一种带校正组件的测试结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种带校正组件的测试结构，安装底板、测试片组A、测试片组B、校正组件、定位座安装板、定位座、测试片组A定位板、测试片组B定位板；所述校正组件包括支架、爪座A、校正爪A、爪座B、校正爪B、连接轴A、连接轴B、导向轴；所述安装底板的下表面固定设置有限位块，所述限位块与所述定位座对应的位置设置有顶针。本实用新型专利技术的有益效果是：通过设置校正组件，确保三极管测试时的位置正确，在确保测试精准度的前提下，确保测试的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种带校正组件的测试结构
本技术涉及三极管加工
，尤其涉及一种带校正组件的测试结构。
技术介绍
现有技术中，对于三极管触脚的电性测试，一般会将三极管放在测试台上，而三极管相对两侧的3根触脚分别与测试台上的3片测试片接触进行电性检测，这样的检测结构，长期存在检测结构不够精准的情况，三极管放置在测试台上，常出现放置位置不规范的问题，从而直接影响到测试的质量，鉴于这种情况，亟待改进。
技术实现思路
基于此，本技术的目的在于提供一种带校正组件的测试结构，通过设置校正组件，确保三极管测试时的位置正确，在确保测试精准度的前提下，确保测试的质量。本技术提供一种带校正组件的测试结构，安装底板、测试片组A、测试片组B、校正组件、定位座安装板、定位座、测试片组A定位板、测试片组B定位板。所述测试片组A定位板设置在所述安装底板上表面的一侧，所述测试片组B定位板设置在所述安装底板上表面的相对另一侧，所述测试片组A通过测试片组A定位板进行固定，所述测试片组B通过测试片组B定位板进行固定，所述定位座安装板固定设置在所述安装底板的上表面并且位于所述测试片组A和所述测试片组B之间，所述定位座固定设置在所述定位座安装板上。所述校正组件包括支架、爪座A、校正爪A、爪座B、校正爪B、连接轴A、连接轴B、导向轴，所述爪座A与所述校正爪A固定连接，所述爪座B与所述校正爪B固定连接，所述连接轴A的一端与所述支架连接，所述连接轴A的另一端与所述爪座A连接；所述连接轴B的一端与所述支架连接，所述连接轴B的另一端与所述爪座B连接；所述导向轴与所述支架连接并且设置在所述爪座A和所述爪座B之间，所述爪座A的一侧套设在所述导向轴上，所述爪座B靠向所述导向轴的一侧设置有与所述导向轴对应的让位槽；所述校正爪A和所述校正爪B的上部分别对应设置在所述定位座的相对两侧从而形成校正测试空间。所述安装底板的下表面固定设置有限位块，所述限位块与所述定位座对应的位置设置有顶针，所述顶针的一端贯穿所述定位座并且延伸出所述定位座的上表面，所述顶针的另一端贯穿所述限位块并且延伸出所述限位块的下表面；所述顶针外套设有复位弹簧。作为优选方案，所述限位块与所述顶针对应的一侧设置有弹簧收纳槽，所述顶针远离所述限位块的一侧设置有环形压片，所述弹簧套设在所述顶针外，所述弹簧的下端嵌合设在所述弹簧收纳槽内，所述弹簧的上端与所述环形压片的下表面相抵接触。作为优选方案，所述测试片组A由六片测试片水平排列而成；所述测试片组B由六片测试片水平排列而成。作为优选方案，所述测试片组A定位板包括上压板A和下压板B，所述测试片组A夹设在所述上压板A和下压板B之间；所述测试片组B定位板包括上压板C和下压板D，所述测试片组B夹设在所述上压板C和下压板D之间。作为优选方案，所述安装底板的上表面靠近所述测试片组A定位板的一侧设置有绝缘压板结构A，所述绝缘压板结构A包括上盖板A、上绝缘压板A、下绝缘压板A，所述下绝缘压板A与所述安装底板的上表面固定连接，所述下绝缘压板A的上表面开设有若干与所述测试片对应的条形槽，所述测试片组A对应嵌合设置在所述条形槽内，所述上绝缘压板A设置在所述下绝缘压板A的上方，所述上盖板A罩设在所述上绝缘压板A上。作为优选方案，所述安装底板的上表面靠近所述测试片组B定位板的一侧设置有绝缘压板结构B；所述绝缘压板结构B包括上盖板B、上绝缘压板B、下绝缘压板B，所述下绝缘压板B与所述安装底板的上表面固定连接，所述下绝缘压板B的上表面开设有若干与所述测试片对应的条形槽，所述测试片组B对应嵌合设置在所述条形槽内，所述上绝缘压板B设置在所述下绝缘压板B的上方，所述上盖板B罩设在所述上绝缘压板A上。作为优选方案，所述校正爪A和所述校正爪B均设置为Z形。作为优选方案，所述校正爪A靠向所述校正测试空间的一侧面设置为倾斜面，所述校正爪B靠向所述校正测试空间的一侧面设置为倾斜面，两侧所述倾斜面与所述定位座形成上宽下窄的梯形面。本技术的有益效果为：1、校正爪A和校正爪B的上部分别对应设置在定位座的相对两侧从而形成校正测试空间，吸咀将三极管放置到校正测试空间内，校正爪A和校正爪B将三极管限位固定住，三极管相对两侧的各触脚分别与测试片组A和测试片组B接触进行检测，从而确保三极管测试时的位置正确，在确保测试精准度的前提下，确保测试的质量；2、限位块与定位座对应的位置设置有顶针，当吸咀将三极管放置到校正测试空间内时，三极管的底部先与顶针的上表面接触，顶针在弹簧的复位作用力下给三极管提供了一个向上的作用力，从而避免吸咀带动三极管下压至与定位座接触时由于力度过大导致三极管报废，确保产品的质量。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为本技术的结构示意图(不带安装底板)。图3为本技术的俯视图。图4为本技术的侧视图(不带安装底板)。图5为校正组件的结构视图。附图标记为：安装底板10、下绝缘压板A11、上盖板A12、上压板A13、校正爪A14、顶针15、测试片组B16、上压板C17、下压板D19、上盖板B18、下绝缘压板B20、支架21、校正爪B22、测试片组A23、上绝缘压板A24、定位座安装板25、连接轴B26、复位弹簧27、限位块28、爪座A29、爪座B30、校正测试空间31、定位座32、环形压片33、连接轴A34、下压板B35、让位槽36、导向轴37、条形槽38、绝缘压板结构A39、绝缘压板结构B41、测试片组A定位板42、测试片组B定位板43。具体实施方式为能进一步了解本技术的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合具体实施方式和附图对本技术作进一步详细描述。本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。参照图1-5所示，本技术提供一种带校正组件的测试结构，安装底板10、测试片组A23、测试片组B16、校正组件、定位座安装板25、定位座32、测试片组A定位板42、测试片组B定位板43。本实施方式中，测试片组A23由六片测试片水平排列而成，其中，每两片测试片为一小组。测试片组B16由六片测试片水平排列而成，其中，每两片测试片为一小组。测试时，三极管的每根触脚均与每小组的测试片接触，即实现一个触脚在测试时同时接触两片测试片，从而确保测试的精准度。测试片组A定位板42设置在安装底板10上表面的一侧，测试片组B定位板43设置在安装底板10上表面的相对另一侧，测试片组A23通过测试片组A定位板42进行固定，测试片组B16通过测试片组B定位板43进行固定，定位座安装板25固定设置在安装底板10的上表面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带校正组件的测试结构，其特征在于：安装底板(10)、测试片组A(23)、测试片组B(16)、校正组件、定位座安装板(25)、定位座(32)、测试片组A定位板(42)、测试片组B定位板(43)；/n所述测试片组A定位板(42)设置在所述安装底板(10)上表面的一侧，所述测试片组B定位板(43)设置在所述安装底板(10)上表面的相对另一侧，所述测试片组A(23)通过测试片组A定位板(42)进行固定，所述测试片组B(16)通过测试片组B定位板(43)进行固定，所述定位座安装板(25)固定设置在所述安装底板(10)的上表面并且位于所述测试片组A(23)和所述测试片组B(16)之间，所述定位座(32)固定设置在所述定位座安装板(25)上；/n所述校正组件包括支架(21)、爪座A(29)、校正爪A(14)、爪座B(30)、校正爪B(22)、连接轴A(34)、连接轴B(26)、导向轴(37)，所述爪座A(29)与所述校正爪A(14)固定连接，所述爪座B(30)与所述校正爪B(22)固定连接，所述连接轴A(34)的一端与所述支架(21)连接，所述连接轴A(34)的另一端与所述爪座A(29)连接；所述连接轴B(26)的一端与所述支架(21)连接，所述连接轴B(26)的另一端与所述爪座B(30)连接；所述导向轴(37)与所述支架(21)连接并且设置在所述爪座A(29)和所述爪座B(30)之间，所述爪座A(29)的一侧套设在所述导向轴(37)上，所述爪座B(30)靠向所述导向轴(37)的一侧设置有与所述导向轴(37)对应的让位槽(36)；所述校正爪A(14)和所述校正爪B(22)的上部分别对应设置在所述定位座(32)的相对两侧从而形成校正测试空间(31)；/n所述安装底板(10)的下表面固定设置有限位块(28)，所述限位块(28)与所述定位座对应的位置设置有顶针(15)，所述顶针(15)的一端贯穿所述定位座并且延伸出所述定位座的上表面，所述顶针(15)的另一端贯穿所述限位块(28)并且延伸出所述限位块(28)的下表面；所述顶针(15)外套设有复位弹簧(27)。/n...

【技术特征摘要】
1.一种带校正组件的测试结构，其特征在于：安装底板(10)、测试片组A(23)、测试片组B(16)、校正组件、定位座安装板(25)、定位座(32)、测试片组A定位板(42)、测试片组B定位板(43)；
所述测试片组A定位板(42)设置在所述安装底板(10)上表面的一侧，所述测试片组B定位板(43)设置在所述安装底板(10)上表面的相对另一侧，所述测试片组A(23)通过测试片组A定位板(42)进行固定，所述测试片组B(16)通过测试片组B定位板(43)进行固定，所述定位座安装板(25)固定设置在所述安装底板(10)的上表面并且位于所述测试片组A(23)和所述测试片组B(16)之间，所述定位座(32)固定设置在所述定位座安装板(25)上；
所述校正组件包括支架(21)、爪座A(29)、校正爪A(14)、爪座B(30)、校正爪B(22)、连接轴A(34)、连接轴B(26)、导向轴(37)，所述爪座A(29)与所述校正爪A(14)固定连接，所述爪座B(30)与所述校正爪B(22)固定连接，所述连接轴A(34)的一端与所述支架(21)连接，所述连接轴A(34)的另一端与所述爪座A(29)连接；所述连接轴B(26)的一端与所述支架(21)连接，所述连接轴B(26)的另一端与所述爪座B(30)连接；所述导向轴(37)与所述支架(21)连接并且设置在所述爪座A(29)和所述爪座B(30)之间，所述爪座A(29)的一侧套设在所述导向轴(37)上，所述爪座B(30)靠向所述导向轴(37)的一侧设置有与所述导向轴(37)对应的让位槽(36)；所述校正爪A(14)和所述校正爪B(22)的上部分别对应设置在所述定位座(32)的相对两侧从而形成校正测试空间(31)；
所述安装底板(10)的下表面固定设置有限位块(28)，所述限位块(28)与所述定位座对应的位置设置有顶针(15)，所述顶针(15)的一端贯穿所述定位座并且延伸出所述定位座的上表面，所述顶针(15)的另一端贯穿所述限位块(28)并且延伸出所述限位块(28)的下表面；所述顶针(15)外套设有复位弹簧(27)。


2.根据权利要求1所述的一种带校正组件的测试结构，其特征在于：所述限位块(28)与所述顶针(15)对应的一侧设置有弹簧收纳槽，所述顶针(15)远离所述限位块(28)的一侧设置有环形压片(33)，所述复位弹簧(27)套设在所述顶针(15)外，所述复位弹簧(27)的下端嵌合设在所述弹簧收纳槽内，所述复位弹簧(27)的上端与所述环形压片(...

【专利技术属性】
技术研发人员：覃荣俊，
申请(专利权)人：中之半导体科技东莞有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44