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本实用新型涉及检测设备的技术领域，特别是涉及一种智能芯片尺寸检测设备，其通过设置，省去人工测量，可提高测量速率，同时提高测量的精准度；包括底座、检测箱、计时器、芯片感应扫描头、固定块、四组T型滑块、电动推杆和L型固定板，底座顶端和检测箱底端...
该专利属于芯冠(苏州)半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯冠(苏州)半导体有限公司授权不得商用。

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