老化箱制造技术

本发明专利技术公开了一种老化箱，包括：温度显示电路，用于实时的对老化箱的实验温度进行监测与显示；异常检测电路，用于检测老化箱的供电电压，并根据检测结果输出检测信号；保护电路，分别与所述异常检测电路和所述温度显示电路电性连接，接收所述检测信号，并根据所述检测信号控制所述温度显示电路处于正常状态和保护状态的其中之一。本发明专利技术能够使得显示温度电路在发生异常时处于保护状态，增加了电路的稳定性。定性。定性。

【技术实现步骤摘要】
老化箱


[0001]本专利技术涉及电路检测
，具体涉及一种老化箱。

技术介绍

[0002]老化箱是一个测试芯片可靠性的仪器，其主要功能是提供精确、稳定的高温环境。同时，为了提高老化测试的精确度，通常也会在老化箱上设置相应的显示温度的装置，如图1所示，图1示出现有的一种老化箱的结构框图，老化箱100上设置有温度显示电路110，且老化箱100与温度显示电路110存在电连接关系。
[0003]在进行芯片老化测试时老化箱100需要一直处于工作状态，因此不可避免的会受到停电、晃电等异常情况的影响。现有的老化箱100和温度显示电路110均没有设置任何的保护措施，一旦出现异常情况，如遇到瞬间断电或者电压不稳时，很容易使得后端的温度显示电路110的电路由于电压和或电流的过冲被损坏，从而导致老化箱无法正常进行工作，耽误正常芯片的可靠性实验和产品进度。
[0004]因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种老化箱，能够使得显示温度电路在发生异常时处于保护状态，增加了电路的稳定性。
[0006]根据本专利技术提供的一种老化箱，包括：温度显示电路，用于实时的对老化箱的实验温度进行监测与显示；异常检测电路，用于检测老化箱的供电电压，并根据检测结果输出检测信号；保护电路，分别与所述异常检测电路和所述温度显示电路电性连接，接收所述检测信号，并根据所述检测信号控制所述温度显示电路处于正常状态和保护状态的其中之一。
[0007][0008]优选地，所述保护电路包括：放电单元，分别与所述异常检测电路和所述温度显示电路连接，接收所述检测信号，用于在所述检测信号有效时为所述温度显示电路与所述老化箱的电性连接通路提供放电路径，或在所述检测信号有效时断开所述温度显示电路与所述老化箱的电性连接通路，其中，在所述老化箱的供电电压异常时所述检测信号有效。
[0009]优选地，所述放电单元包括：第一晶体管，第一通路端与所述温度显示电路和所述老化箱的电性连接通路连接，第二通路端接地，控制端与所述异常检测电路的输出端连接以接收所述检测信号。
[0010]优选地，所述第一晶体管为NMOS晶体管。
[0011]优选地，所述放电单元包括：第二晶体管，所述温度显示电路与所述老化箱通过所述第二晶体管构建电性连接通路，所述第二晶体管的控制端接收所述检测信号。
[0012]优选地，所述第二晶体管为PMOS晶体管。
[0013]优选地，所述保护电路还包括：启动控制单元，分别与所述异常检测电路和所述温度显示电路连接，接收所述检测信号，用于在所述检测信号有效时控制所述温度显示电路
处于低功耗模式或不工作模式，其中，在所述老化箱的供电电压异常时所述检测信号有效。
[0014]优选地，所述启动控制单元包括：比较器，第一输入端接收所述检测信号，第二输入端接收参考电压，输出端输出第一使能信号；第一与门，第一输入端与所述比较器的输出端连接以接收所述第一使能信号，所述第一与门的输出端与所述温度显示电路的使能控制端连接。
[0015]优选地，所述启动控制单元还包括：非门，输入端接收所述检测信号；第二与门，第一输入端与所述非门的输出端连接，输出端输出第二使能信号至所述第一与门的第二输入端；计数器，输入端接收所述第二使能信号，输出端与所述第二与门的第二输入端连接，其中，所述计数器用于根据所述第二使能信号工作于锁存状态和技术状态的其中之一，所述计数器在工作于锁存状态的情况下输出高电平，在工作于计数状态的情况下输出低电平，并在计数到一定阈值时输出高电平。
[0016]优选地，在锁存状态下，所述计数器的计数值清零。
[0017]本专利技术的有益效果是：本专利技术公开了一种老化箱，通过在老化箱中设置保护电路，能够在老化箱供电发生异常情况时对温度显示电路提供防护，避免温度显示电路被烧毁。
[0018]保护电路中设置有放电单元，可以在老化箱供电发生异常情况时对电路中的大电流进行泄放，和/或在老化箱供电发生异常情况时断开温度显示电路与老化箱之间的电性连接通道，更加有效的避免大电流对温度显示电路的冲击。
[0019]另一方面，在保护电路中设置启动控制单元，可以控制温度显示电路在处于保护状态时处于低功耗模式或不工作模式，节省耗电。
[0020]在启动控制单元中设置计数器进行恢复延时，能够避免在老化箱由异常状态到正常状态的恢复期间再次出现异常时后端电路反复启动造成的软损伤，节省耗电。
[0021]应当说明的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。
附图说明
[0022]通过以下参照附图对本专利技术实施例的描述，本专利技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。
[0023]图1示出现有的一种老化箱的结构框图；
[0024]图2示出本专利技术实施例提供的老化箱的结构框图；
[0025]图3(a)示出本专利技术第一实施例提供的老化箱的电路结构图；
[0026]图3(b)示出本专利技术第一实施例提供的老化箱的电路结构图。
具体实施方式
[0027]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施例。但是，本专利技术可以通过不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反的，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。
[0028]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体
的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。
[0029]下面，参照附图对本专利技术进行详细说明。
[0030]图2示出本专利技术实施例提供的老化箱的结构框图，图3(a)示出本专利技术第一实施例提供的老化箱的电路结构图，图3(b)示出本专利技术第一实施例提供的老化箱的电路结构图。
[0031]如图2所示，本实施例中，老化箱200包括与老化箱本体电性连接的异常检测电路210、温度显示电路220和保护电路230。
[0032]其中，异常检测电路210用于检测老化箱200的供电电压，并根据检测结果输出检测信号。
[0033]本实施例中，当异常检测电路210检测到老化箱200的供电电压正常时，会输出第一电平状态(如低电平状态)的检测信号；当异常检测电路210检测到老化箱200的供电电压出现异常如发生瞬间断电或电压不稳定时，会输出第二电平状态(如高电平状态)的检测信号。
[0034]温度显示电路220用于实时的对老化箱200实验温度进行监测与显示。
[0035]保护电路230分别与异常检测电路210和温度显示电路210电性连接，接收检测信号，并根据检测信号控制温度显示电路210处于正常状态和保护状态的其中之一。
[0036]本实施例中，当异常检测电路210输出第一电平状态(本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化箱，其特征在于，包括：温度显示电路，用于实时的对老化箱的实验温度进行监测与显示；异常检测电路，用于检测老化箱的供电电压，并根据检测结果输出检测信号；保护电路，分别与所述异常检测电路和所述温度显示电路电性连接，接收所述检测信号，并根据所述检测信号控制所述温度显示电路处于正常状态和保护状态的其中之一。2.根据权利要求1所述的老化箱，其特征在于，所述保护电路包括：放电单元，分别与所述异常检测电路和所述温度显示电路连接，接收所述检测信号，用于在所述检测信号有效时为所述温度显示电路与所述老化箱的电性连接通路提供放电路径，或在所述检测信号有效时断开所述温度显示电路与所述老化箱的电性连接通路，其中，在所述老化箱的供电电压异常时所述检测信号有效。3.根据权利要求2所述的老化箱，其特征在于，所述放电单元包括：第一晶体管，第一通路端与所述温度显示电路和所述老化箱的电性连接通路连接，第二通路端接地，控制端与所述异常检测电路的输出端连接以接收所述检测信号。4.根据权利要求3所述的老化箱，其特征在于，所述第一晶体管为NMOS晶体管。5.根据权利要求2或4中任一项所述的老化箱，其特征在于，所述放电单元包括：第二晶体管，所述温度显示电路与所述老化箱通过所述第二晶体管构建电性连接通路，所述第二晶体管的控制端接收所述检测信号。6.根据权利要求5所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张新城，
申请(专利权)人：圣邦微电子北京股份有限公司，
类型：发明
国别省市：