一种缺陷芯片的检测标记设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种缺陷芯片的检测标记设备,其用于检测出载带上的缺陷芯片并进行位置标记，检测标记设备包括设备架，设备架上形成有用于载带通过的输送通道，检测标记设备还包括设于设备架上的检测机构、标记出缺陷芯片在载带上的位置的冲孔装置、驱动载有芯片的载带在输送通道上运动的送料机构、根据检测机构的检测信息来控制冲孔装置进行标记动作的控制系统;该检测标记设备摒弃了现有技术中通过人工手动的方式进行缺陷芯片的筛查的方式,通过检测机构、冲孔装置以及送料机构的配合设置,使得缺陷芯片的检查、标记完全实现自动化作业，大大提高作业效率和作业质量，降低人工成本支出，降低作业人员劳动强度。降低作业人员劳动强度。降低作业人员劳动强度。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷芯片的检测标记设备


[0001]本技术涉及一种缺陷芯片的检测标记设备。

技术介绍

[0002]目前，芯片封测时，载带上的芯片表面一般是绝对不允许出现划痕、污痕、油墨、手印等情况，因此需要对载带上的芯片进行检测，发现上述缺陷后需要做好标记，在后道芯片裁切工序中将有缺陷的芯片剔除掉。现有技术中都是通过人工肉眼检测，检测效率低下，且作业人员疲劳强度大，易出现错误判断、操作，造成后续的更大损失。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种缺陷芯片的检测标记设备。
[0004]为解决上述技术问题，本技术采取的技术方案如下：
[0005]一种缺陷芯片的检测标记设备,其用于检测出载带上的缺陷芯片并进行位置标记，检测标记设备包括设备架，设备架上形成有用于载带通过的输送通道，检测标记设备还包括设于设备架上的检测机构、标记出缺陷芯片在载带上的位置的冲孔装置、驱动载有芯片的载带在输送通道上运动的送料机构、根据检测机构的检测信息来控制冲孔装置进行标记动作的控制系统，检测机构、冲孔装置在输送通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷芯片的检测标记设备,其用于检测出载带上的缺陷芯片并进行位置标记，其特征在于：所述检测标记设备包括设备架，所述设备架上形成有用于载带通过的输送通道，所述检测标记设备还包括设于所述设备架上的检测机构、标记出缺陷芯片在载带上的位置的冲孔装置、驱动载有芯片的载带在输送通道上运动的送料机构、根据所述检测机构的检测信息来控制所述冲孔装置进行标记动作的控制系统，所述检测机构、冲孔装置在所述输送通道的延伸方向上间隔分布，所述检测机构位于所述输送通道的上游，所述冲孔装置位于所述输送通道的下游。2.根据权利要求1所述的缺陷芯片的检测标记设备,其特征在于：所述检测机构包括支撑框体、设于所述支撑框体内的摄像机。3.根据权利要求2所述的缺陷芯片的检测标记设备,其特征在于：所述摄像机位于所述输送通道的下方。4.根据权利要求1所述的缺陷芯片的检测标记设备,其特征在于：所述冲孔装置包括第一支撑架、固定设于所述第一支撑架上且开设有冲孔的模板、固定设于所述第一支撑架上且位于所述模板上方的脱料板、相对所述模板上下运动的多根冲头、设于所述第一支撑架...

【专利技术属性】
技术研发人员：王岩，
申请(专利权)人：苏州密卡特诺精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：