一种高效MOS管测试台制造技术

本实用新型专利技术提供了一种高效MOS管测试台，包括台板，所述台板上面一侧固定连接有支撑机构，支撑机构中间活动连接有升降板，升降板下面活动连接有多个测试块；台板的上面另一侧还固定有夹紧机构，台板上靠近每个夹紧单元的位置分别固定有调整机构，在调整机构的作用下完成两个夹紧单元的配合使用。本实用新型专利技术通过在台板上固定有支撑机构和夹紧机构，使用时，先根据待测MOS管的大小和待测端的位置，选择合适位置和合适数量的测试块，将待测MOS管的夹持固定在夹紧机构内，然后手动下压连接架，直至升降板下面的测试块与待测MOS管的待测端接触，完成测试，简单实用，便捷高效。便捷高效。便捷高效。

【技术实现步骤摘要】
一种高效MOS管测试台


[0001]本技术属于MOS管测试台
，具体涉及一种高效MOS管测试台。

技术介绍

[0002]MOS是靠空穴的流动运送电流的晶体管，可分为N沟道与P沟道两大类，P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区，分别叫做源极和漏极，两极之间不通导，源极上加有足够的正电压栅极接地时，栅极下的N型硅表面呈现P型反型层，成为连接源极和漏极的沟道。改变栅压可以改变沟道中的空穴密度，从而改变沟道的电阻。这种MOS场效应晶体管称为P沟道增强型场效应晶体管。如果N型硅衬底表面不加栅压就已存在P型反型层沟道，加上适当的偏压，可使沟道的电阻增大或减小。这样的MOS场效应晶体管称为P沟道耗尽型场效应晶体管。统称为PMOS晶体管。
[0003]MOSFET共有三个脚，一般为G、D、S，通过G、S间加控制信号时可以改变D、S间的导通和截止。PMOS和NMOS在结构上完全相像，所不同的是衬底和源漏的掺杂类型。简单地说，NMOS是在P型硅的衬底上，通过选择掺杂形成N型的掺杂区，作为NMOS的源漏区；PMOS是在N型硅的衬底上，通过选择掺杂形成P型的掺杂区，作为PMOS的源漏区。两块源漏掺杂区之间的距离称为沟道长度L，而垂直于沟道长度的有效源漏区尺寸称为沟道宽度W。对于这种简单的结构，器件源漏是完全对称的，只有在应用中根据源漏电流的流向才能最后确认具体的源和漏。
[0004]MOS管在加工检测时需要对接线端的导电线性能进行测试，测试过程中用到测试辅助测试台，但是现有的MOS管测试台测试效率低，不能对不同大小和不同位置的MOS管的导电性能同步进行测试，测试速度慢，影响MOS管的加工测试效率。

技术实现思路

[0005]本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种高效MOS管测试台，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种高效MOS管测试台，包括台板，所述台板上面一侧固定连接有支撑机构，所述支撑机构中间活动连接有升降板，所述升降板下面活动连接有多个测试块；
[0007]所述台板的上面另一侧还固定有夹紧机构，所述夹紧机构包括两个结构相同且相向设置的夹紧单元，所述夹紧单元包括竖向板、夹紧板、齿条和限位杆，所述竖向板固定在台板上，所述夹紧板的一侧靠近底端处固定有齿条，所述齿条套接在竖向板内，所述夹紧板与齿条同侧的两外端处分别固定有限位杆，所述竖向板上开设有两个限位孔，所述限位杆套接在限位孔内；
[0008]所述台板上靠近每个夹紧单元的位置分别固定有调整机构，在调整机构的作用下完成两个夹紧单元的配合使用。
[0009]优选的，所述支撑机构包括支撑柱、横梁、连接架、升降板和连接弹簧，所述支撑柱
设置有两个，且其分别固定在台板上，所述横梁固定在两个支撑柱的顶端，所述连接架套接在横梁内，且所述连接架的底端贯穿横梁，在所述连接架的底端固定有升降板，所述连接弹簧固定在升降板的顶面与横梁的底面之间。
[0010]优选的，所述升降板的两侧端分别固定有滑块，两个所述支撑柱的相对侧分别固定有滑轨，所述滑块滑动连接在滑轨内，所述连接架的横向段中间固定有第一把手。
[0011]优选的，所述竖向板的内侧面开设有凹槽，所述凹槽与夹紧板配套使用。
[0012]优选的，所述测试块包括套筒、测试板、连接柱、连接筒和复位弹簧，所述套筒的底端固定有测试板，所述连接筒套接在套筒内，所述测试板的顶面固定有连接柱，所述连接柱套接在连接筒内，所述连接柱的顶端固定有限位板，所述复位弹簧的底端固定在限位板的上面，所述复位弹簧的顶端固定在连接筒的内顶面上。
[0013]优选的，所述套筒和连接筒的横截面均为方形。
[0014]优选的，所述调整机构包括轴承座、转轴、齿轮和第二把手，所述轴承座固定在台板上靠近竖向板的位置，所述轴承座中间转动连接有转轴，所述转轴靠近齿条的一端端固定有齿轮，所述齿轮与齿条之间啮合连接，所述转轴的另一端固定有第二把手。
[0015]优选的，所述台板上在支撑机构与夹紧机构之间的区域上设置有刻度线，所述台板上在支撑机构下方的区域上设置有垫板。
[0016]优选的，所述台板底面四角处分别固定有支撑垫。
[0017]本技术与现有技术相比具有以下优点：
[0018]本技术通过在台板上固定有支撑机构和夹紧机构，且将测试块连接在支撑机构下方，在台板上还设置有与其配合使用的调整机构，使用时，先根据待测MOS管的大小和待测端的位置，选择合适位置和合适数量的测试块，然后先调整夹紧机构中的一个夹紧单元作为参考基准板，然后将待测MOS管放置在两个夹紧板之间，待测端靠近升降板的下方，使得待测MOS管的一侧紧靠参考基准板，调整另一个夹紧板将待测MOS管抵紧固定，即可完成待测MOS管的夹持固定作用，便于测试的稳定进行，然后手动下压连接架，直至升降板下面的测试块与待测MOS管的待测端接触，完成测试后，松开连接架，在连接弹簧的作用下升降板上升，完成复位作用，再松开夹紧板，重复进行下一个MOS管的测试，简单实用，便捷高效。
附图说明
[0019]图1是本技术整体结构侧视图；
[0020]图2是本技术支撑机构主视图；
[0021]图3是本技术测试块结构剖视图；
[0022]图4为本技术夹紧机构和调整机构连接示意图。
[0023]附图标记说明：
[0024]台板1、刻度线11、垫板、支撑垫13、支撑机构2、支撑柱21、横梁22、连接架23、升降板24、连接弹簧25、第一把手26、滑轨27、滑块28、测试块3、套筒31、测试板32、连接柱33、连接筒34、复位弹簧35、夹紧机构4、竖向板41、夹紧板42、凹槽43、齿条44、限位杆45、限位孔46、调整机构5、轴承座51、转轴52、齿轮53、第二把手54。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]如图1
‑
4所示，本技术提供一种技术方案：一种高效MOS管测试台，包括台板1，台板1底面四角处分别固定有支撑垫13，支撑垫13保证台板1上表面水平，且能防止台板1使用过程中发生滑动。
[0027]所述台板1上面一侧固定连接有支撑机构2，所述支撑机构2包括支撑柱21、横梁22、连接架23、升降板24和连接弹簧25，所述支撑柱21设置有两个，且其分别固定在台板1上，所述横梁22固定在两个支撑柱21的顶端，所述连接架23套接在横梁22内，且所述连接架23的底端贯穿横梁22，在所述连接架23的底端固定有升降板24，所述升降板24下面活动连接有多个测试块3，多个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高效MOS管测试台，包括台板(1)，其特征在于：所述台板(1)上面一侧固定连接有支撑机构(2)，所述支撑机构(2)中间活动连接有升降板(24)，所述升降板(24)下面活动连接有多个测试块(3)；所述台板(1)的上面另一侧还固定有夹紧机构(4)，所述夹紧机构(4)包括两个结构相同且相向设置的夹紧单元，所述夹紧单元包括竖向板(41)、夹紧板(42)、齿条(44)和限位杆(45)，所述竖向板(41)固定在台板(1)上，所述夹紧板(42)的一侧靠近底端处固定有齿条(44)，所述齿条(44)套接在竖向板(41)内，所述夹紧板(42)与齿条(44)同侧的两外端处分别固定有限位杆(45)，所述竖向板(41)上开设有两个限位孔(46)，所述限位杆(45)套接在限位孔(46)内；所述台板(1)上靠近每个夹紧单元的位置分别固定有调整机构(5)，在调整机构(5)的作用下完成两个夹紧单元的配合使用。2.根据权利要求1所述的一种高效MOS管测试台，其特征在于，所述支撑机构(2)包括支撑柱(21)、横梁(22)、连接架(23)、升降板(24)和连接弹簧(25)，所述支撑柱(21)设置有两个，且其分别固定在台板(1)上，所述横梁(22)固定在两个支撑柱(21)的顶端，所述连接架(23)套接在横梁(22)内，且所述连接架(23)的底端贯穿横梁(22)，在所述连接架(23)的底端固定有升降板(24)，所述连接弹簧(25)固定在升降板(24)的顶面与横梁(22)的底面之间。3.根据权利要求2所述的一种高效MOS管测试台，其特征在于，所述升降板(24)的两侧端分别固定有滑块(28)，两个所述支撑柱(21)的相对侧分别固定有滑轨(27)，所述滑块(28)滑动连接在滑轨(27)内，所述连接架(23)的横向段中间固定有第...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒲辰，
申请(专利权)人：西安长禾半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：