【技术实现步骤摘要】
一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法
本专利技术属于拉曼光谱物质检测
，涉及一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法。
技术介绍
拉曼光谱法在物质检测与分析中具有广泛的应用，待测物在经过拉曼光谱测量后可获取其原始谱图，然而在原始谱图中除了待测物的拉曼谱峰外，还存在由待测物荧光、光谱仪杂散光、探测器固有信号等因素引起的光谱基线。为准确计算待测物拉曼峰的强度(峰高或峰面积)进而对待测物进行准确的定量分析，原始拉曼光谱需进行基线校正。拉曼光谱基线校正算法的中，参数的选取决定了基线校正的效果，进而影响峰强的计算与待测物的定量分析。现有拉曼光谱基线校正方法需要人工进行参数选取，选取的参数取决于操作人员的经验，使基线校正的准确性不足。此外，现有拉曼光谱基线校正方法往往使用同一条基线校正整张光谱。然而拉曼光谱各处的数据特征可能不同，若使用同一条基线校正完整光谱，则即使在最佳算法参数的情况下，依然会使谱图中部分谱峰的校正效果不佳。
技术实现思路
为解决现有技术中的不足，本申请提供一种基于...
【技术保护点】
1.一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：/n所述方法包括以下步骤：/n步骤1：获取多组分气体原始拉曼光谱数据，记为y
【技术特征摘要】
1.一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：
所述方法包括以下步骤：
步骤1：获取多组分气体原始拉曼光谱数据，记为y0；
步骤2：给定需进行基线校正的拉曼峰的频移；
步骤3：将滤波的截止频率fc设置为最低值；
步骤4：根据截止频率fc计算滤波器参数；
步骤5：根据步骤4的滤波器参数，对y0进行低通滤波，滤波后的数据记为y1；
步骤6：对步骤1原始拉曼光谱数据进行基线扣除，得到的数据记为y2，y2＝y0–y1；
步骤7：利用高斯拟合计算步骤2给定拉曼频移处的拉曼峰强，判断计算的拉曼峰强是否满足收敛条件：
若不满足收敛条件且截止频率未达到最大值，则提升截止频率fc并返回步骤4；若不满足收敛条件且截止频率已达到最大值，则放宽收敛条件并返回步骤3；若满足收敛条件则输出基线校正后的数据y2。
2.根据权利要求1所述的一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：
采用的滤波器为巴特沃斯滤波器。
3.根据权利要求1所述的一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：
步骤4中，利用butter函数计算得到滤波器参数B和A；
则滤波器为L＝1-A-1B。
4.根据权利要求1所述的一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：
步骤5中，利用filter函数对y0进行低通滤波。
5.根据权利要求1所述的一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：
步骤7中，利用peakfit函数进行拉曼谱峰的拟合并计算峰强。
6.根据权利要求1所述的一种基于低通滤波的自适应拉曼光谱基线校正方法，其特征在于：
步骤7具体包括以下步骤：
步骤701：利用高斯拟合计算步骤2给定拉曼频移处的拉曼峰强；
步骤702：提升一次截止频率f...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟根，王品一，王建新，万福，李剑，王飞鹏，黄正勇，王强，谭亚雄，潘建宇，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：重庆;50
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