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本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构，测试装置包括底板、预警板、固定板和测试板，所述底板顶部与测试板底部固定连接，所述固定板底部与预警板顶部活动连接，所述底板包括曲型板，所述曲型板内部开设有预警...
该专利属于哈尔滨理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨理工大学授权不得商用。

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