一种电容测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电容测试装置，其包括箱体和设置在箱体内的载物盘、信息采集机构、测试模块以及用于选择待测试信号的选择机构，信息采集机构和选择机构均分别与测试模块电性连接；载物盘包括多个稳定盘、多个测试基板和用于电性安装待测电容的插板，稳定盘的中心设置有中孔，测试基板围绕中孔设置在稳定盘上，测试基板上设置有多个分别与插板电性连接的第一触点阵，测试基板与插板电性连接；信息采集机构包括主轴、电机、第一传送带和第一采集器，主轴穿过中孔，电机的转轴与主轴固定连接，主轴与第一传送带连接，第一采集器固定在所述主轴上。其能提高测试效率，也能实现自动化测试。试。试。

【技术实现步骤摘要】
一种电容测试装置


[0001]本专利技术涉及集成电路半导体
，尤其涉及一种电容测试装置。

技术介绍

[0002]电容作为电子电路必不可少的电子元件，其性能直接关系到电子电路的性能，对电容性能的测试也是电子工业的必经工艺。
[0003]一般测试电容的工艺，都会测试电容的电阻性能和电容量性能，一般电容测试装置测试电容时，都是分开测试电容的电阻性能或电容量性能，而往往需要测试两次电容（一次测电阻性能、一次测电容量性能），测试效率不高，有的测试装置还需要人工进行选择，而不容易实现自动化测试。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种电容测试装置，其能提高测试效率，也能实现自动化测试。
[0005]本专利技术的目的采用以下技术方案实现：一种电容测试装置，其包括箱体和设置在所述箱体内的载物盘、信息采集机构、测试模块以及用于选择待测试信号的选择机构，所述信息采集机构和所述选择机构均分别与所述测试模块电性连接；所述载物盘包括多个稳定盘、多个测试基板和用于电性安装待测电容的插板，所述稳定盘的中心设置有中孔，多个稳定盘的中孔的中心线重合，所述测试基板围绕所述中孔设置在所述稳定盘上，所述测试基板上设置有多个分别与所述插板电性连接的第一触点阵，所述测试基板与所述插板电性连接；所述信息采集机构包括主轴、电机、第一传送带和第一采集器，所述主轴穿过所述中孔，所述电机的转轴与所述主轴固定连接，所述主轴与所述第一传送带连接，所述第一采集器固定在所述主轴上，当所述电机转动使所述主轴上的第一采集器水平转动，所述第一传送带再带动所述主轴垂直运动时，所述第一采集器与一个第一触点阵电性接触或断开。
[0006]优选的，所述选择机构包括第二传送带、气缸、第二采集器和底座，所述气缸与所述第二传送带连接，所述第二采集器固定在所述气缸的下端，所述第二采集器与所述测试模块电性连接，所述第二传送带设置在所述底座上，所述底座上设置有包括多个接触点的第二触点阵，所述第二触点阵与所述第一采集器电性连接，当所述第二传送带带动所述气缸水平移动，所述气缸再带动所述第二采集器垂直运动时，所述第二采集器与所述第二触点阵中的几个接触点电性接触或断开。
[0007]优选的，所述测试模块包括控制柜、电容测试计和电阻测试计，所述电容测试计和所述电阻测试计均分别与所述控制柜电性连接，所述电容测试计和所述电阻测试计均分别与所述第二采集器电性连接。
[0008]优选的，所述信息采集机构还包括连接块，所述电机与所述连接块固定连接，所述
主轴与所述连接块转动连接，所述连接块与所述第一传送带连接。
[0009]优选的，所述第一采集器包括第一探针，所述第二采集器包括第二探针，所述第一采集器本体通过所述第一探针与所述第一触点阵电性连接，所述第二采集器本体通过所述第二探针与所述第二触点阵电性连接。
[0010]优选的，所述载物盘还包括固定杆、压板和压条，多个稳定盘通过所述固定杆相互平行设置，所述压板与所述插板可拆卸连接，所述压条与所述压板螺纹连接。
[0011]优选的，所述中孔的两端设置有利于所述第一采集器穿过的耳孔。
[0012]优选的，所述箱体包括第一柜室、第二柜室和第三柜室，所述载物盘设置在所述第一柜室内，所述第一传送带和所述选择机构均设置在所述第二柜室内，所述测试模块设置在所述第三柜室内。
[0013]优选的，所述电容测试装置还包括利于所述主轴穿过的空心杆，所述空心杆设置在所述箱体的上端并与所述第一柜室连通，所述主轴与所述空心杆的中心线重合。
[0014]优选的，所述电容测试装置还包括用于控制所述第一柜室内温度的温度控制模块，所述温度控制模块与所述控制柜电性连接。
[0015]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：本电容测试装置可利用所述信息采集机构去采集待测电容的待测信号（电阻信号或电容量信号），所述选择机构可选择待测信号中的电阻信号或电容量信号给所述测试模块进行测试，而不需要对电容进行两次测试，提高了测试效率，且也可以实现自动化测试。
[0016]另外，所述载物盘包括多个稳定盘、多个测试基板和用于电性安装待测电容的插板，其中每个插板均可以安装一个待测电容，而可以一次性测试很多待测电容，从而进一步的提高了测试效率。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的电容测试装置的立体结构示意图；图2为图1中A处的放大结构示意图；图3为本专利技术的信息采集机构的部分结构示意图；图4为本专利技术的电容测试装置的平面结构示意图；图5为本专利技术的电容测试装置设置柜门后的部分结构示意图；图6为本专利技术的载物盘的俯视图；图7为本专利技术的底座的俯视图。
[0018]图中：100、电容测试装置；10、箱体；11、第一柜室；111、第一柜门；112、玻璃窗；12、第二柜室；121、第二柜门；13、第三柜室；14、空心杆；15、键盘；151、支撑臂；16、第一显示屏；17、报警器；18、开关板；19、第二显示屏；20、载物盘；21、稳定盘；22、测试基板；221、第一触点阵；23、插板；231、插孔；24、压板；25、压条；26、中孔；261、耳孔；27、固定杆；28、底板； 30、信息采集机构；31、主轴；32、第一采集器；321、第一探针；33、第一传送带；34、连接块；35、电机；40、选择机构；41、第二采集器；42、第二传送带；43、气缸；44、底座；45、第二触点阵；451、接触点；50、测试模块；51、控制柜；52、电阻测试计；53、电容测试计；54、电源。
具体实施方式
[0019]为了能够更清楚地理解本专利技术的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。
[0020]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0021]如图1所示，本申请公开了一种电容测试装置100，其包括箱体10和设置在所述箱体10内的载物盘20、信息采集机构30、测试模块50以及用于选择待测试信号的选择机构40，所述信息采集机构30和所述选择机构40均分别与所述测试模块50电性连接；如图2所示，所述载物盘20包括多个稳定盘21、多个测试基板22和用于电性安装待测电容的插板23，所述稳定盘21的中心设置有中孔26，多个稳定盘21的中孔26的中心线重合，所述测试基板22围绕所述中孔26设置在所述稳定盘21上，所述测试基板22上设置有多个分别与所述插板23电性连接的221，所述测试基板22与所述插板23电性连接；如图3所示，所述信息采集机构30包括主轴31、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容测试装置，其特征在于：其包括箱体和设置在所述箱体内的载物盘、信息采集机构、测试模块以及用于选择待测试信号的选择机构，所述信息采集机构和所述选择机构均分别与所述测试模块电性连接；所述载物盘包括多个稳定盘、多个测试基板和用于电性安装待测电容的插板，所述稳定盘的中心设置有中孔，多个稳定盘的中孔的中心线重合，所述测试基板围绕所述中孔设置在所述稳定盘上，所述测试基板上设置有多个分别与所述插板电性连接的第一触点阵，所述测试基板与所述插板电性连接；所述信息采集机构包括主轴、电机、第一传送带和第一采集器，所述主轴穿过所述中孔，所述电机的转轴与所述主轴固定连接，所述主轴与所述第一传送带连接，所述第一采集器固定在所述主轴上，当所述电机转动使所述主轴上的第一采集器水平转动，所述第一传送带再带动所述主轴垂直运动时，所述第一采集器与一个第一触点阵电性接触或断开。2.根据权利要求1所述的电容测试装置，其特征在于：所述选择机构包括第二传送带、气缸、第二采集器和底座，所述气缸与所述第二传送带连接，所述第二采集器固定在所述气缸的下端，所述第二采集器与所述测试模块电性连接，所述第二传送带设置在所述底座上，所述底座上设置有包括多个接触点的第二触点阵，所述第二触点阵与所述第一采集器电性连接，当所述第二传送带带动所述气缸水平移动，所述气缸再带动所述第二采集器垂直运动时，所述第二采集器与所述第二触点阵中的几个接触点电性接触或断开。3.根据权利要求2所述的电容测试装置，其特征在于：所述测试模块包括控制柜、电容测试计和电阻测试计，所述电容测试计和所述电...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹佶，田俊，王昀，
申请(专利权)人：浙江杭可仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：