【技术实现步骤摘要】
具有表面微柱体结构的固态影像传感器暨其制作方法
[0001]本专利技术涉及一种固态影像传感器,更具体言之,其涉及一种具有表面微柱体结构的固态影像传感器暨其制作方法,其能够增进传感器的量子效率并抑制暗电流。
技术介绍
[0002]使用具有半导体元件的电子设备对现代人而言是不可或缺的装置。用来感光的电子设备普遍都会涉及到固态(半导体)影像传感器,其中的互补式金属氧化物半导体影像传感器(CMOS image sensor,CIS)被广泛地应用在多种领域,诸如数字相机以及移动电话的摄像头。CMOS影像传感器一般会包含排成阵列型态的图像元件(像素),每个像素会含有晶体管、电容以及光电二极管,其中光电二极管暴露在光环境下会诱发电能,其所产生的电子与落在像素单元上的光量呈一定比例。这些电子在像素中会被转换成电压信号的形式并再进一步转换为数字信号。
[0003]CMOS影像传感器被分为前照式(front side illuminated,FSI)与背照式(back side illuminated,BSI)两大类,视其光路径而定。现今背照式影像传感器日益普及,其光是从传感器的基底背面入射,不会受到基底上介电层与互连层的阻挡直接打到光电二极管上。这样的直接入射使得背照式影像传感器具有更高的光敏度。
[0004]除此之外,在一些固态影像元件中,作为光电二极管的硅层受光介面处可能会具有一种被称为蛾眼(moth-eye)的细微不平整结构,其被提供来作为避免入射光反射的微结构。
[0005]然而,尽管蛾眼结构能够通过避 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种固态影像传感器,其特征在于,包含:第一掺杂型半导体基底;多个像素,位于该第一掺杂型半导体基底上,每个该像素包含光电转换部位,其中该光电转换部位由第二掺杂型半导体层与半导体材料层构成,并且该第二掺杂型半导体层接触该第一掺杂型半导体基底;抗反射部位,该抗反射部位具有多个微柱体位于该半导体材料层上,其中该些微柱体被伸入该光电转换部位的凹部所分隔,各该微柱体的折射率从底部往顶部逐渐变小并小于该半导体材料层的折射率;微透镜,位于该抗反射部位上;以及多个像素间阻挡部位,设置在该些像素之间。2.根据权利要求1所述的固态影像传感器,还包含第一掺杂型外延层位于该凹部裸露出的该光电转换部位上。3.根据权利要求1所述的固态影像传感器,还包含带有负电荷的高介电材料层,位于该些微柱体与凹部上。4.根据权利要求1所述的固态影像传感器,其中该凹部具有锥形的底端。5.根据权利要求1所述的固态影像传感器,其中该凹部具有{111}晶面钻石形的底端。6.根据权利要求1所述的固态影像传感器,其中该微柱体从该半导体材料层往上依序包含氧化钛层、氮化硅层、以及氧化硅层。7.根据权利要求1所述的固态影像传感器,其中该第一掺杂型半导体基底为P型半导体基底,该第二掺杂型半导体层为N型半导体层。8.根据权利要求1所述的固态影像传感器,其中该第一掺杂型半导体基底为N型半导体基底,该第二掺杂型半导体层为P型半导体层。9.根据权利要求1所述的固态影像传感器,其中该半导体材料层为第一掺杂型半导体层、第二掺杂型半导体层、本征半导体层其中之一或者组合。10.一种固态影像传感器,其特征在于,包含:第一掺杂型半导体基底;多个像素,位于该第一掺杂型半导体基底上,每个该像素包含光电转换部位,其中该光电转换部位由第二掺杂型半导体层与半导体材料层构成,该第二掺杂型半导体层接触该第一掺杂型半导体基底,该半导体材料层具有多个微柱体,该些微柱体为凹部所分隔,且该凹部具有{111}晶面钻石形的底端;微透镜,位于该半导体材料层上;以及多个像素间阻挡部位,设置在该些像素之间。11.根据权利要求10所述的固态影像传感器,还包含第一掺杂型外延层,形成在该半导体材料层上。12.根据权利要求10所述的固态影像传感器,还包含带有负电荷的高介电材料层,形成在该半导体材料层上。13.根据权利要求10所述的固态影像传感器,其中该第一掺杂型半导体基底为P型半导体基底,该第二掺杂型半导体层为N型半导体层。14.根据权利要求10所述的固态影像传感器,其中该第一掺杂型半导体基底为N型半导
体基底,该第二掺杂型半导体层为P型半导体层。15.根据权利要求10所述的固态影像传感器,其中该半导体材料层为第一掺杂型半导体层、第二掺杂型半导体层、本征半导体层其中之一或者组合。16.根据权利要求10所述的固态影像...
【专利技术属性】
技术研发人员:李世平,林忆苹,廖郁菁,陈雅婷,童心颖,
申请(专利权)人:力晶积成电子制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。