一种SiC MOSFET测试用夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种SiC MOSFET测试用夹具，包括底板、底座、压板和盖板，底板上面设置有底座，底板上面一侧固定有轴承座，轴承座内转动连接有丝杆，底板上面另一侧固定有两个固定座，固定座内固定有竖向杆；压板的一侧固定有螺纹套，螺纹套螺纹连接在丝杆的外侧，压板的另一侧固定有套筒，套筒套接在竖向杆的外侧，盖板固定在压板的下面，盖板与底座相互之间配套使用，本实用新型专利技术通过底板上通过螺钉设置有底座，在压板下面通过螺栓连接有盖板，同时在底板上转动设置有丝杆，固定设置有竖向杆，在丝杆和竖向杆的作用下将压板安装在底座上方处，完成SiC MOSFET在安装板作用下稳定固定在安装槽内的作用，便于精准的完成测试。

【技术实现步骤摘要】
一种SiCMOSFET测试用夹具
本技术属于SiCMOSFET测试辅助用具
，具体涉及一种SiCMOSFET测试用夹具。
技术介绍
MOSFET指金属-氧化物半导体场效应晶体管，简称金氧半场效晶体管，是一种可以广泛使用在模拟电路与数字电路的场效晶体管，MOSFET依照其“通道”也就是工作载流子的极性不同，可分为"N型"与"P型"的两种类型，通常又称为NMOSFET与PMOSFET，其他简称上包括NMOS、PMOS等。在SiCMOSFET的开发与应用方面，与相同功率等级的SiMOSFET相比，SiCMOSFET导通电阻、开关损耗大幅降低，适用于更高的工作频率，另由于其高温工作特性，大大提高了高温稳定性。SiCMOSFET再生产过程中需要对其性能进行侧视，但是现有的SiCMOSFET测试用夹具测试时对SiCMOSFET夹持的稳定性较差，且夹持时夹具的夹板固定过程中晃动较大，影响测试的精准进行。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种SiCMOSFET测试用夹具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种SiCMOSFET测试用夹具，包括底板、底座、压板和盖板，所述底板上面设置有底座，所述底板上面一侧固定有轴承座，所述轴承座内转动连接有丝杆，所述底板上面另一侧固定有两个固定座，所述固定座内固定有竖向杆；所述压板的一侧固定有第一连接块，所述第一连接块的另一侧端固定有螺纹套，所述螺纹套螺纹连接在所述丝杆的外侧，所述压板的另一侧固定有两个第二连接块，所述第二连接块的另一侧端固定有套筒，所述套筒套接在竖向杆的外侧；所述盖板固定在压板的下面，所述盖板与底座相互之间配套使用。优选的，所述底座中间开设有凹台，在所述凹台的中间还开设有安装槽，所述安装槽内开设有多个测试用穿线孔。优选的，所述底座的外侧四角处分别固定有固定脚板，所述固定脚板内螺纹连接有用于底座与底板之间固定连接的螺钉。优选的，所述盖板的底面固定有安装板，所述安装板与安装槽相互之间配合使用。优选的，所述盖板的外侧四角处分别固定有连接板，所述压板的四角处与连接板相对应的位置固定有辅助板，同一竖向线的连接板与辅助板之间通过螺栓固定连接。优选的，所述丝杆的顶端固定设置有旋钮，所述竖向杆的顶端固定设置有防脱帽。优选的，所述丝杆的高度不小于所述竖向杆的高度。本技术与现有技术相比具有以下优点：本技术通过底板上通过螺钉设置有底座，在压板下面通过螺栓连接有盖板，同时在底板上转动设置有丝杆，固定设置有竖向杆，在丝杆和竖向杆的作用下将压板安装在底座上方处，从而使得测试SiCMOSFET时，先将SiCMOSFET放置在底座的安装槽内的，然后转动丝杆，使得丝杆带动螺纹连接在其外侧的螺纹套移动，进而带动压板的高度位置的调整，竖向杆辅助使得压板能平稳的上下移动，完成SiCMOSFET在安装板作用下稳定固定在安装槽内的作用，从而能完成SiCMOSFET稳定夹持固定，便于精准的完成测试，同时还能在更换底座和盖板的作用下完成多种型号的SiCMOSFET的性能的测试，便捷实用。附图说明图1是本技术整体结构侧视图；图2是本技术底座结构俯视图；图3是本技术压板结构仰视图。附图标记说明：1-底板；11-轴承座；12-固定座；2-底座；21-凹台；22-安装槽；23-穿线孔；24-固定脚板；25-螺钉；3-压板；31-第一连接块；32-螺纹套；33-第二连接块；34-套筒；35-辅助板；36-螺栓；4-盖板；41-安装板；42-连接板；5-丝杆；6-竖向杆；具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如图1-3所示，本技术提供一种技术方案：一种SiCMOSFET测试用夹具，包括底板1、底座2、压板3和盖板4，所述底板1上面设置有底座2，所述底座2的外侧四角处分别固定有固定脚板24，所述固定脚板24内螺纹连接有用于底座2与底板1之间固定连接的螺钉25，在螺钉25的作用下将底座2固定在底板1上面，在测试不同型号的SiCMOSFET时，只需要旋开螺钉将底座2从底板1上面拿开进行更换即可，便于夹具的大范围使用。所述底座2中间开设有凹台21，凹台21与盖板4相互配合使用，所述盖板4的底面固定有安装板41，所述安装板41与安装槽22相互之间配合使用，同时为了便于侧视过程中外接接线测试使用，所述安装槽22内开设有多个测试用穿线孔23。所述底板1上面一侧固定有轴承座11，所述轴承座11内转动连接有丝杆5，所述压板3的一侧固定有第一连接块31，所述第一连接块31的另一侧端固定有螺纹套32，所述螺纹套32螺纹连接在所述丝杆5的外侧，所述底板1上面另一侧固定有两个固定座12，所述固定座12内固定有竖向杆6，所述压板3的另一侧固定有两个第二连接块33，所述第二连接块33的另一侧端固定有套筒34，所述套筒34套接在竖向杆6的外侧，在压紧固定放置在安装槽22内的SiCMOSFET时，转动丝杆5，使得丝杆5带动螺纹连接在其外侧的螺纹套32移动，进而带动压板3的高度位置的调整，竖向杆6辅助使得压板3能平稳的上下移动，完成SiCMOSFET在安装板41作用下稳定固定在安装槽22内的作用，完成SiCMOSFET稳定夹持固定，便于精准的完成测试。为了便于手动控制丝杆5的转动，所述丝杆5的顶端固定设置有旋钮51，为了避免压板3发生滑脱现象，所述竖向杆6的顶端固定设置有防脱帽61，同时，所述丝杆5的高度不小于所述竖向杆6的高度，便于能通过竖向杆6完成压板3的高度调整范围，从而使得操作人员能精准的控制压板3的高度调整。所述盖板4固定在压板3的下面，所述盖板4与底座2相互之间配套使用，所述盖板4的外侧四角处分别固定有连接板42，所述压板3的四角处与连接板42相对应的位置固定有辅助板35，同一竖向线的连接板42与辅助板35之间通过螺栓36固定连接，在底座2更换后，将螺栓36打开，对盖板4也能进行更换，便于与底座2相互之间配合使用。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SiC MOSFET测试用夹具，包括底板(1)、底座(2)、压板(3)和盖板(4)，其特征在于：所述底板(1)上面设置有底座(2)，所述底板(1)上面一侧固定有轴承座(11)，所述轴承座(11)内转动连接有丝杆(5)，所述底板(1)上面另一侧固定有两个固定座(12)，所述固定座(12)内固定有竖向杆(6)；/n所述压板(3)的一侧固定有第一连接块(31)，所述第一连接块(31)的另一侧端固定有螺纹套(32)，所述螺纹套(32)螺纹连接在所述丝杆(5)的外侧，所述压板(3)的另一侧固定有两个第二连接块(33)，所述第二连接块(33)的另一侧端固定有套筒(34)，所述套筒(34)套接在竖向杆(6)的外侧；/n所述盖板(4)固定在压板(3)的下面，所述盖板(4)与底座(2)相互之间配套使用。/n

【技术特征摘要】
1.一种SiCMOSFET测试用夹具，包括底板(1)、底座(2)、压板(3)和盖板(4)，其特征在于：所述底板(1)上面设置有底座(2)，所述底板(1)上面一侧固定有轴承座(11)，所述轴承座(11)内转动连接有丝杆(5)，所述底板(1)上面另一侧固定有两个固定座(12)，所述固定座(12)内固定有竖向杆(6)；
所述压板(3)的一侧固定有第一连接块(31)，所述第一连接块(31)的另一侧端固定有螺纹套(32)，所述螺纹套(32)螺纹连接在所述丝杆(5)的外侧，所述压板(3)的另一侧固定有两个第二连接块(33)，所述第二连接块(33)的另一侧端固定有套筒(34)，所述套筒(34)套接在竖向杆(6)的外侧；
所述盖板(4)固定在压板(3)的下面，所述盖板(4)与底座(2)相互之间配套使用。


2.根据权利要求1所述的一种SiCMOSFET测试用夹具，其特征在于，所述底座(2)中间开设有凹台(21)，在所述凹台(21)的中间还开设有安装槽(22)，所述安装槽(22)内开设有多个测试用穿线孔(23)。


3.根据权利要求2所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒲辰，
申请(专利权)人：西安长禾半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61