精密封装IC测试装置的微波新型主板制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了精密封装IC测试装置的微波新型主板，包括主板，所述主板的上表面固定连接有测试底座，所述测试底座的一侧固定连接有铰链，所述测试底座通过铰链活动连接有屏蔽盖，所述主板的两侧均固定连接有固定底座，所述主板的正面开设有输入口，所述输入口的一侧活动连接有挡块，所述输入口的另一侧活动连接有滑块。该精密封装IC测试装置的微波新型主板，通过测试底座和屏蔽盖的配合设置，在进行测试的时候，可以将屏蔽盖盖上，减少周围电子设备对芯片的影响，在测试的时候会更为精确，在测试的时候，可以把数据线插到输入口内，使挡块和滑块把数据线卡住，降低数据线因使用时间过长造成松动的情况出现。

【技术实现步骤摘要】
精密封装IC测试装置的微波新型主板
本技术涉及测试用主板
，具体为精密封装IC测试装置的微波新型主板。
技术介绍
任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，IC测试就是集成电路的测试，就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。现在进行测试大多是将芯片放在主板进行检测，但是现有的大多数主板并没有防护措施，可能因为外界干扰，导致芯片测试出现问题，并且主板上用于传输数据的数据线，大多没有固定，使用时间长了之后可能会松动，在检测的时候造成不必要的麻烦。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了精密封装IC测试装置的微波新型主板，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。(二)技术方案为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：精密封装IC测试装置的微波新型主板，包括主板，所述主板的上表面固定连接有测试底座，所述测试底座的一侧固定连接有铰链，所述测试底座通过铰链活动连接有屏蔽盖，所述主板的两侧均固定连接有固定底座，所述主板的正面开设有输入口，所述输入口的一侧活动连接有挡块，所述输入口的另一侧活动连接有滑块，所述输入口的内部插接有数据线，所述主板的背面固定连接有输出口。可选的，所述固定底座呈矩形阵列的形式排列在所述主板的四角，且所述固定底座的上表面开设有沉头孔。可选的，所述测试底座的一侧设置有卡扣，所述屏蔽盖的下表面开设有卡槽。可选的，所述挡块和所述滑块的背面均固定连接有弹簧，且所述弹簧的种类为压缩弹簧。可选的，所述主板的下表面固定连接有减震垫，所述减震垫的材质为硅胶材质。可选的，所述滑块和所述数据线相互卡接，所述卡扣和所述卡槽相互卡接。(三)有益效果本技术提供了精密封装IC测试装置的微波新型主板，具备以下有益效果：1、该精密封装IC测试装置的微波新型主板，通过测试底座和屏蔽盖的配合设置，在进行测试的时候，可以将屏蔽盖盖上，减少周围电子设备对芯片的影响，在测试的时候会更为精确，通过卡槽和卡扣的配合设置，可以将屏蔽盖快速的打开和闭合，提高了检测芯片的效率。2、该精密封装IC测试装置的微波新型主板，通过输入口、挡块和滑块的配合设置，在测试的时候，可以把数据线插到输入口内，以及弹簧的配合设置，可以把挡块向前推动，使挡块和滑块把数据线卡住，降低数据线因使用时间过长造成松动的情况出现，通过设置在主板上的固定底座和减震垫，在使用的时候可以对主板进行固定，减少晃动。附图说明图1为本技术正面的结构示意图；图2为本技术背面的结构示意图；图3为本技术滑块剖视的结构示意图；图4为本技术A处放大的结构示意图。图中：1、主板；2、测试底座；3、铰链；4、屏蔽盖；5、固定底座；6、输入口；7、挡块；8、滑块；9、数据线；10、输出口；11、沉头孔；12、卡扣；13、卡槽；14、弹簧；15、减震垫。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。请参阅图1至图4，本技术提供技术方案：精密封装IC测试装置的微波新型主板，包括主板1，主板1的下表面固定连接有减震垫15，减震垫15的材质为硅胶材质，主板1的上表面固定连接有测试底座2，测试底座2的一侧设置有卡扣12，屏蔽盖4的下表面开设有卡槽13，卡扣12可以和屏蔽盖4上的卡槽13卡接，将屏蔽盖4进行固定，按下卡扣12可以将卡扣12从卡槽13内取出，将屏蔽盖4取下来；测试底座2的一侧固定连接有铰链3，测试底座2通过铰链3活动连接有屏蔽盖4，主板1的两侧均固定连接有固定底座5，固定底座5呈矩形阵列的形式排列在主板1的四角，且固定底座5的上表面开设有沉头孔11，螺栓拧到沉头孔11内，可以把主板1固定在桌板上，使减震垫15和桌面接触，降低对主板1的磨损；主板1的正面开设有输入口6，输入口6的一侧活动连接有挡块7，挡块7和滑块8的背面均固定连接有弹簧14，且弹簧14的种类为压缩弹簧，输入口6的另一侧活动连接有滑块8，滑块8和数据线9相互卡接，卡扣12和卡槽13相互卡接，输入口6的内部插接有数据线9，主板1的背面固定连接有输出口10，弹簧14将挡块7和滑块8向一侧推动，并且挡块7和滑块8的一侧设置有斜角，在数据线9插入时可以把挡块7推向一侧，使数据线9顺利插入，当数据线9松动的时候，滑块8会限制数据线9向后移动。本技术中，该装置的工作步骤如下：1、使用的时候，将主板1拿出来，把螺栓插到沉头孔11中，并将主板1固定在桌面上；2、拿出需要测试的芯片，按下卡扣12，将屏蔽盖4打开，放入芯片之后再把屏蔽盖4合起来；3、把数据线9插到输入口6和输出口10内，进行测试；4、测试完毕之后，按下卡扣12将屏蔽盖4打开，取出芯片，需要取下数据线9的时候，向一侧滑动滑块8，把数据线9取出来即可。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.精密封装IC测试装置的微波新型主板，包括主板(1)，其特征在于：所述主板(1)的上表面固定连接有测试底座(2)，所述测试底座(2)的一侧固定连接有铰链(3)，所述测试底座(2)通过铰链(3)活动连接有屏蔽盖(4)，所述主板(1)的两侧均固定连接有固定底座(5)，所述主板(1)的正面开设有输入口(6)，所述输入口(6)的一侧活动连接有挡块(7)，所述输入口(6)的另一侧活动连接有滑块(8)，所述输入口(6)的内部插接有数据线(9)，所述主板(1)的背面固定连接有输出口(10)。/n

【技术特征摘要】
1.精密封装IC测试装置的微波新型主板，包括主板(1)，其特征在于：所述主板(1)的上表面固定连接有测试底座(2)，所述测试底座(2)的一侧固定连接有铰链(3)，所述测试底座(2)通过铰链(3)活动连接有屏蔽盖(4)，所述主板(1)的两侧均固定连接有固定底座(5)，所述主板(1)的正面开设有输入口(6)，所述输入口(6)的一侧活动连接有挡块(7)，所述输入口(6)的另一侧活动连接有滑块(8)，所述输入口(6)的内部插接有数据线(9)，所述主板(1)的背面固定连接有输出口(10)。


2.根据权利要求1所述的精密封装IC测试装置的微波新型主板，其特征在于：所述固定底座(5)呈矩形阵列的形式排列在所述主板(1)的四角，且所述固定底座(5)的上表面开设有沉头孔(11)。


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【专利技术属性】
技术研发人员：汪国兵，
申请(专利权)人：深圳市索智科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44