本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构，测试装置包括底板、预警板、固定板和测试板，所述底板顶部与测试板底部固定连接，所述固定板底部与预警板顶部活动连接，所述底板包括曲型板，所述曲型板内部开设有预警孔，所述底板顶部固定连接有提醒板，所述底板顶部固定连接有弹簧管，所述弹簧管内顶壁固定连接有细杆，所述弹簧管内底壁固定连接有一号弹簧，正常的情况下，横支杆相远离的一端与曲型板内壁活动连接，当预警板顶部压力过大时，使得预警板向下运动，在下降过程中，挤压板由于二号弹簧的作用，会将挤压板向预警板左右两侧弹出，并敲击提醒板，可以提醒工作人员，防止意外的发生。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构
本技术涉及芯片测试
，具体为一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构。
技术介绍
设计初期系统级芯片测试，芯片测试的基础是深亚微米工艺，因此，对Soc器件的测试需要采用全新的方法，由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划，芯片又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心，可以控制电脑到手机到数字微波炉的一切。现如今的一些芯片性能测试装置在保护方面在存在着一点缺陷，在测试的过程中可能会发生意外，导致芯片的损坏，因此，亟需一种芯片性能测试装置及其关键结构，用于解决上述损坏芯片的问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构，具备在测试的过程中可以防止意外的发生，保护芯片，防止芯片发生损坏等优点，解决了在测试的过程中可能会发生意外，导致芯片的损坏的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片性能测试装置，包括底板、预警板、固定板和测试板，所述底板顶部与测试板底部固定连接，所述固定板底部与预警板顶部活动连接；所述底板包括曲型板，所述曲型板内部开设有预警孔，所述底板顶部固定连接有提醒板，所述底板顶部固定连接有弹簧管，所述弹簧管内顶壁固定连接有细杆，所述弹簧管内底壁固定连接有一号弹簧，所述一号弹簧顶部固定连接有粗杆；所述预警板包括横支杆，所述预警板内壁固定连接有隔板，所述隔板设置有两个，两个所述隔板相远离的一侧均固定连接有二号弹簧，所述二号弹簧远离隔板一侧固定连接有挤压板，所述横支杆设置有两个，两个所述横支杆相邻一端均固定连接有拉板；所述固定板包括螺纹杆，所述固定板正面活动连接有十字板，所述固定板顶部固定连接有夹板，所述夹板设置有两个，两个所述夹板相邻一侧固定连接有限制板，所述限制板设置有两个，顶部所述限制板底部左侧固定连接有滑杆，两个所述夹板相邻一侧固定连接有凹槽板；所述测试板包括横杆，所述横杆外侧活动连接有伸缩气缸，所述伸缩气缸底端固定连接有测试头本体。优选的，所述弹簧管设置有多个，多个所述弹簧管位于底板顶部呈矩形阵列分布。优选的，所述粗杆顶端贯穿弹簧管顶部并延伸至弹簧管顶部外侧，所述粗杆顶端与预警板底部固定连接，所述粗杆内部与细杆外侧活动连接。优选的，所述横支杆设置有两个，两个所述横支杆远离隔板一侧分别贯穿预警板左右两侧并延伸至预警板左右两侧外部，两个横支杆远离隔板一端与曲型板内壁活动连接，所述横支杆直径与预警孔直径相适配。优选的，所述拉板正面贯穿预警板正面并延伸至预警板正面外侧，所述拉板外侧与预警板正面活动连接。优选的，底部所述限制板内部开设有滑槽，所述滑杆外侧与滑槽内部活动连接。一种芯片性能测试装置的固定结构，所述固定板包括螺纹杆，所述固定板正面活动连接有十字板，所述固定板顶部固定连接有夹板，所述夹板设置有两个，两个所述夹板相邻一侧固定连接有限制板，所述限制板设置有两个，顶部所述限制板底部左侧固定连接有滑杆，两个所述夹板相邻一侧固定连接有凹槽板，底部所述限制板内部开设有滑槽，所述滑杆外侧与该滑槽内部活动连接。一种芯片性能测试装置的预警结构，包括横支杆，预警板内壁固定连接有隔板，所述隔板设置有两个，两个所述隔板相远离的一侧均固定连接有二号弹簧，所述二号弹簧远离隔板一侧固定连接有挤压板，所述横支杆设置有两个，两个所述横支杆相邻一端均固定连接有拉板，所述横支杆设置有两个，两个所述横支杆远离隔板一侧分别贯穿预警板左右两侧并延伸至预警板左右两侧外部，两个横支杆远离隔板一端与曲型板内壁活动连接，所述横支杆直径与预警孔直径相适配，所述拉板正面贯穿预警板正面并延伸至预警板正面外侧，所述拉板外侧与预警板正面活动连接。与现有技术相比，本技术提供了一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构，具备以下有益效果：1、该芯片性能测试装置，通过在底板的顶部设置了曲型板，在曲型板的内部设置了预警孔，在底板的顶部设置了弹簧管，弹簧管的内部设置了一号弹簧、粗杆和细杆，细杆外侧与粗杆内部活动连接，粗杆顶端固定连接有预警板，在预警板的内部设置了横支杆、隔板、二号弹簧、挤压板和拉板，正常的情况下，横支杆相远离的一端与曲型板内壁活动连接，当预警板顶部压力过大时，使得预警板向下运动，在下降过程中，挤压板由于二号弹簧的作用，会将挤压板向预警板左右两侧弹出，并敲击提醒板，可以提醒工作人员，防止意外的发生，达到了保护装置的效果。2、该芯片性能测试装置，通过在固定板的内部设置了螺纹杆，在固定板的顶部设置了夹板，夹板设置了两个，两个夹板相邻的一侧设置了限制板和凹槽板，在固定板的正面设置了十字板。限制板设置了两个，上方限制板的底部设置了滑杆，下方限制板的顶部设置了滑槽，滑杆位于滑槽的内部，当芯片放在凹槽板之间的时候，转动螺纹杆，使得两个固定板向中间运动将芯片固定住，达到了方便固定的效果。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术曲型板结构立体图；图3为本技术弹簧管内部结构放大图；图4为本技术预警板内部结构放大图；图5为本技术限制板结构立体图。其中：1、底板；11、曲型板；12、预警孔；13、提醒板；14、弹簧管；15、细杆；16、一号弹簧；17、粗杆；2、预警板；21、横支杆；22、隔板；23、二号弹簧；24、挤压板；25、拉板；3、固定板；31、螺纹杆；32、十字板；33、夹板；34、限制板；35、滑杆；36、凹槽板；4、测试板；41、横杆；42、伸缩气缸；43、测试头本体。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例一本实施例为一种芯片性能测试装置的实施例。请参阅图1-5，一种芯片性能测试装置，包括底板1、预警板2、固定板3和测试板4，底板1顶部与测试板4底部固定连接，固定板3底部与预警板2顶部活动连接；底板1包括曲型板11，曲型板11内部开设有预警孔12，底板1顶部固定连接有提醒板13，底板1顶部固定连接有弹簧管14，弹簧管14内顶壁固定连接有细杆15，弹簧管14内底壁固定连接有一号弹簧16，一号弹簧16顶部固定连接有粗杆17；预警板2包括横支杆21，预警板2内壁固定连接有隔板22，隔板22设置有两个，两个隔板22相远离的一侧均固定连接有二号弹簧23，二号弹簧23远离隔板22一侧固定连接有挤压板24，横支杆21设置有两个，两个横支杆21相邻一端均固定连接有拉板25；固定板3包括螺纹杆31，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片性能测试装置，包括底板（1）、预警板（2）、固定板（3）和测试板（4），其特征在于：所述底板（1）顶部与测试板（4）底部固定连接，所述固定板（3）底部与预警板（2）顶部活动连接；/n所述底板（1）包括曲型板（11），所述曲型板（11）内部开设有预警孔（12），所述底板（1）顶部固定连接有提醒板（13），所述底板（1）顶部固定连接有弹簧管（14），所述弹簧管（14）内顶壁固定连接有细杆（15），所述弹簧管（14）内底壁固定连接有一号弹簧（16），所述一号弹簧（16）顶部固定连接有粗杆（17）；/n所述预警板（2）包括横支杆（21），所述预警板（2）内壁固定连接有隔板（22），所述隔板（22）设置有两个，两个所述隔板（22）相远离的一侧均固定连接有二号弹簧（23），所述二号弹簧（23）远离隔板（22）一侧固定连接有挤压板（24），所述横支杆（21）设置有两个，两个所述横支杆（21）相邻一端均固定连接有拉板（25）；/n所述固定板（3）包括螺纹杆（31），所述固定板（3）正面活动连接有十字板（32），所述固定板（3）顶部固定连接有夹板（33），所述夹板（33）设置有两个，两个所述夹板（33）相邻一侧固定连接有限制板（34），所述限制板（34）设置有两个，顶部所述限制板（34）底部左侧固定连接有滑杆（35），两个所述夹板（33）相邻一侧固定连接有凹槽板（36）；/n所述测试板（4）包括横杆（41），所述横杆（41）外侧活动连接有伸缩气缸（42），所述伸缩气缸（42）底端固定连接有测试头本体（43）。/n...
【技术特征摘要】
1.一种芯片性能测试装置，包括底板（1）、预警板（2）、固定板（3）和测试板（4），其特征在于：所述底板（1）顶部与测试板（4）底部固定连接，所述固定板（3）底部与预警板（2）顶部活动连接；
所述底板（1）包括曲型板（11），所述曲型板（11）内部开设有预警孔（12），所述底板（1）顶部固定连接有提醒板（13），所述底板（1）顶部固定连接有弹簧管（14），所述弹簧管（14）内顶壁固定连接有细杆（15），所述弹簧管（14）内底壁固定连接有一号弹簧（16），所述一号弹簧（16）顶部固定连接有粗杆（17）；
所述预警板（2）包括横支杆（21），所述预警板（2）内壁固定连接有隔板（22），所述隔板（22）设置有两个，两个所述隔板（22）相远离的一侧均固定连接有二号弹簧（23），所述二号弹簧（23）远离隔板（22）一侧固定连接有挤压板（24），所述横支杆（21）设置有两个，两个所述横支杆（21）相邻一端均固定连接有拉板（25）；
所述固定板（3）包括螺纹杆（31），所述固定板（3）正面活动连接有十字板（32），所述固定板（3）顶部固定连接有夹板（33），所述夹板（33）设置有两个，两个所述夹板（33）相邻一侧固定连接有限制板（34），所述限制板（34）设置有两个，顶部所述限制板（34）底部左侧固定连接有滑杆（35），两个所述夹板（33）相邻一侧固定连接有凹槽板（36）；
所述测试板（4）包括横杆（41），所述横杆（41）外侧活动连接有伸缩气缸（42），所述伸缩气缸（42）底端固定连接有测试头本体（43）。
2.根据权利要求1所述的一种芯片性能测试装置，其特征在于：所述弹簧管（14）设置有多个，多个所述弹簧管（14）位于底板（1）顶部呈矩形阵列分布。
3.根据权利要求1所述的一种芯片性能测试装置，其特征在于：所述粗杆（17）顶端贯穿弹簧管（14）顶部并延伸至弹簧管（14）顶部外侧，所述粗杆（17）顶端与预警板（2）底部固定连接，所述粗杆（17）内部与细杆（15）外侧活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片性能测试装置，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘赫，史雁辉，赵璞玉，张昭伟，杜雪飞，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：新型
国别省市：黑龙江;23
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。