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本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于...
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