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本实用新型涉及一种缺陷芯片的检测标记设备,其用于检测出载带上的缺陷芯片并进行位置标记，检测标记设备包括设备架，设备架上形成有用于载带通过的输送通道，检测标记设备还包括设于设备架上的检测机构、标记出缺陷芯片在载带上的位置的冲孔装置、驱动载有芯...
该专利属于苏州密卡特诺精密机械有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州密卡特诺精密机械有限公司授权不得商用。

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