射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法技术

技术编号:29525131 阅读:16 留言:0更新日期:2021-08-03 15:11
本发明专利技术提供一种射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法,其中,射线探测基板包括:多个光电探测器和第一控制电路,多个光电探测器包括第一光电探测器和第二光电探测器,第一控制电路配置为,在曝光时长确定阶段:获取第一光电探测器产生的第一电信号,第一电信号为射线照射达到第一时长时第一光电探测器产生的电信号;获取第二光电探测器产生的第二电信号,第二电信号为射线照射多个光电探测器达到第二时长时,第二光电探测器产生的电信号;根据第一光电探测器产生的电信号与第二光电探测器产生的电信号之间的差异,确定目标曝光时长,并输出第一信号;第一信号配置为:控制射线发生器在达到目标曝光时长后停止发射射线。

【技术实现步骤摘要】
射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法
本专利技术涉及显示
,具体涉及一种射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法。
技术介绍
随着时代的进步和科学的发展,人们越来越关注健康,这也推动着医学水平的快速发展,数字影像医学,例如X射线平板探测器在医疗领域得到了越来越多的应用。目前,由于探测的目标物之间差异较大,应当根据不同情况设定不同X射线剂量,但实际工作时,医生无法针对每次拍摄对X射线的剂量进行设定,因此,往往采用最大剂量的X射线进行照射,从而获取较好成像效果。但是X射线照射对人体有辐射伤害,采用最大剂量的X射线进行照射无疑加重了这一问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种射线探测基板、射线成像设备和曝光时长确定方法。为了实现上述目的本专利技术提供一种射线探测基板,包括:多个光电探测器和第一控制电路,所述多个光电探测器中的每个均配置为:响应于接收到的射线产生电信号;所述多个光电探测器包括至少一个第一光电探测器和至少一个第二光电探测器,所述至少一个第一光电探测器和所述至少一个第二光电探测器均与所述第一控制电路连接,所述第一控制电路配置为,在曝光时长确定阶段:获取所述至少一个第一光电探测器产生的第一电信号,所述第一电信号为射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第一时长时,所述第一光电探测器产生的电信号;获取所述至少一个第二光电探测器产生的第二电信号,所述第二电信号为所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第二时长时,所述第二光电探测器产生的电信号,所述第二时长大于所述第一时长;根据所述第一电信号与所述第二电信号之间的差异,确定出每个所述光电探测器产生的电信号在单位时间内的增量,以及根据目标信号量和所述增量,确定出所述射线发生器的目标曝光时长;根据所述目标曝光时长,向所述射线发生器发送第一信号;所述第一信号用于控制所述射线发生器在达到所述目标曝光时长后停止发射射线。可选地,所述多个光电探测器还包括至少一个第三光电探测器,所述射线探测基板还包括第二控制电路,所述至少一个第三光电探测器与所述第二控制电路连接;所述第二控制电路配置为:在图像检测阶段,获取所述至少一个第三光电探测器产生的电信号,并根据获取到的电信号,确定出位于所述射线发生器和所述射线探测基板之间的待检测物的图像。可选地,所述第一控制电路还配置为,在图像检测阶段,获取所述多个光电探测器中的至少一部分产生的电信号,并根据获取到的电信号,确定出位于所述射线发生器和所述射线探测基板之间的待检测物的图像。可选地,所述多个光电探测器还包括至少一个第三光电探测器,所述第三光电探测器与所述第一控制电路连接,所述第一控制电路还配置为:在图像检测阶段,获取所述至少一个第三光电探测器、所述至少一个第一光电探测器和所述至少一个第二光电探测器产生的电信号,并根据获取到的电信号确定出位于所述射线发生器和所述射线探测基板之间的待检测物的图像。可选地,所述多个光电探测器中的每个均包括选通晶体管和感光元件,所述第一控制电路包括第一驱动子电路和第一获取子电路;所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的选通晶体管的栅极与所述第一驱动子电路连接,所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的选通晶体管的第一极与所述第一获取子电路连接,所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的选通晶体管的第二极与所述感光元件连接;所述第一驱动子电路配置为:当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第一时长时,向所述至少一个第一光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供有效电平信号,当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第三时长时,向所述至少一个第一光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供无效电平信号;当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第二时长时,向所述至少一个第二光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供有效电平信号,当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第四时长时,向所述至少一个第二光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供无效电平信号;其中,所述第一时长与所述第三时长之和小于或等于所述第二时长;所述第一获取子电路配置为:根据所述第一电信号与所述第二电信号之间的差异,确定出每个所述光电探测器产生的电信号在单位时间内的增量。可选地,根据以下公式确定出每个所述光电探测器所产生的电信号在单位时间内的增量ΔG:其中,所述G2表示所述第二电信号,所述G1表示所述第一电信号,所述T2表示所述第二时长与所述第四时长之和,所述T1表示所述第一时长与所述第三时长之和。可选地,所述射线包括X射线,所述感光元件包括设置在基底上的光敏二极管和设置在光敏二极管远离所述基底一侧的光转换层,所述光敏二极管的一极与所述选通晶体管的第二极连接,所述光敏二极管的另一极与偏置电压端连接;所述光转换层配置为,将照射至其上的X射线转换为可见光,并使所述可见光照射至所述光敏二极管上。可选地,所述射线探测基板划分为至少一个第一探测区和位于所述第一探测区之外的第二探测区,每个所述第一探测区中均设置有至少一个所述第一光电探测器和至少一个所述第二光电探测器,每个所述第二探测区中设置有至少一个所述第三光电探测器。可选地,所述第一探测区的数量为多个,所述第二探测区将多个所述第一探测区彼此间隔开。可选地,所述第二探测区包括边缘探测区和中心探测区,所述边缘探测区和所述中心探测区均设置有所述第三光电探测器,所述第一探测区和所述中心探测区均被所述边缘探测区环绕。可选地,每个所述第一探测区中设置有多个第一光电探测器和多个第二光电探测器,每个所述第一探测区中,多个第一光电探测器呈第一阵列,多个第二光电探测器呈第二阵列,所述射线探测基板还包括多行第一控制线和多行第二控制线;同一行所述第一光电探测器通过同一条所述第一控制线与所述第一控制电路连接,不同行所述第一光电探测器连接不同的第一控制线;同一行所述第二光电探测器通过同一条所述第二控制线与所述第一控制电路连接;不同行所述第二光电探测器连接不同的第二控制线。可选地,所述第一阵列位于所述第二阵列的一侧。本专利技术还提供一种射线成像设备,包括射线发生器和上述的射线探测基板。本专利技术还提供一种曝光时长确定方法,应用于上述的射线探测基板,所述曝光时长确定方法包括:在曝光时长确定阶段:获取所述至少一个第一光电探测器产生的第一电信号,所述第一电信号为射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第一时长时所述第一光电探测器产生的电信号,;获取所述至少一个第二光电探测器产生的第二电信号,所述第二电信号为所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第二时长时所述第二光电探测器产生的电信号,所述第二时长大于所述第一时长;根据所述第一电信号与所述第二电信号之间的差异,确定出每个所述光电探测器产生的电信号在单位时间内的增量,以及根据目标信号量和所述增量,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射线探测基板,其特征在于,包括:多个光电探测器和第一控制电路,所述多个光电探测器中的每个均配置为:响应于接收到的射线产生电信号;所述多个光电探测器包括至少一个第一光电探测器和至少一个第二光电探测器,所述至少一个第一光电探测器和所述至少一个第二光电探测器均与所述第一控制电路连接,所述第一控制电路配置为,在曝光时长确定阶段:/n获取所述至少一个第一光电探测器产生的第一电信号,所述第一电信号为射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第一时长时,所述第一光电探测器产生的电信号;获取所述至少一个第二光电探测器产生的第二电信号,所述第二电信号为所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第二时长时,所述第二光电探测器产生的电信号,所述第二时长大于所述第一时长;/n根据所述第一电信号与所述第二电信号之间的差异,确定出每个所述光电探测器产生的电信号在单位时间内的增量,以及根据目标信号量和所述增量,确定出所述射线发生器的目标曝光时长;/n根据所述目标曝光时长,向所述射线发生器发送第一信号;所述第一信号用于控制所述射线发生器在达到所述目标曝光时长后停止发射射线。/n

【技术特征摘要】
1.一种射线探测基板,其特征在于,包括:多个光电探测器和第一控制电路,所述多个光电探测器中的每个均配置为:响应于接收到的射线产生电信号;所述多个光电探测器包括至少一个第一光电探测器和至少一个第二光电探测器,所述至少一个第一光电探测器和所述至少一个第二光电探测器均与所述第一控制电路连接,所述第一控制电路配置为,在曝光时长确定阶段:
获取所述至少一个第一光电探测器产生的第一电信号,所述第一电信号为射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第一时长时,所述第一光电探测器产生的电信号;获取所述至少一个第二光电探测器产生的第二电信号,所述第二电信号为所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第二时长时,所述第二光电探测器产生的电信号,所述第二时长大于所述第一时长;
根据所述第一电信号与所述第二电信号之间的差异,确定出每个所述光电探测器产生的电信号在单位时间内的增量,以及根据目标信号量和所述增量,确定出所述射线发生器的目标曝光时长;
根据所述目标曝光时长,向所述射线发生器发送第一信号;所述第一信号用于控制所述射线发生器在达到所述目标曝光时长后停止发射射线。


2.根据权利要求1所述的射线探测基板,其特征在于,所述多个光电探测器还包括至少一个第三光电探测器,所述射线探测基板还包括第二控制电路,所述至少一个第三光电探测器与所述第二控制电路连接;所述第二控制电路配置为:
在图像检测阶段,获取所述至少一个第三光电探测器产生的电信号,并根据获取到的电信号,确定出位于所述射线发生器和所述射线探测基板之间的待检测物的图像。


3.根据权利要求1所述的射线探测基板,其特征在于,所述第一控制电路还配置为,在图像检测阶段,获取所述多个光电探测器中的至少一部分产生的电信号,并根据获取到的电信号,确定出位于所述射线发生器和所述射线探测基板之间的待检测物的图像。


4.根据权利要求3所述的射线探测基板,其特征在于,所述多个光电探测器还包括至少一个第三光电探测器,所述第三光电探测器与所述第一控制电路连接,所述第一控制电路还配置为:
在图像检测阶段,获取所述至少一个第三光电探测器、所述至少一个第一光电探测器和所述至少一个第二光电探测器产生的电信号,并根据获取到的电信号确定出位于所述射线发生器和所述射线探测基板之间的待检测物的图像。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的射线探测基板,其特征在于,所述多个光电探测器中的每个均包括选通晶体管和感光元件,所述第一控制电路包括第一驱动子电路和第一获取子电路;
所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的选通晶体管的栅极与所述第一驱动子电路连接,所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的选通晶体管的第一极与所述第一获取子电路连接,所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的选通晶体管的第二极与所述感光元件连接;
所述第一驱动子电路配置为:当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第一时长时,向所述至少一个第一光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供有效电平信号,当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第三时长时,向所述至少一个第一光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供无效电平信号;当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第二时长时,向所述至少一个第二光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供有效电平信号,当所述射线发生器发出的射线照射所述多个光电探测器达到第四时长时,向所述至少一个第二光电探测器的所述选通晶体管的栅极提供无效电平信号;其中,所述第一时长与所述第三时长之和小于或等于所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员:庞凤春侯学成
申请(专利权)人:北京京东方传感技术有限公司京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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