一种智能芯片尺寸检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及检测设备的技术领域，特别是涉及一种智能芯片尺寸检测设备，其通过设置，省去人工测量，可提高测量速率，同时提高测量的精准度；包括底座、检测箱、计时器、芯片感应扫描头、固定块、四组T型滑块、电动推杆和L型固定板，底座顶端和检测箱底端固定连接，计时器位于底座内，并且通过调节装置和底座连接，芯片感应扫描头顶端和计时器底端连接，芯片感应扫描头和计时器电连接，固定块底端和底座顶端接触，固定块顶端设有凹槽，T型滑块顶端和固定块底端固定连接，底座顶端设有滑槽，T型滑块可在滑槽内左右滑动，固定块右端和电动推杆的输出端连接，电动推杆通过L型固定板固定安装在检测箱右侧内壁。

【技术实现步骤摘要】
一种智能芯片尺寸检测设备
本技术涉及检测设备的
，特别是涉及一种智能芯片尺寸检测设备。
技术介绍
众所周知，智能芯片生产完成后，需要对芯片进行尺寸测量检测，传统的测量方式是由操作人员手持测量工具对芯片的长短进行量尺，因智能芯片的尺寸大小不一，人工测量不方便，且测量的误差较大，导致检测结果不精准。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供一种通过设置，省去人工测量，可提高测量速率，降低测量误差，提高检测精准度的智能芯片尺寸检测设备。本技术的一种智能芯片尺寸检测设备，包括底座、检测箱、计时器、芯片感应扫描头、固定块、四组T型滑块、电动推杆和L型固定板，底座顶端和检测箱底端固定连接，计时器位于底座内，并且通过调节装置和底座连接，芯片感应扫描头顶端和计时器底端连接，芯片感应扫描头和计时器电连接，固定块底端和底座顶端接触，固定块顶端设有凹槽，T型滑块顶端和固定块底端固定连接，底座顶端设有滑槽，T型滑块可在滑槽内左右滑动，固定块右端和电动推杆的输出端连接，电动推杆通过L型固定板固定安装在检测箱右侧内壁。本技术的一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种智能芯片尺寸检测设备，其特征在于，包括底座(1)、检测箱(2)、计时器(3)、芯片感应扫描头(4)、固定块(5)、四组T型滑块(6)、电动推杆(7)和L型固定板(8)，底座(1)顶端和检测箱(2)底端固定连接，计时器(3)位于底座(1)内，并且通过调节装置和底座(1)连接，芯片感应扫描头(4)顶端和计时器(3)底端连接，芯片感应扫描头(4)和计时器(3)电连接，固定块(5)底端和底座(1)顶端接触，固定块(5)顶端设有凹槽，T型滑块(6)顶端和固定块(5)底端固定连接，底座(1)顶端设有滑槽，T型滑块(6)可在滑槽内左右滑动，固定块(5)右端和电动推杆(7)的输出端连接，电动推杆(7)...

【技术特征摘要】
1.一种智能芯片尺寸检测设备，其特征在于，包括底座(1)、检测箱(2)、计时器(3)、芯片感应扫描头(4)、固定块(5)、四组T型滑块(6)、电动推杆(7)和L型固定板(8)，底座(1)顶端和检测箱(2)底端固定连接，计时器(3)位于底座(1)内，并且通过调节装置和底座(1)连接，芯片感应扫描头(4)顶端和计时器(3)底端连接，芯片感应扫描头(4)和计时器(3)电连接，固定块(5)底端和底座(1)顶端接触，固定块(5)顶端设有凹槽，T型滑块(6)顶端和固定块(5)底端固定连接，底座(1)顶端设有滑槽，T型滑块(6)可在滑槽内左右滑动，固定块(5)右端和电动推杆(7)的输出端连接，电动推杆(7)通过L型固定板(8)固定安装在检测箱(2)右侧内壁。


2.如权利要求1所述的一种智能芯片尺寸检测设备，其特征在于，还包括托板(9)、电机(10)、丝杠(11)、滑块(12)和两组限位块(13)，托板(9)前端和检测箱(2)后端固定连接，电机(10)底端和托板(9)顶端固定连接，丝杠(11)后端和电机(10)的输出端连接，丝杠(11)前端穿过检测箱(2)并转动连接，滑块(12)螺装在丝杠(11)上，计时器(3)顶端和滑块(12)底端固定连接，两组限位块(13)分别固定安装在检测箱(2)的前后两端，丝杠(11)可转动穿过限位块(13)。


3.如权利要求2所述的一种智能芯片尺寸检测设备，其特征在于，还包括限位板(14)和限位杆(15)，限位板(14)底端和滑块(12)顶端固定连接，限位杆(15)固定安装在检测箱(2)内壁的前后两端，限...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘静，吴正，
申请(专利权)人：芯冠苏州半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32