一种通用LED测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种通用LED测试装置及测试方法，属于LED测试技术领域，该方法包括：测试平台，测试平台内嵌有置物台，置物台内开有置物台窗口，置物台的上表面设有上层测试夹，上层测试夹连接有金属电极柱，金属电极柱的顶部位于测试平台的上方，金属电极柱的下部穿过测试平台，置物台的下底面设有下层测试夹，下层测试夹一端与金属电极柱的下部连接；测试底座，测试底座位于测试平台的下方，测试底座内设有电极柱槽，电极柱槽内设有电极触点，电极触点具有弹性，金属电极柱下部位于所电极柱槽内，且与电极触点紧密接触。且与电极触点紧密接触。且与电极触点紧密接触。

【技术实现步骤摘要】
一种通用LED测试装置及测试方法


[0001]本专利技术属于LED测试
，尤其涉及一种通用LED测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]LED(Light Emitting Diode发光二极管)是半导体二极管的一种，可以把电能转化成光能。目前市场上的LED外观形式种类较多，从电极的位置上分，有的电极在出光面的上面，有的电极在出光面的下面，还有的在出光面的侧面。尤其是紫外LED，由于芯片封装形式是倒装，电极一般在出光面的下方，由于电极本身尺寸较小，普通的积分球测试使用的测试夹具是弹性探针形式，放置LED后看不见测试探针是否与LED电极接触，只能通电看LED是否被点亮，有时还需要多次矫正，测试效率比较低。另外，由于电极的位置不同，测试时还需要更换测试夹具，由于反复的更换测试夹具会磨损夹具转换的接口，从而造成对夹具的损坏，影响夹具的使用寿命。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种通用LED测试装置及测试方法，以解决上述测试效率比较低、对夹具的造成损坏的问题。
[0004]根据本专利技术的一个方面，提供了一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用LED测试装置，包括：测试平台，所述测试平台内嵌有置物台，所述置物台内开有置物台窗口，所述置物台的上表面设有上层测试夹，所述上层测试夹连接有金属电极柱，所述金属电极柱的顶部位于测试平台的上方，所述金属电极柱的下部穿过测试平台，所述置物台的下底面设有下层测试夹，所述下层测试夹一端与所述金属电极柱的下部连接；测试底座，所述测试底座位于所述测试平台的下方，所述测试底座内设有电极柱槽，所述电极柱槽内设有电极触点，所述电极触点具有弹性，所述金属电极柱下部位于所述电极柱槽内，且与所述电极触点紧密接触，所述金属电极柱底部连接有导线，所述导线另一端用于与电源连接。2.根据权利要求1所述的装置，所述测试平台的下底面设有定位片，所述测试平台的上表面设有与所述定位片相配合的定位槽。3.根据权利要求1所述的装置，所述电极柱槽的下方设有磁铁，用于吸附所述金属电极柱。4.根据权利要求1
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3任一项所述的装置，所述置物台窗口的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘春岩，闫建昌，薛斌，王军喜，李晋闽，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：