片自动进行AOI检测和自动检测识别，也能够检测芯片和芯片料盘的位置信息，并结合相机模组检测的吸嘴的位置和角度信息，由运动平台带动吸附件运动并吸取芯片，将芯片放置在对应级别的芯片料盘上，能够自动分选芯片，解决了多功能、多产品兼容的问题，大大提高了设备的自动化程度，有效的减少人工分选芯片的差错，也提高了设备的工作效率，提高芯片产品的品质，其整体结构简单、功能可靠易于实现，并减少劳动力和成本，为实现全自动化生产提供了解决方案。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术中的方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0022]图1为本专利技术实施例芯片检测分选设备的轴侧图。
[0023]图2为本专利技术实施例芯片检测分选设备的局部轴侧图。
[0024]图3为本专利技术实施例芯片检测分选设备的俯视图。
[0025]图4为本专利技术实施例吸取检测组件的主视图。
[0026]图5为本专利技术实施例吸取检测组件的俯视图。
[0027]图6为本专利技术实施例Z轴移动平台的主视图。
[0028]图7为本专利技术实施例Z轴移动平台的俯视图。
[0029]图8为本专利技术实施例滚轮流道组件的结构示意图。
[0030]图9为本专利技术实施例滚轮流道组件的俯视图。
[0031]图10为本专利技术实施例载具推出模块的结构示意图。
[0032]图11为本专利技术实施例芯片料盘放置组件的结构示意图。
[0033]图12为本专利技术实施例相机模组的结构示意图。
[0034]图13为本专利技术实施例下料升降组件的结构示意图。
[0035]图14为本专利技术实施例吸嘴打磨组件的结构示意图。
[0036]图15为本专利技术实施例吸嘴放置架的结构示意图。
[0037]图16为本专利技术实施例吸嘴压力检测组件的结构示意图。
[0038]附图标记说明如下：1
‑
机架、2
‑
相机模组、3
‑
吸取检测组件、4
‑
滚轮流道组件、5
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芯片料盘放置组件、6
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下料升降组件、7
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吸嘴打磨组件、8
‑
吸嘴放置架、9
‑
吸嘴压力检测组件、10...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测分选设备，用于对承载于芯片夹具上的芯片进行检测分选，芯片夹具承载于芯片载具上，其特征在于：该芯片检测分选设备包括：吸取检测组件、滚轮流道组件、芯片料盘放置组件和相机模组；所述吸取检测组件包括运动平台、设置在运动平台上的检测模块和吸附件，所述运动平台带动检测模块和吸附件进行平移；所述芯片料盘放置组件包括用于放置芯片的芯片料盘；所述滚轮流道组件用于承接芯片载具，并使芯片夹具与所述芯片载具相分离，待芯片被吸取后芯片夹具复位；所述相机模组用于检测吸附件的位置和角度信息；所述检测模块用于对芯片进行检测，在检测符合要求后进行等级识别，并确定芯片和芯片料盘的位置信息；根据所述吸附件的位置和角度信息、以及芯片和芯片料盘的位置信息，运动平台驱动所述吸附件平移吸取芯片，并将芯片放置在对应级别的所述芯片料盘上。2.根据权利要求1所述的芯片检测分选设备，其特征在于：所述检测模块包括设置在所述运动平台的AOI检测相机和定位检测相机，所述AOI检测相机用于对芯片进行AOI检测，所述定位检测相机用于对芯片进行等级识别，并确定芯片和芯片料盘的位置信息。3.根据权利要求1所述的芯片检测分选设备，其特征在于：所述滚轮流道组件包括分拣输送线、设置在分拣输送线上的载具定位模块、载具阻挡模块及载具推出模块；所述载具定位模块用于对芯片载具进行定位，并使芯片夹具和芯片载具相分离后并复位；所述载具阻挡模块用于对芯片载具进行阻挡；所述载具推出模块用于将芯片分离后的芯片载具推出分拣输送线。4.根据权利要求3所述的芯片检测分选设备，其特征在于：所述载具推出模块包括推出气缸、与所述推出气缸的连接线规滑块、设置在所述线规滑块上的推座，所述推座上设置有推板、及带动所述推板升降运动的推板升降气缸。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧志荣，刘旭海，温志刚，唐政，高云峰，
申请(专利权)人：深圳市大族电机科技有限公司，
类型：发明
国别省市：