【技术实现步骤摘要】
存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质
本专利技术涉及存储器测试
，具体地涉及一种存储装置掉电保护的测试方法、一种存储装置掉电保护的测试装置以及一种计算机可读存储介质。
技术介绍
非易失性存储器是芯片在实现功能时必备的物理器件，用于存储各类文件、密钥、交易日志、应用数据甚至程序代码等重要信息和资产，其所承载的数据信息的稳定性和可靠性对于整个芯片的正常使用至关重要。芯片在使用过程中，由于使用环境的复杂变化，会因为各种意外而遭遇停电、虚接等情况的发生，而此时芯片正处于运行过程中，因此会不可避免遭遇重大影响，尤其针对非易失性存储器，将会导致如数据丢失、存储器损坏等情况的发生，将会为用户的使用或存储器的寿命等造成极大的影响，因此需要建立合理有效的测试环境以对存储器掉电保护功能的实现进行评估。在现有的测试方法中，主要通过采用低间隔的掉电间隔的方法对存储器进行测试，以及通过对接收的指令进行直接处理以执行对应的测试操作。然而在实际应用过程中，一方面，随着技术的不断发展，低间隔的测试时间间隔会导致测试时间不断...
【技术保护点】
1.一种存储装置掉电保护的测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取预设测试流程和测试信息；/n基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；/n获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；/n基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种存储装置掉电保护的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取预设测试流程和测试信息；
基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；
获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；
基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设测试流程包括指令收发步骤，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：
获取所述测试信息的时长信息；
获取存储装置的设计信息；
基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段；
基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化，获得第一优化后测试流程；
将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述设计信息包括第一掉电时间间隔，所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤，所述基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段，包括：
基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间，以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间；
基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段；
基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段；
基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程，包括：
基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作；
在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下，基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化，获得第二优化后测试流程；
将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述测试信息包括掉电时刻，所述基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作，包括：
获取预设备份恢复时刻；
判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻；
在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下，确定不需要执行所述备份恢复操作。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取预设备份恢复时刻，包括：
S2110）获取第一上电延时值和预设掉电步长；
S2111）基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作；
S2112）重复执行步骤S2111），在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻；
S2113）按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整，获得调整后的预设掉电步长；
S2114）基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作；
S2115）重复执行步骤S2113）-S2114），在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下，获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻，所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻；
S2116）判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求；
S2117）在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下，将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。
7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设测试参数包括第二上电延时值，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：
基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作；
基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值；
所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：
基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值，包括：
S3120）基于所述第二上电延时值执行第一备份恢复操作；
S3121）判断是否完成所述第一备份恢复操作；
S3122）在完成所述第一备份恢复操作的情况下，按照第二预设比值对所述第二上电延时值进行调整，获得调整后的第二上电延时值；
S3123）基于所述调整后的第二上电延时值执行第二备份恢复操作；
S3124）判断是否完成所述第二备份恢复操作；
S3125）在确定完成所述第二备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3122）-S3124）；在确定未完成所述第二备份恢复操作的情况下，按照第三预设比值对所述调整后的第二上电延时值进行调整，获得再次调整后的第二上电延时值；
S3126）基于所述再次调整后的第二上电延时值执行第三备份恢复操作；
S3127）判断是否完成所述第三备份恢复操作；
S3128）在确定未完成所述第三备份恢复操作的情况下，重复执行步骤S3125）-S3127）；在确定完成所述第三备份恢复操作的情况下，将所述再次调整后的第二上电延时值作为所述最小上电延时值。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设测试参数包括预设掉电-上电时间，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：
获取预设调整系数值；
基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间；
所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：
基于所述最小掉电-上电时间执行所述优化后测试流程。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于所述预设调整系数值和所述预设掉电-上电时间确定最小掉电-上电时间，包括：
基于所述预设掉电-上电时间执行掉电-上电运行操作；
获取对所述掉电-上电运行操作的评估结果；
在所述评估结果为运行稳定的情况下，基于所述预设调整系数值对所述预设掉电-上电时间进行调整，获得调整后掉电-上电时间；
将所述调整后掉电-上电时间作为最小掉电-上电时间。
11.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数，包括：
获取预设指令操作时间，以及获取第四预设比值；
基于所述第四预设比值和所述预设指令操作时间确定最小掉电间隔时间；
所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程，还包括：
基于所述最小掉电间隔时间执行所述优化后测试流程。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述获取第四预设比值，包括：
获取预设偏差值β；
基于所述预设偏差值β确定所述第四预设比值α，其中所述第四预设比值α表征为：
α＜1/（1+β）。
13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取与所述测试信息对应的指令执行信息；
对所述指令执行信息执行缓存存储操作；
基于所述指令执行信息获取掉电测试次数；
在所述掉电测试次数达到预设次数阈值的情况下，获取对执行所述优化后测试流程的评估结果；
在所述评估结果为测试正常的情况下，提取所述指令执行信息中的所有掉电时间信息；
对所有掉电时间信息执行日志存储操作；
在所述评估结果为测试异常的情况下，对所述指令执行信息执行日志存储操作。
14.一种存储装置掉电保护的测试装置，其特征在于，所述装置包括：
技术研发人员：周斌，刘佳，王于波，庞振江，王文赫，李延，梁昭庆，
申请(专利权)人：北京智芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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