【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电检测，特别涉及一种探测基板及平板探测器。
技术介绍
1、基于薄膜晶体管(thin film transistor，tft)技术制作的x射线平板探测器(flat x-ray panel detector，fpxd)是数字影像技术中至关重要的元件，由于其具有成像速度快，良好的空间及密度分辨率、高信噪比、直接数字输出等优点，广泛应用于医学影像(如x光胸透)、工业检测(如金属探伤)、安保检测、航空运输等领域。
2、x射线平板探测器主要包括薄膜晶体管与光电转换器件。在x射线照射下，间接转换型x射线平板探测器的闪烁体层或荧光体层将x射线光子转换为可见光，然后在光电转换器件的作用下将可见光转换为电信号，最终通过薄膜晶体管读取电信号并将电信号输出得到显示图像。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种探测基板及平板探测器，具体方案如下：
2、本专利技术实施例提供了一种探测基板，包括衬底基板以及设置在所述衬底基板上的多个探测像素单元；每一所述探测像素单元包括：设...
【技术保护点】
1.一种探测基板，其特征在于，包括衬底基板以及设置在所述衬底基板上的多个探测像素单元；每一所述探测像素单元包括：设置在所述衬底基板一侧的薄膜晶体管，设置在所述薄膜晶体管背离所述衬底基板一侧的光电转换器件，以及设置在所述光电转换器件背离所述衬底基板一侧的偏压线；其中，
2.如权利要求1所述的探测基板，其特征在于，所述偏压线具有镂空结构，所述镂空结构在所述衬底基板上的正投影覆盖所述光电转换器件的中心区域在所述衬底基板上的正投影。
3.如权利要求1所述的探测基板，其特征在于，所述偏压线在所述衬底基板上的正投影还覆盖所述光电转换器件的中心区域在所述衬底
【技术特征摘要】
1.一种探测基板，其特征在于，包括衬底基板以及设置在所述衬底基板上的多个探测像素单元；每一所述探测像素单元包括：设置在所述衬底基板一侧的薄膜晶体管，设置在所述薄膜晶体管背离所述衬底基板一侧的光电转换器件，以及设置在所述光电转换器件背离所述衬底基板一侧的偏压线；其中，
2.如权利要求1所述的探测基板，其特征在于，所述偏压线具有镂空结构，所述镂空结构在所述衬底基板上的正投影覆盖所述光电转换器件的中心区域在所述衬底基板上的正投影。
3.如权利要求1所述的探测基板，其特征在于，所述偏压线在所述衬底基板上的正投影还覆盖所述光电转换器件的中心区域在所述衬底基板上的正投影。
4.如权利要求1所述的探测基板，其特征在于，所述光电转换器件在所述衬底基板上的正投影覆盖所述薄膜晶体管在所述衬底基板上的正投影。
5.如权利要求1-4任一项所述的探测基板，其特征在于，每一所述探测像素单元还包括位于所述偏压线背离所述衬底基板一侧且与所述偏压线直接接触电连接的辅助电极，所述辅助电极在所述衬底基板上的正投影与所述光电转换器件在所述衬底基板上的正投影不交叠。
6.如权利要求5所述的探测基板，其特征在于，所述偏压线在所述衬底基板上的正投影还覆盖所述光电转换器件的外围区域在所述衬底基板上的正投影，所述外围区域为包围所述光电转换器件的边缘区域的区域，所述辅助电极在所述衬底基板上的正投影与所述外围区域在所述衬底基板上的正投影相交叠。
7.如权利要求6所述的探测基板，其特征在于，所述探测基板还包括与所述薄膜晶体管电连接的数据...
【专利技术属性】
技术研发人员：李金钰，侯学成，张冠，庞凤春，丁志，
申请(专利权)人：北京京东方传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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