在平面纺织物中评估瑕疵的方法和装置制造方法及图纸

一种方法，其用于评估平面纺织物中的瑕疵，其特征在于：　　　　选择两个参数用于评估；形成一个分级矩阵（１，２６），其中参数值确定级边界并且级边界（４－１９）将分级矩阵分割成块；该分级矩阵进一步如下分割成至少两个区域（１７，１８；２９，３０），对于无瑕疵平面物品的像素确定所述一个参数的平均值并且根据相对于平均值的参数偏差最大的像素组确定两个区域之间的边界；沿着分级边界至少分割成两个区域；从所显示的像素（３７，３８）中得到平面物品中的值，并且将根据两个被选择的参数将值排列在分级矩阵中，并且排列在分级平面物品的所述一个区域中的像素表示在平面物品中可能的瑕疵。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种评估平面纺织物中的瑕疵的方法和装置。WO00/06823公开了一种方法和装置，其允许对平面纺织物中的瑕疵进行可重复并且明确的评估。由此产生一种平面物品图，其中在图中显示了至少两个平面物品中的瑕疵图示，图示上瑕疵的长度和对比度或强度是不同的。根据这些图示，可以通过可视印象确定平面物品中允许的瑕疵和不允许的瑕疵。为此，产生不同压印(Ausprgung)的瑕疵图示的表或矩阵形式。在此，使用无暇疵平面物品的图作为背景。为了区分允许的瑕疵和不允许的瑕疵，嵌入图中的灵敏度曲线能够作为附加的辅助手段。当人们考虑所有能够被分类的可能的瑕疵时，这种方法或者装置从技术上看能导致对所得到的数据的不必要的流(Flut)。这阻碍了瑕疵的快速判断，并且使组成该装置的元件不必要地设计得很大。因此，本专利技术的一个目的是，提供一种评估平面物品中瑕疵的方法和装置，其允许快速并一致地评估在各种平面物品中的瑕疵，从而允许各种平面物品互相之间进行品质的比较。这通过以下来实现，根据两个被选择的参数，形成用于瑕疵的分级矩阵，其中级边界将该级矩阵分成块，并且两个参数的值确定分级边界，参数例如为瑕疵的扩展和强度。此外，分级矩阵被分成至少两个区域，例如用于允许的和不允许的瑕疵的区域。在平面物品中的瑕疵应该根据公知的方法获得，从而，应当确定两个前述参数的值。该获得的瑕疵相应于测得的参数值被分配给在分级矩阵中的块或级。因此，特别建议的是，选择分级图或分级矩阵，其中像素或者通过像素显示的平面物品的瑕疵根据它们的强度和扩展能够被排列或者分类。由此，强度值沿着在与本平面纺织物无关的区域中的轴(auftragen)，并且该区域能够适用于尽可能的所有可能的平面物品。能够可选择的设定该轴的零点或者该区域的下限，使在平面物品很均匀时成像时的不均匀性不能作为瑕疵。在零点和取决于所关心的待检查的平面纺织物的上限之间应该考虑，例如在一织物情况下属于通常的织物平面物品的像素。在该边界上具有强度值的事件或者被计数，或者从可以预先确定的强度开始被作为不能接收的瑕疵。没有达到边界的像素不再被处理，从而不给系统产生负担。进行这种边界的计算，使在一学习步骤中亮的像素和暗的像素分开，并且确切地说从对于暗的平面物品中由最亮像素的组和对于亮的平面物品中由最暗像素的组计算，或者从在相同区域中最亮和最暗像素中计算，由于，例如织物总具有50％灰像素。通过本专利技术实现的优点在于，能够与特征无关地评估平面纺织物中的瑕疵，其能够随平面物品的变化而变化，并且因此通常使评估复杂化或者歪曲。因此，根据预定参数统计所有瑕疵。统计非干扰瑕疵被自动的与当前的平面纺织物相适应。此外，它提供了根据专利技术的方法，能够自动评估被检查的平面物品，并且不需要人的干预。下面通过例子并参考附图对本专利技术进行详细说明。其中附图说明图1示出了一分级矩阵；图2示意的示出了具有瑕疵的一平面纺织物；图3示出了另一个分级矩阵；图4是一精细织物的例子；图5是一粗糙织物的例子；图6是平面物品的简化片断；图7示意的示出了灰度或/和彩色值；图8是辅助函数的三维表示。图1显示了对于平面物品两个参数的分级矩阵1的第一个实施例，其中数值沿着轴2和3标出。这些参数例如是平面纺织物中瑕疵的长度和强度。长度的数值例如位于10-1和104mm之间。瑕疵强度的数值位于例如0或者X％和100％之间。通过形成分级边界的垂直线4到8以及水平线9到15分级矩阵1被划分为块或级。示出的相对较粗的台阶线16将分级矩阵1继续地划分为一个下区域17和一个上区域18。在分级矩阵中还记录并示意的显示了单个的瑕疵19到23，因此其在其所属的有关级中显示了瑕疵。阶梯线16示出了例如对于存在允许的瑕疵的区域17的上边界。图2显示了平面纺织物的一个例子，例如具有瑕疵的织物24。这里示意的标出的瑕疵同样地被记录在分级矩阵1的级中，并且在那里示出且有附图标记19-23。由于这里涉及到织物，因此考虑在经线方向或者在纬线方向的大多数瑕疵是明显的。因此，它们这里是彼此大致成直角的。另一个瑕疵25在这是例如相同的多个并排放置的经线或者是不希望出现的织物中的夹杂物。因此它是相对较宽的。但是在一种织物的情况下要考虑，最常见的瑕疵具有这里未示出的彼此不同的方向。这根据于所选择的织物结合方式或者构造。在所谓的“非织造”情况下，瑕疵主要任意定向。图3显示了分级矩阵26的另一个例子，其块或者级27能够具有不相等的大小或者扩展。台阶形线28将分级矩阵同样的分割成下区域29和上区域30。这里下区域29明显大于图1中的下区域，这归因于较高位置的台阶形线28。这意味着，为平面物品提供一分级矩阵26，该平面物品例如由更粗的线构成，并且可能有附加的线之间的窄于适合于该平面物品的结合，为此给出分级矩阵1。因此与图1相比在台阶形线28下方排列有具有更高强度值的事件，因为这些在粗糙构造的平面物品中的事件不被视为瑕疵。图4显示了精细平面物品的例子，而图5显示了比较粗糙的平面物品的一个例子。在两个图中都引入了大体相同的瑕疵。两个图的比较显示，在图4中的瑕疵比图5中的更明显，并且人们在图5中完全不能识别出人们在图4中能够直接发现的一些瑕疵。这特别适用于位于左侧半图的瑕疵。图6显示了具有所谓的照相机行32的平面物品局部图31。照相机行(Kamerazeile)32相当于扫过该平面物品的照相机所记录的那一部分平面物品。照相机行32包括许多行33-36，其每一行由一列排列成行的如像素37，38的像素，像素在这里被放大并示意的示出。照相机行32是平面物品局部图的一个电子图像，其中该局部图被刚好容易的分成具有属于灰或彩色值的像素。图7显示了在处理中一个步骤的示意图，其能够从所捕获的照相机行32开始进行。对于每个照相机行32，根据强度或亮度应该有序的标出获得的像素37，38等的灰或彩色值。这提供了具有水平轴39的图，沿该轴提供每个获得的像素的位置，以及垂直轴40用于像素强度或亮度值。这些像素是根据它们的强度或亮度或者对于强度或亮度值的大小有序记录的。因此最亮或者最弱色彩的像素在左侧，而最暗或者最强色彩的像素在右侧。中间值48由虚线表示。图8显示了一种方法的图示，利用该方法由可测量的量，如瑕疵的宽度和对比度，可确定用于瑕疵视觉上可观察的强度的尺度。因此图8在三维空间中显示了一圆锥表面42，该三维空间通过水平轴43，44和垂直轴45示出。沿轴43对比度的值以百分比表示，沿轴44瑕疵的宽度值以毫米为表示，并且沿轴45瑕疵强度的值同样以百分比表示。根据瑕疵的测量的宽度和瑕疵的确定的对比度，人们能够通过该图，如后面也会解释的，确定瑕疵的强度。强度是一种度量，该度量是瑕疵在观察的平面织物方面引起观察者的注意的一种度量。具有较高强度的瑕疵比具有较小强度的瑕疵对于观察者造成干扰。人们较快地识别高强度瑕疵，并且更强的减弱平面物品的值。在这里提到强度，因为强度可以概括对比度的效果和瑕疵的宽度。因此可更好的比较宽度不同且具有不同对比度级的瑕疵。由此，还能产生大量数据压缩。本专利技术的原理能够分两个部分进行解释，也就是，第一，形成适当的分级矩阵，以及第二，借助分级矩阵对在平面物品中获得的瑕疵进行分级。首先，应该根据图1和3说明分级矩阵或者分级图的形成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：R·罗伊恩伯格，
申请(专利权)人：乌斯特技术股份公司，
类型：发明
国别省市：