一种SiC二极管测试用夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种SiC二极管测试用夹具，包括固定座、第一测试夹和第二测试夹，固定座固定有第一测试杆和两个第二测试杆，固定座内在空腔的一侧开设有滑槽，第一测试夹安装在两个空腔内，固定座内还转动连接有转轴，转轴的外侧在靠近两个第一测试夹的部分固定连接有齿轮，第一测试夹的底面固定有齿条，齿轮与齿条之间啮合连接，第二测试夹也固定在固定座内，第一测试夹和第二测试夹的另一端固定有测试座，本实用新型专利技术通过在测试用固定座内设置有固定测试夹和活动测试夹，转动旋钮，进而带动齿轮转动完成齿条的调整，即可通过齿条的作用完成第一测试夹的位置调整，便于不同大小的SiC二极管的测试使用，便捷方便。

【技术实现步骤摘要】
一种SiC二极管测试用夹具
本技术属于二极管测试夹具
，具体涉及一种SiC二极管测试用夹具。
技术介绍
二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件，它具有单向导电性能，即给二极管阳极和阴极加上正向电压时，二极管导通。当给阳极和阴极加上反向电压时，二极管截止。因此，二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开，二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛。特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能。二极管在制造生产过程中需要对其进行电性能进行测试，测试会用到各种辅助工装来完成测试的过程，经检索，公开号为CN204925167U的技术专利一种二极管测试工装，包括第一导电测试片、第二导电测试片、第一导电测试座、第二导电测试座和固定座；所述第一、二导电测试座均包括相应的导电衔接片和用来支撑二极管一个引脚的导电托座；所述第一导电测试座的第一导电衔接片的一端和第一导电测试片的一端分别插入固定座内，且第一导电衔接片的一端与第一导电测试片的一端搭接，第一导电测试片的另一端位于固定座外；所述第二导电测试座的第二导电衔接片的一端和第二导电测试片的一端分别插入固定座内，且第二导电衔接片的一端与第二导电测试片的一端搭接，第二导电测试片的另一端位于固定座外。但是在使用过程中其导电测试片均固定在固定座内，测试过程中灵活性较差，不能根据测试的二极管的大小灵活的调整，使得测试工装使用范围受限，影响其对不同大小的二极管测试使用。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种SiC二极管测试用夹具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种SiC二极管测试用夹具，包括固定座、第一测试夹和第二测试夹，所述固定座一侧固定有两个第一测试杆和两个第二测试杆，所述固定座内在两个第一测试杆的端部处均开设有空腔，所述固定座内在空腔的一侧开设有滑槽，所述第一测试夹设置有两个且其分别安装在两个空腔内，且所述第一测试夹的尾端滑动连接在滑槽内，所述固定座内还转动连接有转轴，所述转轴的外侧在靠近两个第一测试夹的部分固定连接有齿轮，所述第一测试夹的底面固定有齿条，所述齿轮与齿条之间啮合连接，所述第二测试夹也设置有两个，且其分别固定在固定座内靠近第二测试杆的端部处；所述第一测试夹和第二测试夹的另一端分别固定有测试座，两个所述测试座设置在同一水平面上。优选的，所述第一测试夹为折线型结构，且在其尾端设置有水平段，所述水平段滑动连接在滑槽内，且在水平段的底面固定有齿条。优选的，所述固定座内在每个空腔内靠近第一测试夹底面的部分还开设有圆形腔，所述转轴贯穿两个圆形腔，所述转轴在每个圆形腔内的部分还固定有齿轮，所述齿轮与齿条相互配合使用。优选的，所述固定座内在与滑槽相对的另一侧还开设有限位块，所述限位块与第一测试夹的折线段相互配合使用。优选的，所述第一测试杆的在固定座内侧的部分设置有接触头，所述接触头的底端与第一测试夹的水平段相接触。优选的，所述第二测试杆在固定座内部的部分与第二测试夹的内侧端接触。优选的，所述测试座包括竖向板和横托板，所述竖向板分别固定在第一测试夹或第二测试夹的端部，所述横托板固定在竖向板的底端，所述竖向板和横托板相互之间垂直设置。优选的，所述转轴的一端延伸至固定座的外侧，且在其延伸端固定有旋钮。本技术与现有技术相比具有以下优点：本技术通过在测试用固定座内设置有固定测试夹和活动测试夹，活动测试夹能通过齿轮和齿条的关系带动其在固定座内进行位置的调整，在进行二极管电性能测试时，将SiC二极管同侧的引脚放在同侧的测试座上，然后调整第一测试夹连接的测试座的位置，使得两侧的测试座将SiC二极管两侧夹紧，完成紧密接触，形成了良好欧姆接触，便于实施二极管的电性能测试，具体调整过程为手动转动旋钮，使得旋钮带动转轴转动，进而带动齿轮转动完成齿条的位置调整，即可通过齿条的作用完成第一测试夹的位置调整，便于不同大小的SiC二极管的测试使用，便捷方便。附图说明图1是本技术整体结构俯视图；图2是本技术内部结构剖视图。附图标记说明：1-固定座；11-空腔；12-滑槽；13-圆形腔；2-第一测试杆；21-接触头；3-第二测试杆；4-第一测试夹；41-水平段；42-齿条；5-第二测试夹；6-测试座；61-竖向板；62-横托板；7-转轴；71-齿轮。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如图1-2所示，本技术提供一种技术方案：一种SiC二极管测试用夹具，包括固定座1、第一测试夹4和第二测试夹5，所述固定座1一侧固定有两个第一测试杆2和两个第二测试杆3，所述固定座1内在两个第一测试杆2的端部处均开设有空腔11，所述固定座1内在空腔11的一侧开设有滑槽12，所述第一测试夹4设置有两个且其分别安装在两个空腔11内，所述第一测试夹4为折线型结构，且在其尾端设置有水平段41，所述水平段41滑动连接在滑槽12内，第一测试夹4在空腔11内能沿着滑槽12轴向方向进行移动，进而能完成第一测试夹4与第二测试夹5之间空间的调整；在水平段41的底面固定有齿条42，所述固定座1内还转动连接有转轴7，所述固定座1内在每个空腔11内靠近第一测试夹4底面的部分还开设有圆形腔13，所述转轴7贯穿两个圆形腔13，所述转轴7在每个圆形腔13内的部分还固定有齿轮71，所述齿轮71与齿条42相互配合使用，具体为所述齿轮71与齿条42之间啮合连接，通过转动转轴7带动齿轮71转动，完成与齿轮71啮合的齿条42的移动，进而带动第一测试夹4的位置的移动，完成测试用二极管在第一测试夹4和第二测试夹5之间的夹紧连接作用，便于完成二极管电性的测试。为了避免在第一测试夹4位置移动过程中滑出空腔11，所述固定座1内在与滑槽12相对的另一侧还开设有限位块，限位块具体为斜面与第一测试夹4折线段的斜面相平行的斜三角块，所述限位块与第一测试夹4的折线段相互配合使用，能避免在转轴7转动过程中将第一测试夹4滑出固定座1的空腔11外，引起工装的损坏。为了便于收到转动转轴7完成第一测试夹4位置的调整，所述转轴7的一端延伸至固定座1的外侧，且在其延伸端固定有旋钮72。为了便于测试使用，所述第一测试杆2的在固定座1内侧的部分设置有接触头21，所述接触头21的底端与第一测试夹4的水平段41相接触，完成第一测试杆2与第一测试夹4之间的导电接触作用。所述第二测试夹5也设置有两个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SiC二极管测试用夹具，包括固定座(1)、第一测试夹(4)和第二测试夹(5)，所述固定座(1)一侧固定有两个第一测试杆(2)和两个第二测试杆(3)，其特征在于：所述固定座(1)内在两个第一测试杆(2)的端部处均开设有空腔(11)，所述固定座(1)内在空腔(11)的一侧开设有滑槽(12)，所述第一测试夹(4)设置有两个且其分别安装在两个空腔(11)内，且所述第一测试夹(4)的尾端滑动连接在滑槽(12)内，所述固定座(1)内还转动连接有转轴(7)，所述转轴(7)的外侧在靠近两个第一测试夹(4)的部分固定连接有齿轮(71)，所述第一测试夹(4)的底面固定有齿条(42)，所述齿轮(71)与齿条(42)之间啮合连接，所述第二测试夹(5)也设置有两个，且其分别固定在固定座(1)内靠近第二测试杆(3)的端部处；/n所述第一测试夹(4)和第二测试夹(5)的另一端分别固定有测试座(6)，两个所述测试座(6)设置在同一水平面上。/n

【技术特征摘要】
1.一种SiC二极管测试用夹具，包括固定座(1)、第一测试夹(4)和第二测试夹(5)，所述固定座(1)一侧固定有两个第一测试杆(2)和两个第二测试杆(3)，其特征在于：所述固定座(1)内在两个第一测试杆(2)的端部处均开设有空腔(11)，所述固定座(1)内在空腔(11)的一侧开设有滑槽(12)，所述第一测试夹(4)设置有两个且其分别安装在两个空腔(11)内，且所述第一测试夹(4)的尾端滑动连接在滑槽(12)内，所述固定座(1)内还转动连接有转轴(7)，所述转轴(7)的外侧在靠近两个第一测试夹(4)的部分固定连接有齿轮(71)，所述第一测试夹(4)的底面固定有齿条(42)，所述齿轮(71)与齿条(42)之间啮合连接，所述第二测试夹(5)也设置有两个，且其分别固定在固定座(1)内靠近第二测试杆(3)的端部处；
所述第一测试夹(4)和第二测试夹(5)的另一端分别固定有测试座(6)，两个所述测试座(6)设置在同一水平面上。


2.根据权利要求1所述的一种SiC二极管测试用夹具，其特征在于，所述第一测试夹(4)为折线型结构，且在其尾端设置有水平段(41)，所述水平段(41)滑动连接在滑槽(12)内，且在水平段(41)的底面固定有齿条(42)。


3.根据权利要求2所述的一种SiC二极管测试用夹具，其特征在于，所述固定座(1)内在每个空腔(11)内靠近第一测试夹(4)底面的部分...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒲辰，
申请(专利权)人：西安长禾半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61