天线模组、温度变化的检测方法及装置和相关应用制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种天线模组、温度变化的检测方法和相关应用。所述天线模组包括：第一电极和第二电极；所述第一电极为天线本体或与天线本体连接并与天线本体保持等电压；所述第一电极与所述第二电极可耦合形成互电容；当有物体接近所述天线模组时，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。本发明专利技术根据第一电极和第二电极之间互电容的变化，可得到天线自电容变化量中由温度引发的部分，则可以真实地判断是否是人体接近而引发的天线自电容的变化，从而实现对天线发射功率的精准控制。制。制。

【技术实现步骤摘要】
天线模组、温度变化的检测方法及装置和相关应用


[0001]本专利技术涉及电子电路
，特别涉及一种天线模组、温度变化的检测方法及装置和相关应用。

技术介绍

[0002]随着信息技术和电子制造业的发展，采用无线通信方式的电子设备例如手机、平板电脑等在全世界范围内越来越普及，近年来，许多国家政府和电信产业部门出于用户的人体健康角度考虑，会出台关于射频和微波辐射的产业标准，要求电子设备厂商将电磁波吸收比值(SAR，Specific Absorption Rate，即在外电磁场的作用下，单位质量的人体所吸收或消耗的电磁功率)保持在一个相对较低的水平范围内。因此，当有人体靠近这些电子设备时，电子设备应该有机制能探测出人体的靠近从而主动降低天线发射功率以满足标准的要求。
[0003]在现有的电子设备中，通常的做法是通过复用天线，检测天线的自电容(Self
‑
Capacitance)变化来判断是否有人体接近，当检测出有人体靠近电子设备时，可以通过降低天线的发射功率，使得移动设备的天线发射功率能够满足SAR的标准。

技术实现思路

[0004]专利技术人发现，现有技术中，天线的自电容的变化可能会受到多种因素的影响，例如温度等因素的变化也会影响天线的自电容的变化，可能导致误判，从而给电子设备天线正常的射频功能带来不良影响，为了至少部分地解决现有技术中存在的上述技术问题，专利技术人做出本专利技术，通过具体实施方式，以提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种天线模组、制备天线模组的方法、温度变化的检测方法、确定因物体靠近引发的电容变化量的方法、人体接近检测方法和天线模组的发射功率调节方法及装置和相关应用。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种天线模组，包括：第一电极和第二电极；所述第一电极为天线本体或与天线本体连接并与天线本体保持等电压；
[0006]所述第一电极与所述第二电极可耦合形成互电容；
[0007]当有物体接近所述天线模组时，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。
[0008]在一个实施例中，所述第二电极为金属片或者金属线。
[0009]在一个实施例中，所述第一电极与所述第二电极平行或基本平行设置，且所述第一电极在所述第二电极表面上的投影覆盖所述第二电极。
[0010]在一个实施例中，所述第一电极与所述第二电极相耦合形成的互电容中，所述第一电极为激励电极，所述第二电极为感应电极；或者所述第一电极为感应电极，所述第二电极为激励电极。
[0011]在一个实施例中，所述第一电极或所述第二电极作为激励电极时，其激励信号的电压保持恒定。
[0012]第二方面，本专利技术实施例提供一种制备前述天线模组的方法，包括：
[0013]设置第一电极；
[0014]设置第二电极，所述第一电极与所述第二电极可相耦合形成互电容；且当有物体接近所述天线模组时，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。
[0015]在一个实施例中，设置第二电极，包括：
[0016]在第一电极的一侧制备金属片或者金属线以形成第二电极；或
[0017]复用所述第一电极一侧的电路板上的金属片或金属线作为第二电极。
[0018]第三方面，本专利技术实施例提供一种温度变化的检测方法，应用于前述的天线模组，包括：
[0019]保持所述第一电极的电压恒定，对所述第一电极与所述第二电极耦合所形成互电容的大小进行检测，并监测所述互电容的大小是否发生变化；
[0020]若监测到所述互电容的大小发生变化，则根据互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量。
[0021]在一个实施例中，根据所述互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量，包括：
[0022]根据所述互电容大小的变化量及所述互电容的温度系数，计算出所述天线模组的温度变化量。
[0023]第四方面，本专利技术实施例提供一种温度变化的检测装置，用于对前述天线模组的温度变化进行检测，包括：
[0024]互电容检测单元，用于对所述第一电极和第二电极耦合形成的互电容的大小进行检测，并监测所述互电容的大小是否发生变化；
[0025]温度变化确定单元，用于根据所述互电容的大小变化，确定所述天线模组的温度变化量。
[0026]第五方面，本专利技术实施例提供一种温度检测系统，包括：如前述的天线模组和如前述的温度变化的检测装置。
[0027]第六方面，本专利技术实施例提供一种确定因物体靠近引发的电容变化量的方法，用于如前述的天线模组，包括：
[0028]保持所述第一电极电压的恒定，检测所述第一电极与第二电极耦合形成的互电容的大小；
[0029]检测所述第一电极与地形成的自电容的大小；
[0030]若监测到所述互电容和所述自电容的大小均发生变化，则根据所述互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量；
[0031]根据所述温度变化量和所述自电容的温度系数，确定所述天线本体由温度引起的自电容的大小变化量；
[0032]将所述第一电极与地形成的自电容的大小变化量减去所述天线本体由温度引起的自电容的大小变化量，得到所述天线本体因物体靠近而导致的自电容变化量。
[0033]第七方面，本专利技术实施例提供一种确定因物体靠近引发的天线电容变化量的装置，包括：
[0034]第一检测单元，用于保持所述第一电极的电压恒定，检测所述第一电极与第二电
极耦合形成的互电容的大小；
[0035]第二检测单元，用于检测所述第一电极与地形成的自电容的大小；
[0036]温度变化量确定单元，用于若监测到所述互电容和所述自电容的大小均发生变化，则根据所述互电容大小的变化量，确定所述天线模组的温度变化量；
[0037]温度引发自电容变化确定单元，用于根据所述温度的变化量和所述自电容的温度系数，确定由温度引起的自电容变化量；
[0038]物体靠近引发自电容变化确定单元，用于将所述第一检测单元检测的自电容的大小变化量减去所述由温度引起的自电容的大小变化量，得到因物体靠近而导致的自电容变化量。
[0039]第八方面，本专利技术实施例提供一种确定因物体靠近引发的电容变化量的系统，包括：如前述的天线模组和如前述的确定因物体靠近引发的天线电容变化量的装置。
[0040]第九方面，本专利技术实施例提供一种判断当前是否有人体接近如前述天线模组的方法，包括：
[0041]根据如前述的方法确定的因物体靠近引发的天线电容变化量，判断当前是否有人体接近所述天线模组。
[0042]在一个实施例中，根据因物体靠近引发的天线电容变化量，判断当前是否有人体接近所述天线模组，具体包括：
[0043]若确定所述物体为人体，且所述因物体靠近而导致的天线的自电容变化量大于零，则确定为有人体接近如前述的天线模组。
[0044]第十方面，本专利技术实施例提供一种判断是否有人体接近如前述天线模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线模组，其特征在于，包括：第一电极和第二电极；所述第一电极为天线本体或与天线本体连接并与天线本体保持等电压；所述第一电极与所述第二电极可耦合形成互电容；当有物体接近所述天线模组，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。2.如权利要求1所述的天线模组，其特征在于，所述第二电极为金属片或者金属线。3.如权利要求1所述的天线模组，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极平行或基本平行设置，且所述第一电极在所述第二电极表面上的投影覆盖所述第二电极。4.如权利要求1所述天线模组，其特征在于，所述第一电极与所述第二电极相耦合形成的互电容中，所述第一电极为激励电极，所述第二电极为感应电极；或者所述第一电极为感应电极，所述第二电极为激励电极。5.如权利要求4所述的天线模组，其特征在于，所述第一电极或所述第二电极作为激励电极时，其激励信号的电压保持恒定。6.一种制备如权利要求1
‑
5任一项所述天线模组的方法，其特征在于，包括：设置第一电极；设置第二电极，所述第一电极与所述第二电极可相耦合形成互电容；且当有物体接近所述天线模组时，所述第一电极能够屏蔽所述第二电极与所述物体之间的电场。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，设置第二电极，包括：在第一电极的一侧制备金属片或者金属线以形成第二电极；或复用所述第一电极一侧的电路板上的金属片或金属线作为第二电极。8.一种温度变化的检测方法，应用于如权利要求1
‑
5任一项所述的天线模组，其特征在于，包括：保持所述第一电极的电压恒定，对所述第一电极与所述第二电极耦合所形成互电容的大小进行检测，并监测所述互电容的大小是否发生变化；若监测到所述互电容的大小发生变化，则根据互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量。9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，根据所述互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量，包括：根据所述互电容大小的变化量及所述互电容的温度系数，计算出所述天线模组的温度变化量。10.一种温度变化的检测装置，用于对如权利要求1
‑
5任一项所述的天线模组的温度变化进行检测，其特征在于，包括：互电容检测单元，用于对所述第一电极和第二电极耦合形成的互电容的大小进行检测，并监测所述互电容的大小是否发生变化；温度变化确定单元，用于根据所述互电容的大小变化，确定所述天线模组的温度变化量。11.一种温度检测系统，其特征在于，包括：如权利要求1
‑
5任一项所述的天线模组和如权利要求10所述的温度变化的检测装置。12.一种确定因物体靠近引发的电容变化量的方法，用于如权利要求1
‑
5任一项所述的
天线模组，其特征在于，包括：保持所述第一电极电压的恒定，检测所述第一电极与第二电极耦合形成的互电容的大小；检测所述第一电极与地形成的自电容的大小；若监测到所述互电容和所述自电容的大小均发生变化，则根据所述互电容的大小变化量，确定所述天线模组的温度变化量；根据所述温度变化量和所述自电容的温度系数，确定所述天线本体由温度引起的自电容的大小变化量；将所述第一电极与地形成的自电容的大小变化量减去所述天线本体由温度引起的自电容的大小变化量，得到所述天线本体因物体靠近而导致的自电容变化量。13.一种确定因物体靠近引发的天线电容变化量的装置，其特征在于，包括：第一检测单元，用于保持所述第一电极的电压恒定，检测所述第一电极与第二电极耦合形成的互电容的大小；第二检测单元，用于检测所述第一电极与地形成的自电容的大小；温度变化量确定单元，用于若监测到所述互电容和所述自电容的大小均发生变化，则根据所述互电容大小的变化量，确定所述天线模组的温度变化量；温度引发自电容变化确定单元，用于根据所述温度的变化量和所述自...

【专利技术属性】
技术研发人员：白颂荣，王洁，陈曦，
申请(专利权)人：深圳曦华科技有限公司，
类型：发明
国别省市：