一种用于半导体测试机的转接装置制造方法及图纸

技术编号:29978519 阅读:11 留言:0更新日期:2021-09-08 10:07
本实用新型专利技术属于半导体相关技术领域,具体涉及一种用于半导体测试机的转接装置,包括测试机本体,所述测试机本体顶部的中心处栓接有测试台,所述测试机本体的顶部卡接有转接板,所述转接板位于测试台的正上方,所述转接板两侧的正面和背面均栓接有固定座,所述固定座的内腔设置有紧固机构,所述测试机本体顶部的四周均开设有第一凹槽。本实用新型专利技术通过第二凹槽、活动板、定位块和第一弹簧配合,第一弹簧的弹性势能使得定位块可与定位槽进行紧固卡接,进一步增强了固定块与移动板的紧固效果,从而使得转接板与测试机本体卡接更加牢固,避免转接板发生晃动,解决了传统的半导体测试机的转接装置固定效果差的问题。接装置固定效果差的问题。接装置固定效果差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体测试机的转接装置


[0001]本技术属于半导体相关
,具体涉及一种用于半导体测试机的转接装置。

技术介绍

[0002]导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件,无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的,大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。
[0003]为了保证半导体的产品质量,半导体生产完成后,都会统一对半导体进行各项测试,传统的半导体测试机的转接装置固定效果差,大多数转接装置是通过定位销直接将转接板与半导体测试机进行导向定位,在对半导体进行测试时转接板易发生晃动,从而影响半导体测试机对半导体的精准测试,易造成测试结果出现误差。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于半导体测试机的转接装置,以解决上述
技术介绍
中提出的传统的半导体测试机的转接装置固定效果差的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
[0006]一种用于半导体测试机的转接装置,包括测试机本体,所述测试机本体顶部的中心处栓接有测试台,所述测试机本体的顶部卡接有转接板,所述转接板位于测试台的正上方,所述转接板两侧的正面和背面均栓接有固定座,所述固定座的内腔设置有紧固机构,所述测试机本体顶部的四周均开设有第一凹槽,所述紧固机构的底部与第一凹槽内腔的两侧卡接,所述第一凹槽内腔的两侧均栓接有固定块,所述转接板底部的四周均栓接有定位销,所述测试机本体顶部的四周均开设有与定位销配合使用的销孔。
[0007]优选的,所述紧固机构包括丝杆、推板、活动杆、移动板、第二凹槽、活动板、定位块和第一弹簧,所述固定座顶部的中心处通过轴承转动连接有丝杆,所述丝杆的表面螺纹连接有螺纹套,且螺纹套的外侧栓接有推板,所述推板底部的四周均通过第一活动座活动连接有活动杆,所述活动杆远离推板的一侧通过第二活动座活动连接有移动板,所述移动板相向一侧的底部开设有通槽,且通槽内腔的顶部和底部均开设有定位槽,所述固定块的顶部和底部均开设有第二凹槽,所述第二凹槽内腔的两侧横向滑动连接有活动板,所述活动板靠近定位槽的一侧栓接有与定位槽配合使用的定位块,所述活动板远离定位块一侧的四周均栓接有第一弹簧,所述第一弹簧远离活动板的一侧与第二凹槽的内腔栓接。
[0008]优选的,所述移动板相向一侧的正面和背面均嵌设有滑套,且滑套的内腔滑动连接有滑杆,所述滑杆的两侧均与固定座内腔的两侧栓接。
[0009]优选的,所述固定座内腔两侧的顶部均开设有滑槽,所述滑槽的内腔滑动连接有
与推板配合使用的滑块。
[0010]优选的,所述推板顶部的四周均栓接有第二弹簧,所述第二弹簧的顶部与固定座内腔的顶部栓接。
[0011]优选的,所述丝杆的顶部栓接有连接板,且连接板的顶部栓接有旋钮。
[0012]优选的,所述移动板外侧底部的正面和背面均栓接有限位柱,所述第一凹槽内腔两侧的正面和背面均开设有与限位柱配合使用的限位孔。
[0013]本技术的有益效果是:
[0014]1、本技术通过丝杆和螺纹套的配合,为推板的移动提供手动驱动来源,通过推板、活动杆、移动板和通槽的配合,使得移动板可与固定块进行紧固卡接,通过第二凹槽、活动板、定位块和第一弹簧配合,第一弹簧的弹性势能使得定位块可与定位槽进行紧固卡接,进一步增强了固定块与移动板的紧固效果,从而使得转接板与测试机本体卡接更加牢固,避免转接板发生晃动,从而有效保证对半导体测试结果的准确性,解决了传统的半导体测试机的转接装置固定效果差的问题。
[0015]2、本技术通过滑套和滑杆的配合,防止移动板在移动过程中发生位置偏移,进一步增强了移动板移动时的稳定性,通过滑槽和滑块的配合,使得推板可平稳进行移动,同时也对推板的移动起到滑动限位的作用,通过第二弹簧的配合,防止推板移动速度过快而影响移动板的稳定卡接,同时也对推板的移动起到弹性缓冲的作用,通过连接板和旋钮的配合,便于使用者对丝杆进行扭转,便于使用者对转接板进行固定安装,通过限位柱和限位孔的配合,进一步增强了移动板与第一凹槽的固定效果,对移动板也起到有效固定作用。
附图说明
[0016]附图用来提供对本技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本技术的实施例一起用于解释本技术,并不构成对本技术的限制,在附图中:
[0017]图1为本技术提出的一种用于半导体测试机的转接装置示意图;
[0018]图2为本技术提出的一种用于半导体测试机的转接装置的机构局部立体图;
[0019]图3为本技术提出的活动板、定位块和第一弹簧的结构局部立体图;
[0020]图4为本技术提出的A区的结构放大图。
[0021]图例说明:1、测试机本体;2、测试台;3、转接板;4、固定座;5、紧固机构;51、丝杆;52、推板;53、活动杆;54、移动板;55、第二凹槽;56、活动板;57、定位块;58、第一弹簧;6、第一凹槽;7、固定块;8、定位销;9、滑杆;10、滑槽;11、滑块;12、第二弹簧;13、旋钮;14、限位柱。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0023]请参阅图1

图4,一种用于半导体测试机的转接装置,包括测试机本体1,测试机本体1顶部的中心处栓接有测试台2,测试机本体1的顶部卡接有转接板3,转接板3位于测试台
2的正上方,转接板3两侧的正面和背面均栓接有固定座4,固定座4的内腔设置有紧固机构5,测试机本体1顶部的四周均开设有第一凹槽6,紧固机构5的底部与第一凹槽6内腔的两侧卡接,第一凹槽6内腔的两侧均栓接有固定块7,转接板3底部的四周均栓接有定位销8,测试机本体1顶部的四周均开设有与定位销8配合使用的销孔。本技术通过丝杆51和螺纹套的配合,为推板52的移动提供手动驱动来源,通过推板52、活动杆53、移动板54和通槽的配合,使得移动板54可与固定块7进行紧固卡接,通过第二凹槽55、活动板56、定位块57和第一弹簧58配合,第一弹簧58的弹性势能使得定位块57可与定位槽进行紧固卡接,进一步增强了固定块7与移动板54的紧固效果,从而使得转接板3与测试机本体1卡接更加牢固,避免转接板3发生晃动,从而有效保证对半导体测试结果的准确性,解决了传统的半导体测试机的转接装置固定效果差的问题。
[0024]紧固机构5包括丝杆51、推板52、活动杆53、移动板54、第二凹槽55、活动板56、定位块57本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体测试机的转接装置,包括测试机本体(1),其特征在于:所述测试机本体(1)顶部的中心处栓接有测试台(2),所述测试机本体(1)的顶部卡接有转接板(3),所述转接板(3)位于测试台(2)的正上方,所述转接板(3)两侧的正面和背面均栓接有固定座(4),所述固定座(4)的内腔设置有紧固机构(5),所述测试机本体(1)顶部的四周均开设有第一凹槽(6),所述紧固机构(5)的底部与第一凹槽(6)内腔的两侧卡接,所述第一凹槽(6)内腔的两侧均栓接有固定块(7),所述转接板(3)底部的四周均栓接有定位销(8),所述测试机本体(1)顶部的四周均开设有与定位销(8)配合使用的销孔。2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试机的转接装置,其特征在于:所述紧固机构(5)包括丝杆(51)、推板(52)、活动杆(53)、移动板(54)、第二凹槽(55)、活动板(56)、定位块(57)和第一弹簧(58),所述固定座(4)顶部的中心处通过轴承转动连接有丝杆(51),所述丝杆(51)的表面螺纹连接有螺纹套,且螺纹套的外侧栓接有推板(52),所述推板(52)底部的四周均通过第一活动座活动连接有活动杆(53),所述活动杆(53)远离推板(52)的一侧通过第二活动座活动连接有移动板(54),所述移动板(54)相向一侧的底部开设有通槽,且通槽内腔的顶部和底部均开设有定位槽,所述固定块(7)的顶部和底部均开设有第二凹槽(55...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘静陈伟
申请(专利权)人:芯冠苏州半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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